本发明公开了一种LED灯板的测试装置，包括控制单元和测试单元，所述控制单元包括控制箱和设置在所述控制箱内的用于产生测试信号的驱动柜，所述测试单元包括烘箱和设置在所述烘箱内的测试组件，所述测试组件与所述驱动柜信号连接；所述测试组件包括多个...

本发明公开了一种电源自动测试装置，包括机柜和设置在机柜上的电子负载、负载控制单元、高速测量单元、主控机箱，电子负载通过负载控制单元与高速测量单元电性连接，高速测量单元与主控机箱电性连接；高速测量单元包括微控制器MCU、数模转化器DAC和...

本发明公开了一种选择性电容测试装置，包括相互连接的老化箱、信号箱和控制组件，控制组件包括主控机，老化箱包括老化架和设置在老化架上的多个老化板，信号箱包括背板和设置在背板上的选择机构，背板上还设置有第一插槽，第一插槽内设置有第一绝缘板，选...

本发明公开了一种测试控制系统，其包括主模块、网络通讯模块、指令生成模块、功能控制模块和通过测试硬件ID对硬件进行识别或加密的识别加密模块，所述指令生成模块、所述识别加密模块、所述主模块和所述功能控制模块分别与所述网络通讯模块信号连接，所...

本发明公开了一种老化基板的高温加压测试方法，包括：步骤A：通过一次性成型的方式生产平整度在

本发明公开了总线通信芯片老化测试装置，包括控制箱和与所述控制箱可拆卸连接的信号箱，以及与所述信号箱信号连接的多个高温试验箱；控制箱包括控制器模块、通讯模块和程控电源，程控电源和所述通讯模块均分别电性连接所述控制器模块；信号箱包括用于产生...

本发明公开了一种高速测试系统，包括控制单元、数字图形发生单元、参数测试单元、高速信号传输单元和测试板，所述数字图形发生单元和所述参数测试单元均分别与所述控制单元信号连接，所述数字图形发生单元、所述参数测试单元和所述测试板均分别信号连接所...

本发明公开了一种适用性广的测试装置，包括相互连接的控制箱、驱动箱和烘箱，所述驱动箱包括根据电源输出相对应测试信号的多个驱动板，所述烘箱包括根据电源调节温度的老化板，所述老化板与所述驱动板电性连接，所述控制箱包括电源组件和与所述驱动板电性...

本实用新型公开了一种抗干扰器件，包括金属载体、第一金属盖和设置在所述金属载体内的电路板，所述金属载体包括隔板，所述隔板把所述金属载体分成腔体区和散热区，所述电路板固定在所述隔板的一端面上，所述第一金属盖的边沿设置有一圈凸条，所述腔体区的...

本发明公开了一种RAM芯片的测试方法，其特征在于，包括：步骤A、在直流电下，通过参数测量模块对待测RAM芯片进行IO管脚通断测试，钳位电流下的性能测试，钳位电压下的性能测试；步骤B、通过RAM芯片的器件规格书中的各时序参数确定测试周期，...

本发明公开了一种1553B协议总线芯片的错误注入测试方法，其特征在于，包括：步骤A：注入错误波形信号给被测总线芯片进行识别波形信号测试；步骤B：被测总线芯片通过发送错误指令字进行读指令测试；步骤C：被测总线芯片通过接收错误指令字进行写指...

本实用新型公开了一种抗干扰电路，包括依次电性连接的开关保护模块、EMI抗干扰模块、PFC模块、转换模块和π型滤波模块；所述PFC模块包括整流桥BD、电感L6、可控开关K2和二极管D1，所述整流桥BD的输出端与所述电感L6的输入端电性连接...

本发明公开了一种芯片夹持装置，包括夹持机构，夹持机构包括第一滑动组件和与所述第一滑动组件滑动连接的第二滑动组件，第一滑动组件包括连接板、第一夹板和用于吸附芯片至第一夹板处的吸附组件，吸附组件和多个第一夹板均设置在连接板上；第二滑动组件包...

本发明公开了一种半导体器件老化测试箱，包括控制箱及固定在控制箱上端的老化箱和驱动箱，控制箱包括工控机，老化箱包括老化架和设置在老化架上的多个老化板，驱动箱包括驱动架和设置在驱动架上的多个驱动板，驱动板与工控机电性连接，测试箱还包括对接板...

本实用新型公开了一种利于老化测试的集成电路板，包括PCB铝基板和多个具有复合外壳的功率器件，所述功率器件与所述PCB铝基板电性连接，所述PCB铝基板包括依次平铺的金属基层、导热绝缘层和电路层，所述复合外壳为钨铜合金外壳或陶瓷外壳，所述功...

本发明公开了一种高频波形信号生成方法，包括步骤：步骤A：通过高频芯片发出多个时钟信号，且相邻时钟信号之间均有延迟；步骤B：在同一时序内对相邻两个时钟信号的电压峰值进行比较，比较后取同一时序内时钟信号电压峰值最高的信号段；步骤C：从所有峰...

本发明公开了一种MOSFET管的测试电路，包括多个串联连接的测试模块，所述测试模块包括MOSFET管、设置在所述MOSFET管内的二极管D和用于输出加热电流和测试电流的驱动单元，所述MOSFET管的源极和漏极通过所述二极管D电性连接，所...

本发明公开了一种老化测试箱的控制系统，包括老化测试箱、上位机和与上位机信号连接的下位机，老化测试箱包括烘箱和与烘箱电性连接的驱动单元；上位机包括CPU单元、TCP单元和sqlite单元，TCP单元和sqlite单元分别与CPU单元信号连...

本发明公开了一种测试机构，包括主板、X轴模组、Y轴模组、Z轴模组和用于连接测试板的接触板，X轴模组和接触板均固定在主板上，X轴模组设置在所述接触板的两端，Y轴模组与X轴模组滑动连接，Z轴模组与所述Y轴模组滑动连接，Z轴模组设置在所述接触...

本发明公开了一种测试DDR器件的方法，包括：步骤A：准备测试电路，判断DDR器件的状态；步骤B：使所述DDR器件进入测试状态；步骤C：通过所述DDR器件的数据存储区的起始地址和地址长度向所述DDR器件写入原始数据；步骤D：准备通过所述起...