本发明公开了一种高精度延迟时钟校准电路及芯片。该延迟时钟校准电路包括脉冲扩展单元、延迟时间检测单元和校准状态机逻辑单元。其中，外部原始时钟信号和延迟时钟信号输入端口分别与脉冲扩展单元的两个输入端连接，脉冲扩展单元的输出端与延迟时间检测单...

本发明公开了一种提高集成电路内置音频总线从机稳定性的装置及方法。该装置包括帧同步模块、比特计数器、错误帧检测模块、移位寄存器、数据控制模块和接收/发送数据缓存模块；其中，帧同步模块接收主机发送的时钟信号和左右声道信号，将帧同步信号发送给...

本发明公开了一种用于MCU芯片检验的自动测试系统，包括系统逻辑控制单元、可调电压输出单元、电压/电流采集单元、第一高精度低压差线性稳压器、第二高精度低压差线性稳压器、直流电源单元和人机接口单元。其中，人机接口单元与系统逻辑控制单元连接；...

本发明公开了一种便携式高精度的基准电压源控制装置。该基准电压源控制装置包括系统控制单元、基准源单元、数模转换单元、模数转换单元、输出缓冲单元、通信接口单元、液晶显示单元和直流电源单元。其中，系统控制单元通过SPI通信方式与数模转换单元及...

本实用新型公开了一种面向微控制器的通信接口测试装置，包括计算机和开关板模块。其中，计算机通过USB转串口模块分别与开关板模块、辅助测试微控制器及待测的微控制器连接；开关板模块通过通信接口分别与辅助测试微控制器及待测的微控制器连接。利用该...

本发明公开了一种窄脉冲信号扩展电路及相应的电子设备。该电路包括信号采集电路和信号扩展电路；其中，信号采集电路由采集用D触发器实现；采集用D触发器的信号输入端输入数字电源信号，时钟控制端输入窄脉冲信号，信号输出端连接信号扩展电路的输入端；...

本实用新型公开了一种面向微控制器的时钟自动化测试装置，包括计算机、交换机、温箱、集线器和频率计。其中，计算机连接集线器，并通过集线器分别连接多个待测的微控制器；计算机通过网线与交换机连接，交换机分别与温箱和频率计连接；待测的微处理器在测...

本发明公开了一种循环冗余校验的计算方法和装置。该计算方法包括如下的步骤：(1)根据循环冗余校验的生成多项式G(x)构造系数矩阵F；(2)求出F

本发明公开了一种自适应速率的数据读写方法，包括以下步骤：S1：从设备上电后，根据来自主设备的波特率识别帧的起始位，计算起始位的波特率；S2：从设备接收到波特率识别帧的数据位，判断波特率识别帧的有效性；S3：从设备计算波特率识别帧的数据位...

本发明公开了一种快速读取程序数据的方法及微控制器。该方法包括以下步骤：将预定程序作为常用程序，生成查找表，并保存在寄存器中；每次上电时，利用查找表查找到常用程序的缓存区中的地址，以从动态存储器中快速调取常用程序的程序数据，其中，查找表中...

本发明公开了一种RC振荡器的高精度自动校准方法和装置。该方法包括以下步骤：S1：检测到外部时钟信号的上升沿时，启动对RC振荡器的振荡信号的信号记录；S2：获得RC振荡器在基于外部时钟信号的时间窗口内的振荡次数，时间窗口是指外部时钟信号的...

本发明公开了一种毛刺信号检测结构，包括控制单元和检测单元，检测单元包括依次级联的采样电路、捕获电路和输出电路，其中：采样电路，包括两路具有不同电压释放速度的串联电阻组，用于采集毛刺原始信号，并将毛刺原始信号分级；捕获电路，包括转接开关组...

本发明公开了一种内部电源供电结构，包括内部电源单元、控制单元、检测单元，其中检测单元包括分级电路，与内部电源单元连接的多个分压电阻；转接电路包括高压分部和低压分部，高压分部、低压分部中的至少一部还包括根据控制单元产生的控制信号接通或阻断...

本发明公开了一种温度自检结构及方法、安全芯片和电子卡。其中：采集电路用于感应温度并分配与温度同步变化的电压等级；分压电路用于向开关电路输出多个不同值的电压信号；开关电路用于在控制单元产生的控制信号的作用下，接通或阻断不同值的电压信号；比...

本发明公开了一种光检测结构，包括控制单元、检测单元，检测单元包括依次级联设置的暗电流消除电路、光电流产生电路和电量保持电路，光电流产生电路，包括第二光敏二极管、第二镜像电流源和第三镜像电流源，用于随动由第二光敏二极管因感应可见光而产生的...

本发明公开了一种外部供电电源上电结构，包括分压电路，其包括与外部供电电源输入端连接的多个分压电阻；开关电路包括高压分支组或低压分支组，其包括自检开关对，以根据控制单元产生的控制信号接通或阻断不同值的自检电压信号；比较电路包括分别对应高压...

本发明公开了一种自检电路，其中：待检对象处理单元，与待检对象和检测单元分别连接，用于从待检对象提取待测参数并分级转换为初级电信号，并将初级电信号分级处理后得到的次级电信号传递至检测单元；检测单元，与控制单元连接，用于根据使能信号，对次级...