本发明专利技术公开了一种高压测试电容装置，包括底柜、控制组件、测试组件和驱动组件，测试组件包括老化箱、用于输出高电压的集成电源、老化架和与老化架滑动连接的多个老化盒，驱动组件包括驱动箱、驱动架和与驱动架滑动连接的多个驱动盒，控制组件、老化箱和驱动箱均分别设置在底柜的上端，集成电源设置在底柜内，老化盒包括多个用于安装待测电容的测试件，测试件包括装载有油的绝缘容器和用于施加高压的放电器，放电器插入绝缘容器内，所述驱动盒内设置有驱动板，放电器与集成电源电性连接，驱动板分别与集成电源和控制组件电性连接。其能测试电容的耐高压性能，且安全性高。且安全性高。且安全性高。
【技术实现步骤摘要】
一种高压测试电容装置
[0001]本专利技术涉及电子元器件测试领域，尤其涉及一种高压测试电容装置。
技术介绍
[0002]一般电容都容易阻断直流电，但随着直流电的电压升高，电容会陆续被击穿，尤其是一些品质不好地电容更容易被击穿，所以对电容的耐电压测试是很必要的工艺。
[0003]而现有的高电压测试电容的装置，由于高电压比较危险，测试电压都不高，而不能测试电容的耐高电压性能。
[0004]也有少数能高压测试电容的装置，但安全性又不高。
技术实现思路
[0005]为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种高压测试电容装置，其能测试电容的耐高压性能，且安全性高。
[0006]本专利技术的目的采用以下技术方案实现：一种高压测试电容装置，包括底柜、控制组件、测试组件和驱动组件，所述测试组件包括老化箱、用于输出高电压的集成电源、老化架和与所述老化架滑动连接的多个老化盒，所述驱动组件包括驱动箱、驱动架和与所述驱动架滑动连接的多个驱动盒，所述控制组件、所述老化箱和所述驱动箱均分别设置在所述底柜的上端，所述集成电源设置在所述底柜内，所述老化盒包括多个用于安装待测电容的测试件，所述测试件包括装载有油的绝缘容器和用于施加高压的放电器，所述放电器插入所述绝缘容器内，所述驱动盒内设置有驱动板，所述放电器与所述集成电源电性连接，所述驱动板分别与所述集成电源和所述控制组件电性连接。
[0007]优选的，所述放电器有两个，一个放电器与待测电容的正极相连，另一个放电器与待测电容的负极相连，所述绝缘容器包括容壁和用于封堵所述绝缘容器的转盘，所述转盘上设置有凸起，所述容壁上设置有与所述凸起相对应的凹口，所述容壁的上端设置有利于所述转盘转动是弧形口，所述放电器的上端与所述转盘固定连接。
[0008]优选的，所述老化盒还包括老化底板、多个第一侧板和第一盖板，多个第一侧板首尾相连且分别固定在所述老化底板的四周上，所述第一盖板固定在多个第一侧板的上端，所述容壁固定在所述第一侧板上。
[0009]优选的，所述老化架包括第一侧框、多个绝缘隔板和多个绝缘挡板，多个绝缘隔板分别设置在所述第一侧框的上下端，所述绝缘挡板固定在所述第一侧框的两侧上，所述老化盒通过所述老化底板与所述第一侧框滑动连接。
[0010]优选的，所述放电器包括绝缘筒和与所述绝缘筒转动连接的导电件，所述导电件的下端设置有放电端，所述放电器通过所述放电端与待测电容电性连接。
[0011]优选的，所述放电端与待测电容的接触处设置有多个弹性片，该弹性片延伸至所述绝缘筒内。
[0012]优选的，所述驱动盒还包括驱动底板、转接板、第二盖板和多个第二侧板，多个第二侧板首尾相连并分别固定在所述驱动底板的四周上，所述第二盖板固定在所述第二侧板的上端，所述转接板固定在所述第二侧板的侧边上，所述驱动板设置在所述驱动盒内，所述驱动板通过所述转接板与所述集成电源电性连接。
[0013]优选的，所述驱动架包括第二侧框，所述驱动盒通过所述驱动底板与所述第二侧框滑动连接，所述驱动盒与所述老化盒之间设置有屏蔽板。
[0014]优选的，所述底柜内设置有集成电源和绝缘套线，所述集成电源通过所述绝缘套线分别与所述控制组件、所述测试组件和所述驱动组件电性连接。
[0015]优选的，所述控制组件包括控制箱、工控机、显示屏和按键板，所述工控机设置在所述控制箱内，所述显示屏和所述按键板分别固定在所述控制箱的侧壁上，所述显示屏和所述按键板分别与所述工控机电性连接，所述驱动板与所述工控机电性连接。
[0016]相比现有技术，本专利技术的有益效果在于：本申请公开的高压测试电容装置，其包括老化箱和测试件，该老化箱内充有不活跃的氮气，在高电压下不易放电、击穿和高温氧化，利于高电压测试。所述测试件包括绝缘容器和设置在所述绝缘容器的放电器，该绝缘容器内装载有油，油可以绝缘防止所述放电器释放的高压击穿测试件，也能起降温的作用，而可以对待测电容进行耐高压测试。
[0017]另外，所述测试件设置在所述老化盒上，所述驱动板设置在所述驱动盒内，所述集成电源设置在所述底柜内，可以防止高压漏电烧坏驱动盒，且高压测试在所述绝缘容器内进行，进一步地提高了安全性。
