本发明公开了一种低摩擦半导体测试探针，包括针管，所述针管的一端可伸缩地设置有第一针头，另一端可伸缩地设置有第二针头，针管内设置有弹簧，弹簧的两端分别与第一针头和第二针头的尾部相接触，第一针头和第二针头的尾部外侧设置有滚珠，所述滚珠与针管...

本发明公开了一种半导体自动测试装置，包括针管，所述针管的一端可伸缩地设置有第一针头，另一端可伸缩地设置有第二针头，针管内设置有弹簧，弹簧的两端分别与第一针头和第二针头的尾部相接触，第一针头和第二针头的尾部外侧设置有滚珠，所述滚珠与针管的...

本发明公开了一种半导体弹片测试模组，包括基准板，所述基准板的中心设置有模块，所述模块内设置有多个第一限位槽，基准板的上侧可拆卸地设置有上盖，所述上盖内设置有多个第二限位槽，基准板的下侧设置有下盖，所述下盖上设置有多个第三限位槽；每个所述...

本发明公开了一种按压断开式半导体测试探针，包括底座，所述底座上设置有针套和两片弧形板，两所述弧形板布置在针套的外部，所述针套内可上下滑动地设置有针杆，所述针杆内设置有滑槽，所述滑槽中分别放置有第一滑块和第二滑块，第一滑块为倒

本发明公开了一种三珠双弹簧双头双动半导体测试探针，包括针管，所述针管内放置有三颗钢珠，两个相邻的钢珠之间分别设置有第一弹簧和第二弹簧，针管的一端可伸缩地设置有输出端针头，针管的另一端可伸缩地设置有测试针头

本发明公开了一种半导体稳流测试模组，包括固定模块，所述固定模块内设置有多个空腔，每个所述空腔内均设置有弹簧，所述弹簧内设置有针杆，所述针杆的侧部设置有固定孔，固定模块的一侧设置有多个空槽，固定模块的前侧设置有推拉模块，所述推拉模块上设置...

本发明公开了一种用于距离测量的无弹簧半导体测试探针，包括针管，所述针管内设置有冠簧，所述冠簧内设置有针轴，针管的两端设置有堵头，针轴的两端分别从堵头伸出，针轴行设置有表示距离的刻度

本发明公开了一种双针单测式半导体测试探针，包括固定块，所述固定块的上侧可转动地设置有齿轮，固定块内设置有两个上下布置的通孔，每个所述通孔中放置有弹簧，所述弹簧内放置有针杆，所述针杆的外壁上设置有与齿轮啮合的齿条，两个针杆分别位于齿轮的两...

本发明公开了一种测试点位高度差检测用测试治具，包括底板，所述底板上设置有前固定板和后固定板，所述前固定板上设置有前通孔，所述后固定板上设置有后通孔，前固定板与后固定板之间设置有多个测试探针，所述测试探针的两端分别从对应的一对前通孔和后通...

本发明公开了一种半导体测试用旋转型测试治具，包括底板，所述底板上可转动地设置有旋转板，所述旋转板上设置有安装座，所述安装座内设置有弧形探针

本发明公开了一种半导体测试飞针，包括针管，所述针管设置有多个空腔，每个所述空腔内均设置有一个测试组件，所述针管上设置有多对限位槽，每对限位槽均由上限位槽和下限位槽组成

本发明公开了一种半导体探针用疲劳测试机，包括机箱，所述机箱的底部设置有升降台和机架，所述机架上可升降地设置有承料平台和压料机构，所述压料机构位于承料平台的上方，机箱的顶部设置有驱动机构，所述驱动机构的驱动端与所述压料机构传动配合。该半导...

本发明公开了一种探针用全自动打尾孔机，包括箱体，所述箱体上设置有油盘，所述油盘内设置有机体和振动盘，所述机体上设置有夹紧机构、取放料机构和打孔机构，箱体上设置有顶杆机构；所述振动盘用于输送针管，所述取放料机构用于从振动盘中抓取针管并将其...

本发明公开了一种用于通路检测的半导体测试探针，包括直角针管，所述直角针管的一端中可滑动地设置有传输针，直角针管的另一端中可滑动地设置有测试针，所述测试针和传输针通过导杆铰接在一起。该用于通路检测的半导体测试探针，解决了测试元件的触点和检...

本发明公开了一种电子接触器件润滑剂，按照质量百分比包括3%

本发明公开了一种半导体测试模块，包括上压板、下压板、针杆和两个弯折形的测试针头；所述上压板和下压板之间通过多个压缩弹簧连接在一起，针杆的上端装配在上压板上，针杆的下端从下压板中伸出，两个测试针头可转动地设置在下压板的下侧，针杆上下移动时...

本发明公开了一种针头与针管可靠接触的半导体测试探针，包括针管，所述针管内设置有弹性件和针头，弹性件的一端抵触在针头的尾部，弹性件的另一端抵触在针管的底部，针头的外部套设有冠簧，冠簧与针管的内壁相接触，针头的头部可从针管的上端伸出。该针头...

本发明公开了一种弧形双头双动半导体测试探针，包括可弹性弯曲的弧形针套，所述弧形针套的一端中设置有第一弧形针管，所述第一弧形针管内设置有第一弧形弹性件和第一弧形针头，所述第一弧形弹性件位于第一弧形针头和第一弧形针管的底部之间；弧形针套的另...

本发明公开了一种半导体直角测试探针，包括直角针管，所述直角针管的一端中可滑动地设置有传输针，直角针管的另一端中可滑动地设置有测试针，所述测试针和传输针通过导杆铰接在一起。该半导体直角测试探针，解决了测试元件的触点和检测仪器的触点呈90

本发明公开了一种双弯折型半导体测试探针，包括弯折式针管，所述弯折式针管的一端设置有第一针管，第一针管的内设置有第一针头和第一弹簧，第一弹簧位于第一针头的尾部和第一针管的底部之间，弯折式针管的另一端设置有第二针管，第二针管内设置有第二针头...