本发明专利技术公开了一种选择性电容测试装置，包括相互连接的老化箱、信号箱和控制组件，控制组件包括主控机，老化箱包括老化架和设置在老化架上的多个老化板，信号箱包括背板和设置在背板上的选择机构，背板上还设置有第一插槽，第一插槽内设置有第一绝缘板，选择机构与主控机电性连接；第一绝缘板包括连接座和依次覆盖的底层板、中心层板及顶层板，顶层板上设置有多个第一穿孔，中心层板上设置有第二穿孔，底层板上设置有第一开孔，连接座固定在第一开孔内，连接座包括多个第一信号针，第一信号针的一端与老化板信号连接，第一信号针的另一端依次穿过第二穿孔和第一穿孔，选择机构选择性地与第一穿孔电性连接。其可以防止信号针放电烧坏装置。坏装置。坏装置。
【技术实现步骤摘要】
一种选择性电容测试装置
[0001]本专利技术涉及电容测试装置，尤其涉及一种选择性电容测试装置。
技术介绍
[0002]电容作为电路中必不可少的元件，其品质的决定了电路的好坏，对电容的测试为电容生产的必要工序。
[0003]电容的耐压性能是一种很重要的性能，在电容测试中，耐压性能的测试是必须的，然而在耐压测试的高压测试电容时，测试装置的电路中的金属配件，尤其是尖锐的信号针之间往往会因为高压电击穿空气形成尖端放电，导致相关元件烧坏，而使测试装置损坏。
技术实现思路
[0004]为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种选择性电容测试装置，其在信号针之间设置多层板，使绝缘电阻增大，而可以防止信号针放电烧坏测试装置。
[0005]本专利技术的目的采用以下技术方案实现：一种选择性电容测试装置，包括相互连接的老化箱、信号箱和控制组件，所述控制组件包括主控机，所述老化箱包括老化架和设置在所述老化架上的多个老化板：所述信号箱包括背板和设置在所述背板上的选择机构，所述背板上还设置有第一插槽，所述第一插槽上设置有第一绝缘板，所述选择机构与所述主控机电性连接；所述第一绝缘板包括连接座和依次覆盖的底层板、中心层板及顶层板，所述顶层板上设置有多个第一穿孔，所述中心层板上设置有与所述第一穿孔相对应的第二穿孔，所述底层板上设置有第一开孔，所述连接座固定在所述第一开孔内，所述连接座包括多个第一信号针，所述第一信号针的一端与所述老化板信号连接，所述第一信号针的另一端依次穿过所述第二穿孔和所述第一穿孔，所述选择机构选择性地与第一信号针穿过所述第一穿孔的一端电性连接。
[0006]优选的，所述第一绝缘板还包括次顶层板，所述次顶层板设置在所述中心层板与所述顶层板中间，所述次顶层板上设置有多个与所述第一穿孔相对应的第三穿孔和与所述第一开孔相对应的第二开孔。
[0007]优选的，所述第一绝缘板还包括次底层板，所述次底层板设置在所述中心层板与所述底层板中间，所述次底层板上设置有多个与所述第二穿孔相对应的第四穿孔和与所述第一开孔相对应的第三开孔。
[0008]优选的，所述顶层板上设置有多个第一固定孔，所述中心层板上设置有与所述第一固定孔相对应的第二固定孔，所述底层板上设置有与所述第二固定孔相对应的第三固定孔，所述次底层板上设置有与第二固定孔相对应的第四固定孔，所述次底层板上设置有与所述第三固定孔相对应的第五固定孔。
[0009]优选的，所述第一开孔、所述第二开孔和所述第三开孔均设置在所述第一绝缘板的中部，所述中心层板的中部还设置与所述第二开孔相对应的细孔，所述第一信号针穿过
所述第一穿孔的末端设置有焊接片。
[0010]优选的，所述第二穿孔、第三穿孔和第四穿孔均分别位于所述细孔、所述第二开孔和第三开孔的两侧，所述连接座包括第一信号座和第二信号座，所述第一信号座和所述第二信号座靠近所述第四穿孔的一端均设置有所述第一信号针，所述第一信号针依次穿过所述第四穿孔、所述第三穿孔、第二穿孔和第一穿孔。
[0011]优选的，所述选择机构包括X轴模组、Y轴模组和第一Z轴模组，所述X轴模组与所述背板滑动连接，所述Y轴模组与所述X轴模组垂直滑动连接，所述第一Z轴模组与所述Y轴模组滑动连接，所述第一Z轴模组包括第一探针和用于推动所述第一探针的第一气缸，所述选择机构通过所述第一探针与所述主控机电性连接，所述选择机构通过所述第一探针与所述第一信号针选择性电性点接。
[0012]优选的，所述背板上还设置有多个第二插槽，所述第二插槽上设置有第二绝缘板，所述第二绝缘板上设置有多个第二信号针，所述第二信号针与所述老化板电性连接，所述选择机构还包括与所述第二信号针选择性电性连接的第二Z轴模组，所述第二Z轴模组与所述背板滑动连接。
[0013]优选的，所述第二Z轴模组包括第二探针和用于推动所述第二探针的第二气缸，所述第二探针与所述主控机电性连接，所述第二Z轴模组通过所述第二探针与所述第二信号针选择性电性点接。
[0014]优选的，所述主控机为工控机，所述控制组件包括底柜和与所述工控机电性连接的电源，所述工控机和所述电源均设置在所述底柜内，所述底柜固定在所述老化箱的下端，所述X轴模组、所述Y轴模组和所述第一Z轴模组均与所述电源电性连接。
