测试点位高度差检测用测试治具制造技术

本发明专利技术公开了一种测试点位高度差检测用测试治具，包括底板，所述底板上设置有前固定板和后固定板，所述前固定板上设置有前通孔，所述后固定板上设置有后通孔，前固定板与后固定板之间设置有多个测试探针，所述测试探针的两端分别从对应的一对前通孔和后通孔中伸出；前固定板和后固定板固定在一起，前固定板和后固定板上设置有多个导向杆，每个所述导向杆上均设置有弹簧，多个导向杆之间套设有复位板，所述弹簧位于复位板与后固定板之间。该测试点位高度差检测用测试治具，解决了由于测试治具以及测试方案等条件限制，只能进行电流、电阻、电压、通断等常规电学性能，无法测试待测产品中多个待测点点位高度差的问题。中多个待测点点位高度差的问题。中多个待测点点位高度差的问题。

【技术实现步骤摘要】
测试点位高度差检测用测试治具


[0001]本专利技术属于半导体检测
，具体涉及一种测试点位高度差检测用测试治具。

技术介绍

[0002]半导体测试作为半导体设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤，贯穿IC全产业链，半导体测试通过使用测试机、分选机、探针机，确保了生产的芯片达到要求良率，降低成本浪费，提供有效测试数据，帮助改善设计与制造。
[0003]半导体测试探针被安装在测试治具内部，测试治具安置在被测物和测试基板的中间，探针连接被测物与测试基板，通过传输一定电流和频率来判定被测物是否合格；半导体测试探针在消费电子、通信系统、医疗仪器等领域有广泛应用。
[0004]但是现有半导体探针在使用时，由于测试治具以及测试方案等条件限制，只能进行电流、电阻、电压、通断等常规电学性能，无法测试待测产品中多个待测点点位高度差，导致无法满足某些待测产品的测试需求。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种测试点位高度差检测用测试治具，解决由于测试治具以及测试方案等条件限制，只能进行电流、电阻、电压、通断等常规电学性能，无法测试待测产品中多个待测点点位高度差的问题。
[0006]为了解决上述技术问题，本专利技术公开了一种测试点位高度差检测用测试治具，包括底板，所述底板上设置有前固定板和后固定板，所述前固定板上设置有前通孔，所述后固定板上设置有后通孔，前固定板与后固定板之间设置有多个测试探针，所述测试探针的两端分别从对应的一对前通孔和后通孔中伸出；前固定板和后固定板固定在一起，前固定板和后固定板上设置有多个导向杆，每个所述导向杆上均设置有弹簧，多个导向杆之间套设有复位板，所述弹簧位于复位板与后固定板之间。
[0007]本专利技术的技术方案，还具有以下特点：
[0008]作为本专利技术的一种优选方案，所述底板上设置有两个加固板，所述前固定板与两个加固板固定连接。
[0009]作为本专利技术的一种优选方案，所述导向杆的数量为四。
[0010]作为本专利技术的一种优选方案，所述前固定板和后固定板之间通过多个螺丝固定在一起。
[0011]作为本专利技术的一种优选方案，所述前固定板与两个加固板之间通过多个销钉固定。
[0012]与现有技术相比：本专利技术的一种测试点位高度差检测用测试治具，在测试前所有距离测试探针的前端都处于同一高度位置，测试过程中，由于待测产品待测点位高度不尽相同，因此所述距离测试探针在接触到所有的待测点位之后被压缩的距离与待测产品待测
点位高度一一对应，因此通过观察距离测试探针的下端的高度可以判断待测品的性能。
附图说明
[0013]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0014]图1为本专利技术的一种测试点位高度差检测用测试治具的结构示意图。
[0015]图中：1.底板，2.前固定板，3.销钉，4.螺丝，5.后固定板，6.加固板，7.复位板，8.导向杆，9.弹簧，10.测试探针。
具体实施方式
[0016]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0017]本专利技术的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本专利技术中的具体含义。
