本发明公开了一种扣合式老化座，包括扣板、底座、导电卡合件和与所述底座转动连接的压板，所述扣板转动连接于所述压板的一端，所述底座上设置有卡合槽和用于安装待测芯片的安装槽，所述安装槽与所述卡合槽连通，所述导电卡合件安装在所述卡合槽内，所述导...

本发明公开了一种晶体管测试装置，包括箱体和与所述箱体连接的多个测试组件，所述箱体包括集分水器、控制柜和多个驱动柜，所述驱动柜包括驱动板，所述驱动板包括多个信号接口，所述驱动板与所述控制柜电性连接，所述测试组件包括水冷板、隔板、水冷柜和多...

本发明公开了一种射频测试车，包括车架和多层设置在所述车架上的测试层，所述测试层包括用于输出各种射频信号的信号源、可调功率分配器、测试台、衰减器和检波器，所述信号源与所述可调功率分配器信号连接，所述可调功率分配器与所述测试台上的被测微波晶...

本发明公开了一种温控测试装置，包括相互连接的老化箱、控制箱和驱动箱，老化箱包括老化架和设置在老化架上的老化板，驱动箱包括驱动架和设置在驱动架上的驱动板，老化板与驱动板电性连接，控制箱包括控制器，驱动板与控制器电性连接，老化箱还包括多个电...

本发明公开了一种带有小推车的测试箱，包括小推车和测试箱，所述测试箱包括控制箱、烘箱和与烘箱固定连接的驱动箱，烘箱和所述驱动箱均固定在所述控制箱的一侧，控制箱包括控制器，烘箱包括光滑的空腔和设置在空腔内的老化架，驱动箱包括驱动架，老化架包...

本发明公开了一种

本发明公开了一种晶体管老化测试箱，包括机架和设置在所述机架上的控制组件、用于调节测试信号的插接面板、电源组件和设置在所述机架外部的测试组件，所述插接面板、所述测试组件和所述电源组件均与所述控制组件电性连接，所述测试组件包括多个支撑台和设...

本发明公开了一种控制调压电源输出电压的电路及其方法，包括中央处理器、多个移位寄存器、多个MOS管输出单元和多个稳压元件，多个移位寄存器相互并联连接，多个移位寄存器均与中央处理器信号连接，多个MOS管输出单元相互并联连接，MOS管输出单元...

本发明公开了一种晶体管测试仪，包括机柜、操作台、烘箱、老化架、驱动架和工控机，操作台设置在机柜的上端上，烘箱、驱动架和工控机均设置在机柜内，烘箱与机柜滑动连接，老化架设置在所述烘箱内，老化架与烘箱滑动连接；老化架包括一个老化板、两个导轨...

本发明公开了一种多模式老化测试箱，包括箱体及设置在所述箱体内的老化组件、电源、驱动组件、控制组件和多个电风门组件，老化组件与所述驱动组件电性连接，电源固定在所述老化组件的上端；电风门组件包括通风箱和电推杆，风机板设置在所述通风体的进风口...

本发明公开了一种半导体安全测试柜，包括柜体及设置在柜体内的控制单元、驱动单元和烘箱，烘箱通过驱动单元与控制单元电性连接；驱动单元包括驱动板架、保险丝架和第一连接板，驱动板架包括驱动板和两个第一侧框，两个第一侧框设置在第一连接板的上端，驱...

本发明公开了一种电容高温测试装置，包括机架、烘箱、驱动组件和控制组件，所述机架包括相互连通的第一框架、第二框架和第三框架，所述控制组件设置在所述第一框架内，所述驱动组件设置在所述第二框架内，所述烘箱设置在所述第三框架内，所述控制组件与所...

本发明公开了一种微波管测试装置，包括柜体、信号源、多个测试组件和一个具有检波作用的控制组件，控制组件和多个测试组件均设置在柜体内，信号源设置在柜体上，多个测试组件均与一个信号源电性连接，测试组件包括驱动箱和设置在驱动箱一侧的多个温控单元...

本发明公开了一种高压测试电容装置，包括底柜、控制组件、测试组件和驱动组件，测试组件包括老化箱、用于输出高电压的集成电源、老化架和与老化架滑动连接的多个老化盒，驱动组件包括驱动箱、驱动架和与驱动架滑动连接的多个驱动盒，控制组件、老化箱和驱...

本发明公开了一种交流转直流电源，包括盒体和设置在所述盒体内的多个电源模组，电源模组包括交流转直流板和设置在交流转直流板上的主控板；交流转直流板包括整流桥、线性稳压电路和buck降压电路，buck降压电路包括N型MOS管Q1、N型MOS管...

本发明公开了一种电源自动测试柜，包括机柜以及设置在机柜内的可编程直流负载、电源分析仪、数字万用表、电阻控制箱、工控机、电源控制器和可编程电源，可编程直流负载、电阻控制箱、数字万用表和可编程电源均与工控机电性连接，可编程直流负载、电阻控制...

本发明公开了一种易散热烘箱，包括箱体和设置在所述箱体内的老化架和一个贯流风机，所述贯流风机包括叶轮和所述叶轮相对设置的出风口，所述叶轮与所述老化架平行，所述老化架包括多个横板、侧板和用于装载老化板的载物框，多个横板相互平行固定在所述侧板...

本发明公开了一种老化测试结构，其包括驱动组件、老化组件和连接单元，所述驱动组件包括驱动板架和与所述驱动板架水平滑动连接的多个驱动板，所述老化组件包括老化板架和与所述老化板架水平滑动连接的多个老化板，所述驱动板通过所述连接单元与所述老化板...

本发明公开了一种LED灯板的测试装置，包括控制单元和测试单元，所述控制单元包括控制箱和设置在所述控制箱内的用于产生测试信号的驱动柜，所述测试单元包括烘箱和设置在所述烘箱内的测试组件，所述测试组件与所述驱动柜信号连接；所述测试组件包括多个...

本发明公开了一种电源自动测试装置，包括机柜和设置在机柜上的电子负载、负载控制单元、高速测量单元、主控机箱，电子负载通过负载控制单元与高速测量单元电性连接，高速测量单元与主控机箱电性连接；高速测量单元包括微控制器MCU、数模转化器DAC和...