本发明专利技术公开了一种适用性广的测试装置，包括相互连接的控制箱、驱动箱和烘箱，所述驱动箱包括根据电源输出相对应测试信号的多个驱动板，所述烘箱包括根据电源调节温度的老化板，所述老化板与所述驱动板电性连接，所述控制箱包括电源组件和与所述驱动板电性连接的工控机；所述电源组件包括架体、第一电源切换器和多个不同类型的第一电源，所述工控机、所述第一电源切换器和第一电源均设置在所述架体上，所述第一电源切换器与所述工控机电性连接，多个第一电源通过所述第一电源切换器分别与所述驱动板一一电性连接。其能很方便地测试多种半导体器件，能节省成本。能节省成本。能节省成本。
【技术实现步骤摘要】
一种适用性广的测试装置
[0001]本专利技术涉及半导体测试领域，尤其涉及一种适用性广的测试装置。
技术介绍
[0002]随着电子技术发展，集成半导体器件的种类越来越多，半导体器件的性能也越来越多，对半导体器件的测试也越来越复杂。
[0003]现有的半导体测试装置，只能对一种半导体器件或者某一类型的半导体器件进行测试，这样需要测试其他的半导体器件，就需要多种测试装置或者更换电源或驱动板来实现测试，但通过多种测试装置、更换电源或驱动板来测试多种半导体器件的成本会很高，也很不方便。
技术实现思路
[0004]为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种适用性广的测试装置，其能很方便地测试多种半导体器件，能节省成本。
[0005]本专利技术的目的采用以下技术方案实现：一种适用性广的测试装置，包括相互连接的控制箱、驱动箱和烘箱，其特征在于：所述驱动箱包括根据电源输出相对应测试信号的多个驱动板，所述烘箱包括根据电源调节温度的老化板，所述老化板与所述驱动板电性连接，所述控制箱包括电源组件和与所述驱动板电性连接的工控机；所述电源组件包括架体、用于切换电源的第一电源切换器和多个不同类型的第一电源，所述工控机、所述第一电源切换器和第一电源均设置在所述架体上，所述第一电源切换器与所述工控机电性连接，多个第一电源通过所述第一电源切换器分别与所述驱动板一一电性连接；所述测试信号为交流型测试信号或直流型测试信号。
[0006]优选的，所述第一电源切换器包括多个用于选择所述第一电源的第一选择插口，所述第一选择插口分别与所述第一电源电性连接。
[0007]优选的，所述第一选择插口包括阴极孔和多个连接不同电压的阳极孔。
[0008]优选的，所述电源组件还包括第二电源切换器和不同类型的第二电源，所述第二电源切换器和第二电源均设置在所述架体上，所述第二电源切换器与所述工控机电性连接，多个第二电源通过所述第二电源切换器分别与所述老化板一一电性连接。
[0009]优选的，所述控制箱还包括电阻固定件，所述电阻固定件包括多个分压电阻、两个绝缘板、连接件和用于固定所述分压电阻的固定环，两个绝缘板通过所述连接件固定连接，所述固定环固定在所述绝缘板上，多个分压电阻分别与所述第一电源和所述第二电源电性连接。
[0010]优选的，所述控制箱还包括电源门，所述电源门包括盒槽、键盘盒和显示屏，所述键盘盒设置在所述盒槽内，所述键盘盒内设置有键盘，所述键盘和所述显示屏均与所述工
控机电性连接。
[0011]优选的，所述键盘盒包括盒盖和用于开启或关闭所述盒盖的液压杆，所述液压杆的一端与所述盒槽转动连接，所述液压杆的另一端与所述盒盖转动连接。
[0012]优选的，所述液压杆包括转轴、杆头、伸缩杆和连接头，所述连接头和所述杆头分别设置在所述伸缩杆的两端，所述杆头通过转轴与所述盒槽的上端转动连接，所述伸缩杆通过连接头与所述盒盖转动连接。
[0013]优选的，所述盒盖包括转动夹和转动轴，所述连接头通过所述转动夹与所述盒盖转动连接，所述盒盖通过所述转动轴与所述盒槽的下端转动连接。
[0014]优选的，所述转动轴包括转动节和与所述转动节转动连接的固定节，所述转动轴通过所述转动节与所述盒槽转动连接，所述盒盖的边框上设置有连接孔，所述固定节固定在所述连接孔内。
[0015]相比现有技术，本专利技术的有益效果在于：本申请公开的测试装置，其公开了根据电源输出相对应测试信号的多个驱动板和电源组件，该电源组件能通过所述第一电源切换器去切换第一电源，输出不同的电源给所述驱动板，所述驱动板能根据不同的电源而输出不同的测试信号给老化板，从而能适应不同种类半导体器件的测试，节省了成本。
[0016]且本测试装置测试不同半导体器件，不用重新更新电源或者驱动板，测试半导体器件方便快捷。
附图说明
[0017]图1为本专利技术的适用性广的测试装置的立体图；图2为本专利技术的电源组件和工控机的立体示意图；图3为本专利技术的电源组件和工控机的平面示意图；图4为图3中A处的放大结构示意图；图5为本专利技术的电源门的立体结构示意图；图6为本专利技术的盒盖的立体结构示意图；图7为本专利技术的液压杆的立体结构示意图；图8为本专利技术的转动轴的立体结构示意图；图9为本专利技术的电阻固定件去掉分压电压后的立体结构示意图。
