按压断开式半导体测试探针制造技术

本发明专利技术公开了一种按压断开式半导体测试探针，包括底座，所述底座上设置有针套和两片弧形板，两所述弧形板布置在针套的外部，所述针套内可上下滑动地设置有针杆，所述针杆内设置有滑槽，所述滑槽中分别放置有第一滑块和第二滑块，第一滑块为倒

【技术实现步骤摘要】
按压断开式半导体测试探针


[0001]本专利技术属于半导体检测
，具体涉及一种按压断开式半导体测试探针
。

技术介绍

[0002]近年，随着半导体产业的快速发展，电子产品的使用范围越来越广泛，使用数量也越来越大，所以印刷电路板也越来越重要，因此，对印刷电路板监测设备的要求越来越高
。
消费者不断地朝着电子产品小巧
、
轻薄的方向发展，随之对于电子产品的性能检测要求也越来越高，探针已被广泛应用于仪表和测试行业中
。
[0003]目前的在线测试设备中测试探针都是按压后接通测试点与传输端开始测试，对于一些半导体类，通常在测试过程中探针内弹簧在压缩到工作行程后进行测试，结束测试需要通过治具打开或气缸推动装有探针的治具向上运动，让探针针头与测试点断开来完成，这样测试方式效率低，很难实现自动化测试，并且测试传输不稳定
。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种按压断开式半导体测试探针，解决现有测试探针在测试过程中存在效率低，很难实现自动化测试，并且测试传输不稳定的问题
。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术公开了一种按压断开式半导体测试探针，包括底座，所述底座上设置有针套和两片弧形板，两所述弧形板布置在针套的外部，所述针套内可上下滑动地设置有针杆，所述针杆内设置有滑槽，所述滑槽中分别放置有第一滑块和第二滑块，第一滑块为倒
V
形结构，第二滑块为
V
形结构，第一滑块的一侧和第二滑块的一侧伸入滑槽后通过销轴铰接在一起，两片弧形板与第一滑块和第二滑块之间设置有针管，所述针管的下端内侧设置有第一导向块和第二导向块，第一导向块与第一滑块的另一侧相接触，第二导向块与第二滑块的另一侧相接触，针杆的尾部与针管之间设置有弹簧
。
[0006]本专利技术的技术方案，还具有以下特点：
[0007]作为本专利技术的一种优选方案，所述弧形板的中部设置有第一通孔
。
[0008]作为本专利技术的一种优选方案，所述针套上设置有一对销孔，所述销孔和滑槽相通
。
[0009]作为本专利技术的一种优选方案，所述针管的底部内侧设置有第一导向柱，所述针杆的尾部设置有第二导向柱，所述弹簧的两端分别套装在第一导向柱和第二导向柱上
。
[0010]作为本专利技术的一种优选方案，所述第一滑块的另一侧斜向外布置，第一导向块与其接触的面斜向内布置；第二滑块的另外侧斜向内布置，第二导向块与其接触的面斜向外布置
。
[0011]与现有技术相比：本专利技术的一种按压断开式半导体测试探针，在测试过程针杆可以被测产品良好接触，在测试完毕后中通过下压针管可以实现针杆与被测试产品快速分离，操作较为简单，能够适应较高效率的半导体测试工作
。
附图说明
[0012]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定
。
在附图中：
[0013]图1为本专利技术的一种按压断开式半导体测试探针的结构示意图；
[0014]图2为本专利技术的一种按压断开式半导体测试探针的剖视图；
[0015]图3为本专利技术的一种按压断开式半导体测试探针的分解图
。
[0016]图中：
1.
针杆，
2.
针管，
3.
弧形板，
4.
针杆，
5.
销轴，
6.
第一滑块，
7.
第一导向块，
8.
弹簧，
9.
第一导向柱，
10.
第二导向柱，
11.
第二滑块，
12.
第二导向块，
13.
针套
。
具体实施方式
[0017]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件
。
下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制
。
[0018]本专利技术的描述中，除非另有明确的限定，设置
、
安装
、
连接等词语应做广义理解，所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本专利技术中的具体含义
。
[0019]实施例1[0020]如图1和图2所示，本专利技术的一种按压断开式半导体测试探针，包括底座1，底座1上设置有针套
13
和两片弧形板3，两片弧形板3布置在针套
13
的外部，针套
13
内可上下滑动地设置有针杆4，针杆4内设置有滑槽，滑槽中分别放置有第一滑块7和第二滑块
11
，第一滑块6为倒
V
形结构，第二滑块
11
为
V
形结构，第一滑块7的一侧和第二滑块
11
的一侧伸入滑槽后通过销轴5铰接在一起，两片弧形板3与第一滑块6和第二滑块
11
之间设置有针管2，针管2的下端内侧设置有第一导向块7和第二导向块
12
，第一导向块7与第一滑块6的另一侧相接触，第二导向块
11
与第二滑块
12
的另一侧相接触，针杆4的尾部与针管2之间设置有弹簧
8。
[0021]结合图3，第一滑块6的另一侧斜向外布置，第一导向块4与其接触的面斜向内布置；第二滑块
11
的另外侧斜向内布置，第二导向块
12
与其接触的面斜向外布置
。
[0022]工作的时候，下压针管2，针管2下端内的第一导向块7会推动第一滑块6以及与其连接的第二滑块
11
向右移动，此时第一滑块6和第二滑块
11
装配在针杆4滑槽中的一侧将推动针杆4上移以达到针杆4与被测产品分离的目的
。
松开针管2，在弹簧8的弹力作用下，针管2上移，此时针管2下端内的第二导向块
12
会推动第二滑块
13
以及与其连接的第亿滑块6向左移动，此时第一滑块6和第二滑块
11
装配在针杆4滑槽中的一侧将推动针杆4下移复位方便针杆4与被测产品接触
。
[0023]实施例2[0024]结合图3，与实施例1不同的是，在本专利技术的一种按压断开式半导体测试探针中，弧形板3的中部设置有第一通孔，针套
13
上设置有一对销孔，销孔和滑槽相通，销轴5可从第一通孔
、
销孔中伸入，以便完成第一滑块6的一侧和第二滑块
11
的一侧通过销轴5铰接在一起，便于进行装配
。
[0025]实施例3[0026]如图2所示，与实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种按压断开式半导体测试探针，其特征在于，包括底座
(1)
，所述底座
(1)
上设置有针套
(13)
和两片弧形板
(3)
，两片所述弧形板
(3)
布置在针套
(13)
的外部，所述针套
(13)
内可上下滑动地设置有针杆
(4)
，所述针杆
(4)
内设置有滑槽，所述滑槽中分别放置有第一滑块
(7)
和第二滑块
(11)
，第一滑块
(6)
为倒
V
形结构，第二滑块
(11)
为
V
形结构，第一滑块
(7)
的一侧和第二滑块
(11)
的一侧伸入滑槽后通过销轴
(5)
铰接在一起，两片弧形板
(3)
与第一滑块
(6)
和第二滑块
(11)
之间设置有针管
(2)
，所述针管
(2)
的下端内侧设置有第一导向块
(7)
和第二导向块
(12)
，第一导向块
(7)
与第一滑块
(6)
的另一侧相...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁崇亮，井高飞，
申请(专利权)人：渭南木王智能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：