光检测结构及检测方法、安全芯片和电子卡技术

本发明专利技术公开了一种光检测结构，包括控制单元、检测单元，检测单元包括依次级联设置的暗电流消除电路、光电流产生电路和电量保持电路，光电流产生电路，包括第二光敏二极管、第二镜像电流源和第三镜像电流源，用于随动由第二光敏二极管因感应可见光而产生的光电流；暗电流消除电路，包括第一镜像电流源与第一光敏二极管，用于消除包括由第一光敏二极管和第二光敏二极管产生的暗电流；电量保持电路，包括电流源、保持电容和反相器，保持电容用于根据电流源进行充电或根据光电流进行放电，并经反相器输出光检测结果；控制单元，用于对比预设检测结果与光检测结果，判断是否存在光攻击。本发明专利技术能实现安全芯片的光攻击检测，电路结构简单，可靠性高。

【技术实现步骤摘要】
光检测结构及检测方法、安全芯片和电子卡
本专利技术涉及一种光检测结构及检测方法、安全芯片和电子卡，属于安全芯片

技术介绍
安全芯片在信息社会的各个领域中应用广泛，主要功能包括对用户关键数据的安全存储、加密、解密以及身份识别等。其作为信息安全的核心部件，使得信息安全性大为增强，其应用正日益广泛地融入到国家安全和百姓生活的方方面面，尤其是与金融相关的应用。然而，针对安全芯片进行的攻击也层出不穷，攻击手段也不断增多。对安全芯片来讲，除了本身具备高工艺品质制造，还要能防止恶意攻击破解芯片，以及硬件防篡改检测电路等安全特性。安全芯片设计是一个比较复杂的系统工程，如何有效侦测安全芯片是否被攻击，实现和发现对受攻击的安全芯片的检测，提供高稳定性、高可靠性的安全防护，成为安全芯片亟待解决的技术问题之一。
技术实现思路
本专利技术所要解决的首要技术问题在于提供一种光检测结构。本专利技术所要解决的另一技术问题在于提供一种光检测方法。本专利技术所要解决的又一技术问题在于提供一种包含前述光检测结构的安全芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光检测结构，用于对安全芯片提供光检测自检，其特征在于包括控制单元、检测单元，所述检测单元包括依次级联设置的暗电流消除电路、光电流产生电路和电量保持电路，其中：/n所述光电流产生电路，包括第二光敏二极管、第二镜像电流源和第三镜像电流源，用于随动由所述第二光敏二极管因感应可见光而产生的光电流；/n所述暗电流消除电路，包括第一镜像电流源与第一光敏二极管，用于消除包括由所述第一光敏二极管和所述第二光敏二极管产生的暗电流；/n所述电量保持电路，包括电流源、保持电容和反相器，所述保持电容用于根据所述电流源进行充电或根据所述光电流进行放电，并经所述反相器输出光检测结果；/n所述控制单元，用于对比预设...

【技术特征摘要】
1.一种光检测结构，用于对安全芯片提供光检测自检，其特征在于包括控制单元、检测单元，所述检测单元包括依次级联设置的暗电流消除电路、光电流产生电路和电量保持电路，其中：
所述光电流产生电路，包括第二光敏二极管、第二镜像电流源和第三镜像电流源，用于随动由所述第二光敏二极管因感应可见光而产生的光电流；
所述暗电流消除电路，包括第一镜像电流源与第一光敏二极管，用于消除包括由所述第一光敏二极管和所述第二光敏二极管产生的暗电流；
所述电量保持电路，包括电流源、保持电容和反相器，所述保持电容用于根据所述电流源进行充电或根据所述光电流进行放电，并经所述反相器输出光检测结果；
所述控制单元，用于对比预设检测结果与所述光检测结果，判断是否存在可见光攻击。


2.如权利要求1所述的光检测结构，其特征在于：所述暗电流消除电路中，包括所述第一光敏二极管、第一场效应管和第二场效应管，其中：
所述第一光敏二极管的正极与第一共节点连接，负极与第一场效应管的触发端和第一端连接；
所述第一场效应管的触发端与第二场效应管的触发极连接，第二端与第二共节点连接；
所述第二场效应管的第一端与光电流产生电路连接，第二端与第二共节点连接；
其中，所述第一共节点为所述第一光敏二极管的正极与所述光电流产生电路的连接点，所述第二共节点为第一场效应管的第二端与所述第二场效应管的第二端的连接点。


3.如权利要求2所述的光检测结构，其特征在于：光电流产生电路中，包括所述第二光敏二极管、第三场效应管、第四场效应管、第五场效应管和第六场效应管，其中：
所述第二光敏二极管的正极与所述第一共节点连接，负极与第二场效应管的第一端连接，还与第三场效应管的触发端和第一端连接；
所述第三场效应管的触发端还与所述第四场效应管的触发端连接，第二端与第二共节点连...

【专利技术属性】
技术研发人员：李立，杨磊，王韩，
申请(专利权)人：天津兆讯电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12