[0015]相比现有技术，本专利技术的有益效果在于：本申请公开的选择性电容测试装置，其通过选择机构选择性地与第一信号针穿过所述第一穿孔的一端电性连接，因为第一信号针之间设置有底层板、中心层板和顶层板，加大了信号针之间的绝缘电阻，而可以防止第一信号针之间产生尖端放电烧坏连接座和背板等部件；另外，由于是选择性的电性连接（加电压）第一信号针，而不会给信号针持续地加电压，可防止第一信号针因电荷累积而产生尖端放电。选择性的电性连接也可以在电容适当的条件（尖峰电压）下，对电容进行瞬时测试。
[0016]另外，由于所述底层板上设置有第一开孔，且所述底层板、所述中心层板和所述顶层板之间有缝隙，而利于散热。
附图说明
[0017]图1为本专利技术的选择性电容测试装置的立体结构示意图；图2为本专利技术的选择性电容测试装置去掉前门后的平面结构示意图；图3为本专利技术的选择性电容测试装置的另一视角的立体结构示意图；图4为本专利技术的选择机构和背板的立体结构示意图；图5为本专利技术的连接座的立体结构示意图；图6为本专利技术的顶层板的平面结构示意图；图7为本专利技术的中心层板的平面结构示意图；
图8为本专利技术的底层板的平面结构示意图；图9为本专利技术的次顶层板的平面结构示意图；图10为本专利技术的次底层板的平面结构示意图。
[0018]图中：100、选择性电容测试装置；10、信号箱；11、选择机构；111、X轴模组；112、Y轴模组；113、第一Z轴模组；114、第二Z轴模组；115、第一滑轴；116、第二滑轴；12、散热孔； 13、背板；131、第一插槽；132、第二插槽；14、连接座；141、第一信号座；142、第一信号针；143、第二信号座；20、控制组件；21、控制箱；211、显示屏；212、按键板；213、键盘盒；22、底柜；221、前门；222、电源；223、工控机；224、后门；30、老化箱；31、老化架；40、第一绝缘板；41、顶层板；411、第一穿孔；412、第一固定孔；42、中心层板；421、第二穿孔；422、细孔；423、第二固定孔；43、底层板；431、第一开孔；432、第三固定孔；44、次顶层板；441、第三穿孔；442、第二开孔；443、第四固定孔；45、次底层板；451、第四穿孔；452、第三开孔；453、第五固定孔。
具体实施方式
[0019]为了能够更清楚地理解本专利技术的具体技术方案、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术进行进一步的详细描述。
[0020]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“横向”、“纵向”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种选择性电容测试装置，包括相互连接的老化箱、信号箱和控制组件，所述控制组件包括主控机，所述老化箱包括老化架和设置在所述老化架上的多个老化板，其特征在于：所述信号箱包括背板和设置在所述背板上的选择机构，所述背板上还设置有第一插槽，所述第一插槽上设置有第一绝缘板，所述选择机构与所述主控机电性连接；所述第一绝缘板包括连接座和依次覆盖的底层板、中心层板及顶层板，所述顶层板上设置有多个第一穿孔，所述中心层板上设置有与所述第一穿孔相对应的第二穿孔，所述底层板上设置有第一开孔，所述连接座固定在所述第一开孔内，所述连接座包括多个第一信号针，所述第一信号针的一端与所述老化板信号连接，所述第一信号针的另一端依次穿过所述第二穿孔和所述第一穿孔，所述选择机构选择性地与第一信号针穿过所述第一穿孔的一端电性连接。2.根据权利要求1所述的选择性电容测试装置，其特征在于：所述第一绝缘板还包括次顶层板，所述次顶层板设置在所述中心层板与所述顶层板中间，所述次顶层板上设置有多个与所述第一穿孔相对应的第三穿孔和与所述第一开孔相对应的第二开孔。3.根据权利要求2所述的选择性电容测试装置，其特征在于：所述第一绝缘板还包括次底层板，所述次底层板设置在所述中心层板与所述底层板中间，所述次底层板上设置有多个与所述第二穿孔相对应的第四穿孔和与所述第一开孔相对应的第三开孔。4.根据权利要求3所述的选择性电容测试装置，其特征在于：所述顶层板上设置有多个第一固定孔，所述中心层板上设置有与所述第一固定孔相对应的第二固定孔，所述底层板上设置有与所述第二固定孔相对应的第三固定孔，所述次底层板上设置有与第二固定孔相对应的第四固定孔，所述次底层板上设置有与所述第三固定孔相对应的第五固定孔。5.根据权利要求4所述的选择性电容测试装置，其特征在于：所述第一开孔、所述第二开孔和所述第三开孔均设置在所述第一绝缘板的中部，所述中心层板的中部还...
【专利技术属性】
技术研发人员：曹佶，王昀，朱开开，
申请(专利权)人：浙江杭可仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：
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