一种面向微控制器的时钟自动化测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种面向微控制器的时钟自动化测试装置，包括计算机、交换机、温箱、集线器和频率计。其中，计算机连接集线器，并通过集线器分别连接多个待测的微控制器；计算机通过网线与交换机连接，交换机分别与温箱和频率计连接；待测的微处理器在测试时放置在温箱中，并通过其中的测试IO接口引出sma射频线，连接频率计的输入端口。利用本实用新型专利技术，可以解放人力、提高效率、避免操作失误、提高数据可信度，并且大幅度缩短项目的测试周期。并且大幅度缩短项目的测试周期。并且大幅度缩短项目的测试周期。

【技术实现步骤摘要】
一种面向微控制器的时钟自动化测试装置


[0001]本技术涉及一种面向微控制器的时钟自动化测试装置，属于集成电路测试


技术介绍

[0002]微控制器(Microcontrollers，简称为MCU)的内部时钟一般由RC振荡器实现，其频率会受到温度的影响，不同温度下的时钟频率是不一致的。因此，微控制器需要在出厂前，在不同温度环境下对其时钟信号进行测试，以确保其内部时钟信号的准确性和稳定性。在现有技术中，微控制器的时钟测试工作一般采用人工测试的方法，在高低温环境中完成测试数据的采集。这种人工测试的方法存在费时费工、效率低下、准确性差的缺陷。
[0003]在授权公告号为CN103207333B的中国专利技术专利中，公开了一种高频频率器件自动测试装置，其包括有计算机、综合控制单元、频率计及高低温箱。其中，综合控制单元包括有核心CPU，核心CPU与计算机交互通信；高低温箱上设有高低温控制单元，高低温箱内设有多个选位测试单元，选位测试单元包括有多组测试工位，每组测试工位包括有138译码器、多个高频继电器和多个器件座，138译码器的多个输出端本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种面向微控制器的时钟自动化测试装置，其特征在于包括计算机、交换机、温箱、集线器和频率计；其中，所述计算机连接所述集线器，并通过所述集线器分别连接多个待测的微控制器；所述计算机通过网线与交换机连接，所述交换机分别与所述温箱和所述频率计连接；待测的微处理器在测试时放置在温箱中，并通过其中的测试IO接口引出sma射频线，连接所述频率计的输入端口。2.如权利要求1所述的时钟自动化测试装置，其特征在于：所述计算机通过USB接口连接所述集线器，并通过所述集线器分别连接多个USB转串口模块，每个USB转串口模块分别连接待测的微控制器的串行通信接口。3.如权利要求1所述的时钟自动化测试装置，其特征在于：所述交换机通过不同网口分别与所述温...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐佳帅，何代明，杨磊，单国鑫，
申请(专利权)人：天津兆讯电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：