[0018]如图1所示，本专利技术的一种测试点位高度差检测用测试治具，包括底板1、前固定板2、销钉3、螺丝4、后固定板5、加固板6、复位板7、导向杆8、弹簧9、测试探针10。
[0019]其中：前固定板2通过使用两件加固板6以及多颗螺丝4安装在底板1的一侧，若干数量的测试探针10前端穿过前固定板2上的前通孔，后固定板5与前固定板2之间使用多颗螺丝4固定并且将所有安装好的测试探针10完全固定好后，四根等高导向杆8依此穿过复位板7、弹簧9和后固定板5后锁紧固定在前固定板2上。
[0020]底板1为测试治具的载体，用于承载前固定板、后固定板、加固板、复位板、导向杆、弹簧以及测试探针。
[0021]前固定板用于承载若干测试探针，其安装在所述底板一侧，两端使用两件加固板通过螺丝锁紧的方式固定。
[0022]销钉安装在前固定板指定位置，用于在安装后固定板时起到定位作用，通过定位能够很好的保证所述距离测试探针在两个探针固定板上的同轴度，进而保证测试的准确性和稳定性。
[0023]螺丝为测试治具的紧固件，用于安装各个子部件时能够更好的配合在一起。
[0024]后固定板通过销钉定位以及螺丝锁紧的方式紧固在前固定板上，用于配合前固定板使得距离测试探针能够更稳定的安置在指定位置，进而方便测试。
[0025]加固板安装在底板和所述探针前固定板两端且使用螺丝紧固，用于加强治具强度，继而可以提高治具在结构上的稳定性进而提升测试性能。
[0026]复位板安装在后固定板外侧部位，通过使用四根等高导向杆锁紧及导向定位限制在治具内部，并通过四件弹簧顶出，在自由状态时复位板与后固定板保持最大距离，为测试距离或高度差时留下足够广阔的空间。测试完成并且读取测试数据后，通过推动复位板用以时所有所述距离测试探针复位，便于后续测试。
[0027]等高导向杆依次穿过所述复位板、弹簧和探针后固定板锁紧在前固定板上，导向
杆具有锁紧、限制高度和导向作用，锁紧是指将导向杆锁紧在所述探针前固定板上，限制高度是指安装在四根导向杆上的后固定板在四颗弹簧的弹力作用下推至距离后固定板最远的距离，导向作用是指在推压复位板时候能够更顺畅的接近后固定板且不会发生偏摆。
[0028]弹簧安装在复位板和后固定板之间，并且使用导向杆穿过且锁紧在前固定板上。
[0029]测试探针安装在前固定板与后固定板之间，用于测试距离或待测点位高度差。
[0030]前固定板与后固定板之间通过使用两颗销钉定位加螺丝锁紧方式紧固，销钉用于定位前固定板和后固定板进而保证两者之间的位置度，进一步的保证前固定板、测试探针和后固定板三者之间的位置度以及三者之间安装探针位置部位的同轴度，上述极高的位置度和同轴度能极大程度上提高所述测试治具的测试性能；
[0031]测试探针对应待测产品测试点位的位置一一对应分布，测试前，所有距离测试探针的测试端都处于同一高度位置，测试过程中，由于待测产品待测点位高度不尽相同，因此所述距离测试探针在接触到所有的待测点位之后被压缩的距离与待测产品待测点位高度一一对应，因此通过观察距离测试探针的测试端的高度可以判断待测品的性能。
[0032]需要说明的是，测试探针在完成测试后能够展示出待测品测试点位高度差，由于测试探针不具备自恢复功能，因此能够实时保持当前测试状态；当读取测试结果以后，需要本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试点位高度差检测用测试治具，其特征在于，包括底板，所述底板上设置有前固定板和后固定板，所述前固定板上设置有前通孔，所述后固定板上设置有后通孔，前固定板与后固定板之间设置有多个测试探针，所述测试探针的两端分别从对应的一对前通孔和后通孔中伸出；前固定板和后固定板固定在一起，前固定板和后固定板上设置有多个导向杆，每个所述导向杆上均设置有弹簧，多个导向杆之间套设有复位板，所述弹簧位于复位板与后固定板之间。2.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁崇亮，张飞龙，
申请(专利权)人：渭南木王智能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：