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本发明公开了一种存储芯片随机磨损测试方法、装置及其存储介质，所述方法包括以下步骤：读取存储芯片的标识符，并根据标识符分配存储芯片的测试存储块；按照不同的磨损等级对测试存储块进行磨损测试，得到磨损存储块；读取磨损存储块的磨损参数，其中，磨损参...
该专利属于珠海妙存科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海妙存科技有限公司授权不得商用。

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