存储芯片随机磨损测试方法、装置及其存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种存储芯片随机磨损测试方法、装置及其存储介质，所述方法包括以下步骤：读取存储芯片的标识符，并根据标识符分配存储芯片的测试存储块；按照不同的磨损等级对测试存储块进行磨损测试，得到磨损存储块；读取磨损存储块的磨损参数，其中，磨损参数包括磨损存储块的磨损等级和擦除次数；根据磨损参数对磨损存储块进行数据保持测试，得到存储芯片的性能结果。通过根据标识符分配存储芯片的测试存储块，按照不同的磨损等级对测试存储块进行磨损测试，能快速地得到磨损等级确定的磨损存储块，并精准地得到存储芯片的性能结果，提高存储芯片的测试准确性。提高存储芯片的测试准确性。提高存储芯片的测试准确性。

【技术实现步骤摘要】
存储芯片随机磨损测试方法、装置及其存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，尤其是一种存储芯片随机磨损测试方法、装置及其存储介质。

技术介绍

[0002]在存储芯片的数据保持性能测试过程中，为了保证测试的准确性，需要使芯片所有区域都达到指定的寿命前期、中期或后期的磨损程度。由于这个过程耗时较长，影响了存储芯片的测试效率。为了缩短测试时间，每颗芯片的每种磨损等级所选的区域，往往都是固定的、相同的一小块区域。但是，由于存储芯片不同区域数据保持性能不一致，只选取一小块区域进行测试，可能存在偶然性，不能完全反映出存储芯片的真实性能，也无法保证存储芯片的测试准确性。

技术实现思路

[0003]为解决上述问题，本专利技术的目的在于提供一种存储芯片随机磨损测试方法、装置及其存储介质，通过根据标识符分配存储芯片的测试存储块，按照不同的磨损等级对测试存储块进行磨损测试，能快速地得到磨损等级确定的磨损存储块，并精准地得到存储芯片的性能结果，提高存储芯片的测试准确性。
[0004]本专利技术解决其问题所采用的技术方案是：
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储芯片随机磨损测试方法，其特征在于，包括以下步骤：读取存储芯片的标识符，并根据所述标识符分配所述存储芯片的测试存储块；按照不同的磨损等级对所述测试存储块进行磨损测试，得到磨损存储块；读取所述磨损存储块的磨损参数，其中，所述磨损参数包括所述磨损存储块的磨损等级和擦除次数；根据所述磨损参数对所述磨损存储块进行数据保持测试，得到所述存储芯片的性能结果。2.根据权利要求1所述的一种存储芯片随机磨损测试方法，其特征在于，所述读取存储芯片的标识符，并根据所述标识符分配所述存储芯片的测试存储块，包括：读取所述存储芯片的标识符；将所述存储芯片的标识符输入随机函数中，得到随机生成的所述存储芯片的存储块的序号；根据所述存储块的序号，得到所述存储芯片的测试存储块。3.根据权利要求2所述的一种存储芯片随机磨损测试方法，其特征在于，所述根据所述存储块的序号，得到所述存储芯片的测试存储块，包括：根据所述存储块的序号，得到所述测试存储块的起始序号；根据读取数据的大小和所述测试存储块的起始序号，得到所述测试存储块的终止序号。4.根据权利要求3所述的一种存储芯片随机磨损测试方法，其特征在于，所述按照不同的磨损等级对所述测试存储块进行磨损测试，得到磨损存储块，包括：将所述磨损等级按照所述测试存储块的起始序号进行分配；按照已分配的所述磨损等级，对所述测试存储块进行磨损测试。5.根据权利要求4所述的一种存储芯片随机磨损测试方法，其特征在于，所述按照已分配的所述磨损等级，对所述测试存储块进行磨损测试，包括：获取所述磨损等级对应的数据擦除次数；根据所述数据擦除次数，对所述测试存储块进行数据擦除...

【专利技术属性】
技术研发人员：区锦宏，贺乐，赖鼐，龚晖，
申请(专利权)人：珠海妙存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：