[0018]图中：100、测试装置；10、控制箱；11、电源门；111、显示屏；112、玻璃；12、键盘盒；121、盒槽；122、盒盖；123、转动夹；124、边框；125、连接孔；126、转动轴；127、转动节；128、固定节；13、集风罩；14、电阻固定件；141、绝缘板；142、连接件；143、固定环；15、液压杆；151、杆头；152、伸缩杆；153、转轴；154、连接头；20、电源组件；21、架体；22、工控机；23、第一电源切换器；231、第一选择插口；232、阳极孔；233、阴极孔；24、第一电源；25、第二电源切换器；251、第二选择插口；26、第二电源；30、驱动箱；40、烘箱。
具体实施方式
[0019]为了能够更清楚地理解本专利技术的具体技术方案、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术进行进一步的详细描述。
[0020]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“横向”、“纵向”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0021]如图1
‑
图3所示，本申请公开的一种适用性广的测试装置100，包括相互连接的控制箱10、驱动箱30和烘箱40，所述驱动箱30包括根据电源输出相对应测试信号的多个驱动板，所述烘箱40包括根据电源调节温度的老化板，所述老化板与所述驱动板电性连接，所述控制箱10包括电源组件20和与所述驱动板电性连接的工控机22；所述电源组件20包括架体21、用于切换电源的第一电源切换器23和多个不同类型的第一电源24，所述工控机22、所述第一电源切换器23和第一电源24均设置在所述架体21上，所述第一电源切换器23与所述工控机22电性连接，多个第一电源24通过所述第一电源切换器23分别与所述驱动板一一电性连接。所述测试信号为交流型测试信号或直流型测试信号。
[0022]在上述实施方式中，本测试装置100公开了根据电源输出多种测试信号的多个驱动板和电源组件20，该电源组件20能通过所述第一电源切换器23去切换第一电源24，输出不同种类的电源给所述驱动板，所述驱动板能根据不同的电源而输出不同的测试信号给老化板，所述老化板再根据对应的测试信号去测试相应的半导体器件，从而能适应不同种类半导体器件的测试，节省了成本。且本本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种适用性广的测试装置，包括相互连接的控制箱、驱动箱和烘箱，其特征在于：所述驱动箱包括根据电源输出相对应测试信号的多个驱动板，所述烘箱包括根据电源调节温度的老化板，所述老化板与所述驱动板电性连接，所述控制箱包括电源组件和与所述驱动板电性连接的工控机；所述电源组件包括架体、用于切换电源的第一电源切换器和多个不同类型的第一电源，所述工控机、所述第一电源切换器和第一电源均设置在所述架体上，所述第一电源切换器与所述工控机电性连接，多个第一电源通过所述第一电源切换器分别与所述驱动板一一电性连接；所述测试信号为交流型测试信号或直流型测试信号。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述第一电源切换器包括多个用于选择所述第一电源的第一选择插口，所述第一选择插口分别与所述第一电源电性连接。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于：所述第一选择插口包括阴极孔和多个连接不同电压的阳极孔。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于：所述电源组件还包括第二电源切换器和不同类型的第二电源，所述第二电源切换器和第二电源均设置在所述架体上，所述第二电源切换器与所述工控机电性连接，多个第二电源通过所述第二电源切换器分别与所述老化板一一电性连接。5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于：所述控制箱还包括电阻固定件，所述电阻固定件包括多个分压电...
【专利技术属性】
技术研发人员：曹佶，郭靖，韩路军，
申请(专利权)人：浙江杭可仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：
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