一种晶体管测试仪制造技术

本发明专利技术公开了一种晶体管测试仪，包括机柜、操作台、烘箱、老化架、驱动架和工控机，操作台设置在机柜的上端上，烘箱、驱动架和工控机均设置在机柜内，烘箱与机柜滑动连接，老化架设置在所述烘箱内，老化架与烘箱滑动连接；老化架包括一个老化板、两个导轨板和多个相互平行的凸型板，两个导轨板分别垂直固定在多个凸型板的两端，老化板与两个导轨板滑动连接，老化板与烘箱电性插接连接；驱动架包括驱动板、总线安装板、底板和两个固定板，两个固定板分别设置在底板的两端，总线安装板固定在两个固定板之间，总线安装板与工控机电性连接，驱动板与两个固定板滑动连接，驱动板与总线安装板电性插接。其体积较小，且操作方便。且操作方便。且操作方便。

【技术实现步骤摘要】
一种晶体管测试仪


[0001]本专利技术涉及半导体测试
，尤其涉及一种晶体管测试仪。

技术介绍

[0002]晶体管包括二极管、三极管、场效应管和晶闸管等半导体器件，为了检测晶体管的性能，都会通过晶体管测试仪或装置来进行。
[0003]但现有的晶体管测试仪由于测试晶体管的温度系数，通常都会设置烘箱，由于烘箱会发热就会导致驱动板或其他电路损坏，所以烘箱一般都会跟驱动板隔离开来分别设置在不同的柜体内，从而导致晶体管测试仪或装置的体积太大或者操作不方便。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种晶体管测试仪，其体积较小，且操作方便。
[0005]本专利技术的目的采用以下技术方案实现：
[0006]一种晶体管测试仪，包括机柜、操作台、烘箱、老化架、驱动架和工控机，所述操作台设置在所述机柜的上端上，所述烘箱、所述驱动架和所述工控机均设置在所述机柜内，所述烘箱与所述机柜滑动连接，所述操作台、所述烘箱、所述老化架和所述驱动架均与所述工控机电性连接，所述老化架设置在所述烘箱内，所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶体管测试仪，其特征在于：包括机柜、操作台、烘箱、老化架、驱动架和工控机，所述操作台设置在所述机柜的上端上，所述烘箱、所述驱动架和所述工控机均设置在所述机柜内，所述烘箱与所述机柜滑动连接，所述操作台、所述烘箱、所述老化架和所述驱动架均与所述工控机电性连接，所述老化架设置在所述烘箱内，所述老化架与所述烘箱滑动连接；所述老化架包括一个老化板、两个导轨板和多个相互平行的凸型板，两个导轨板分别垂直固定在多个凸型板的两端，所述老化板与两个导轨板滑动连接，所述老化板与所述烘箱电性插接连接；所述驱动架包括驱动板、总线安装板、底板和两个固定板，两个固定板分别设置在所述底板的两端，所述总线安装板固定在两个固定板之间，所述总线安装板与所述工控机电性连接，所述驱动板与两个固定板滑动连接，所述驱动板与所述总线安装板电性插接。2.根据权利要求1所述的晶体管测试仪，其特征在于：所述老化架还包括连接器和相互平行的多个加强筋，多个加强筋均设置在两个导轨板上，所述连接器设置在两个导轨板之间，所述连接器与所述总线安装板电性连接，所述老化板与所述连接器电性插接。3.根据权利要求2所述的晶体管测试仪，其特征在于：所述导轨板上还设置有多个第一散热孔，所述老化架还包括四个第一边框，四个第一边框依次设置在所述老化板的四周，靠近所述第一散热孔的第一边框设置在相邻第一散热孔之间。4.根据权利要求3所述的晶体管测试仪，其特征在于：所述固定板还包括多个第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹佶，梅山赛，李帅韬，
申请(专利权)人：浙江杭可仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：