附图说明
[0018]图1为本专利技术的高压测试电容装置的立体结构示意图；图2为本专利技术的老化架的立体结构示意图；图3为本专利技术的老化盒的立体结构示意图；图4为本专利技术的测试件的平面结构示意图；图5为图4中A处的剖面图；图6为本专利技术的放电器的立体结构示意图；图7为本专利技术的放电器的平面结构示意图；图8为图7中A处的剖面图；图9为本专利技术的驱动盒的立体结构示意图。
[0019]图中：10、测试组件；11、老化箱；12、老化架；121、第一侧框；122、绝缘挡板；123、绝缘隔板；13、老化盒；131、第一盖板；132、第一侧板；133、老化底板；134、散热孔；14、测试件；141、绝缘容器；142、转盘；143、容壁；144、凹口；145、凸起；146、容腔；15、放电器；151、放电端；152、弹性片；153、进线孔；154、绝缘筒；155、导电件；20、驱动组件；21、驱动箱；22、驱动盒；221、第二盖板；222、第二侧板；223、驱动底板；224、转接板；30、控制组件；31、控制箱；40、底柜；41、集成电源；42、绝缘套线；50、待测电容。
具体实施方式
[0020]为了能够更清楚地理解本专利技术的具体技术方案、特征和优点，下面结合附图和具
体实施方式对本专利技术进行进一步的详细描述。
[0021]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“横向”、“纵向”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0022]如图1
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图5所示，本申请公开的一种高压测试电容装置，包括底柜40、控制组件30、测试组件10和驱动组件20，所述测试组件10包括老化箱11、用于用于输出高电压的集成电源41、老化架12和与所述老化架12滑动连接的多个老化盒13，所述驱动组件20包括驱动箱21、驱动架（未示出）和与所述驱动架滑动连接的多个驱动盒22，所述控制组件30、所述老化箱11和所述驱动箱21均分别设置在所述底柜40的上端，所述集成电源41设置在所述底柜40内，所述老化盒13包括多个测试件14，所述测试件14包括用于承载待测电容50的绝缘容器141和用于给待测电容50施加高压的两个放电器15，所述放电器15插入所述绝缘容器141内，所述驱动盒22内设置有驱动板（未示出），所述放电器15与所述集成电源41电性连接，所述驱动板分别与所述控制组件30和所本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高压测试电容装置，包括底柜、控制组件、测试组件和驱动组件，其特征在于：所述测试组件包括充有氮气的老化箱、用于输出高电压的集成电源、老化架和与所述老化架滑动连接的多个老化盒，所述驱动组件包括驱动箱、驱动架和与所述驱动架滑动连接的多个驱动盒，所述控制组件、所述老化箱和所述驱动箱均分别设置在所述底柜的上端，所述集成电源设置在所述底柜内，所述老化盒包括多个用于安装待测电容的测试件，所述测试件包括装载有油的绝缘容器和用于施加高压的放电器，所述放电器插入所述绝缘容器内，所述驱动盒内设置有驱动板，所述放电器与所述集成电源电性连接，所述驱动板分别与所述集成电源和所述控制组件电性连接。2.根据权利要求1所述的高压测试电容装置，其特征在于：所述放电器有两个，一个放电器与待测电容的正极相连，另一个放电器与待测电容的负极相连，所述绝缘容器包括容壁和用于封堵所述绝缘容器的转盘，所述转盘上设置有凸起，所述容壁上设置有与所述凸起相对应的凹口，所述容壁的上端设置有利于所述转盘转动是弧形口，所述放电器的上端与所述转盘固定连接。3.根据权利要求2所述的高压测试电容装置，其特征在于：所述老化盒还包括老化底板、多个第一侧板和第一盖板，多个第一侧板首尾相连且分别固定在所述老化底板的四周上，所述第一盖板固定在多个第一侧板的上端，所述容壁固定在所述第一侧板上。4.根据权利要求3所述的高压测试电容装置，其特征在于：所述老化架包括第一侧框、多个绝缘隔板和多个绝缘挡板，多个绝缘隔板分别设置在所述第一侧框的上下端，所述绝缘挡板固定在所述第一侧...
【专利技术属性】
技术研发人员：曹佶，朱开开，周泽文，
申请(专利权)人：浙江杭可仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：
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