一种通用型老化测试IGBT装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种通用型老化测试IGBT装置，包括测试箱、温控箱和信号箱，温控箱与测试箱固定连接，测试箱包括第一箱体和设设置在第一箱体内的测试组件，测试组件包括测试板和固定在测试板上的多个温控单元，多个温控单元均包括液冷座，液冷座上设置有安装板、进液口、出液口和用于安装待测IGBT的安装槽，进液口通过安装槽与出液口连通，安装板固定在安装槽的底部，安装板上设置有多个安装孔和多条凹槽；温控箱包括第二箱体和设置在第二箱体内的多个液体循环组件，液体循环组包括内架和设置在内架上的耐温管、进液管和出液管，进液管通过耐温管与进液口连通，出液管通过耐温管与出液口连通。其能老化测试各种型号的IGBT，通用性好。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及功率器件的老化测试领域，尤其涉及一种通用型老化测试igbt装置。

技术介绍

1、igbt作为传统的半导体器件，为了适应各种电路功能，igbt的型号类型越来越多。测试igbt的装置也越来越多，因为各种类型的igbt的尺寸和工作时的结温都可能不同，但大部分的装置只能测试一两种类型的igbt，通用性差。

技术实现思路

1、为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种通用型老化测试igbt装置，其能老化测试各种型号的igbt，通用性好。

2、本专利技术的目的采用以下技术方案实现：

3、一种通用型老化测试igbt装置，包括测试箱、温控箱和用于输出测试信号的信号箱，所述温控箱与所述测试箱固定连接，所述测试箱包括第一箱体和设设置在所述第一箱体内的测试组件，所述测试组件包括测试板和固定在所述测试板上的多个温控单元，多个温控单元均包括液冷座，所述液冷座上设置有安装板、进液口、出液口和用于安装待测igbt的安装槽，所述进液口通过所述安装槽与所述出液口连通，所述安装板固定在所述安装槽的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种通用型老化测试IGBT装置，包括测试箱、温控箱和用于输出测试信号的信号箱，所述温控箱与所述测试箱固定连接，所述测试箱包括第一箱体和设设置在所述第一箱体内的测试组件，所述测试组件包括测试板和固定在所述测试板上的多个控温单元，多个控温单元均包括液冷座，其特征在于：所述液冷座上设置有安装板、进液口、出液口和用于安装待测IGBT的安装槽，所述进液口通过所述安装槽与所述出液口连通，所述安装板固定在所述安装槽的底部，所述安装板上设置有利于安装的多个安装孔和多条凹槽；所述温控箱包括第二箱体和设置在所述第二箱体内的多个液体循环组件，所述液体循环组包括内架和设置在所述内架上的耐温管、进液管和出液管...

【技术特征摘要】

1.一种通用型老化测试igbt装置，包括测试箱、温控箱和用于输出测试信号的信号箱，所述温控箱与所述测试箱固定连接，所述测试箱包括第一箱体和设设置在所述第一箱体内的测试组件，所述测试组件包括测试板和固定在所述测试板上的多个控温单元，多个控温单元均包括液冷座，其特征在于：所述液冷座上设置有安装板、进液口、出液口和用于安装待测igbt的安装槽，所述进液口通过所述安装槽与所述出液口连通，所述安装板固定在所述安装槽的底部，所述安装板上设置有利于安装的多个安装孔和多条凹槽；所述温控箱包括第二箱体和设置在所述第二箱体内的多个液体循环组件，所述液体循环组包括内架和设置在所述内架上的耐温管、进液管和出液管，所述进液管通过所述耐温管与所述进液口连通，所述出液管通过所述耐温管与所述出液口连通。

2.根据权利要求1所述的通用型老化测试igbt装置，其特征在于：所述控温单元包括第一测试模块，所述第一测试模块包括第一垫板、定位板和具有第一中孔的第一盖板，所述第一垫板设置在所述安装板的上端，所述第一盖板固定在所述液冷座的上端，所述定位板固定在所述第一中孔的侧边，待测igbt穿过所述第一中孔与第一垫板抵接。

3.根据权利要求2所述的通用型老化测试igbt装置，其特征在于：所述控温单元还包括第二测试模块，所述第二测试模块包括多个第二垫板和具有第二中孔的第二盖板，多个第二垫板设置在所述安装板的上端，所述第二盖板固定在所述液冷座的上端，待测igbt穿过所述第二中孔与多个第二垫板抵接。

4.根据权利要求3所述的通用型老化测试igbt装置，其特征在于：所述控温单元还包括第三测试模块，所述第三测试模块包括用于传输大电流的金属...

【专利技术属性】
技术研发人员：林向前，曹佶，赵宝忠，
申请(专利权)人：浙江杭可仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：