一种面向微控制器的时钟自动化测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种面向微控制器的时钟自动化测试装置，包括计算机、交换机、温箱、集线器和频率计。其中，计算机连接集线器，并通过集线器分别连接多个待测的微控制器；计算机通过网线与交换机连接，交换机分别与温箱和频率计连接；待测的微处理器在测试时放置在温箱中，并通过其中的测试IO接口引出sma射频线，连接频率计的输入端口。利用本实用新型专利技术，可以解放人力、提高效率、避免操作失误、提高数据可信度，并且大幅度缩短项目的测试周期。并且大幅度缩短项目的测试周期。并且大幅度缩短项目的测试周期。

【技术实现步骤摘要】
一种面向微控制器的时钟自动化测试装置


[0001]本技术涉及一种面向微控制器的时钟自动化测试装置，属于集成电路测试


技术介绍

[0002]微控制器(Microcontrollers，简称为MCU)的内部时钟一般由RC振荡器实现，其频率会受到温度的影响，不同温度下的时钟频率是不一致的。因此，微控制器需要在出厂前，在不同温度环境下对其时钟信号进行测试，以确保其内部时钟信号的准确性和稳定性。在现有技术中，微控制器的时钟测试工作一般采用人工测试的方法，在高低温环境中完成测试数据的采集。这种人工测试的方法存在费时费工、效率低下、准确性差的缺陷。
[0003]在授权公告号为CN103207333B的中国专利技术专利中，公开了一种高频频率器件自动测试装置，其包括有计算机、综合控制单元、频率计及高低温箱。其中，综合控制单元包括有核心CPU，核心CPU与计算机交互通信；高低温箱上设有高低温控制单元，高低温箱内设有多个选位测试单元，选位测试单元包括有多组测试工位，每组测试工位包括有138译码器、多个高频继电器和多个器件座，138译码器的多个输出端分别连接于多个高频继电器的控制端，多个器件座的输出端分别连接于多个高频继电器的输入端，多个高频继电器的输出端相互连接后再连接至频率计的输入端，频率计将测试结果以电信号的形式通过核心CPU发送至计算机。但是，该专利技术中计算机之外的控制单元仍需要一个核心CPU及其相关连接组件来完成对高频频率器件的测试，结构复杂，成本较高。

技术实现思路

[0004]本技术所要解决的技术问题在于提供一种面向微控制器的时钟自动化测试装置。
[0005]为实现上述目的，本技术采用以下的技术方案：
[0006]一种面向微控制器的时钟自动化测试装置，包括计算机、交换机、温箱、集线器和频率计；其中，
[0007]所述计算机连接所述集线器，并通过所述集线器分别连接多个待测的微控制器；
[0008]所述计算机通过网线与交换机连接，所述交换机分别与所述温箱和所述频率计连接；
[0009]待测的微处理器在测试时放置在温箱中，并通过其中的测试IO接口引出sma射频线，连接所述频率计的输入端口。
[0010]其中较优地，所述计算机通过USB接口连接所述集线器，并通过所述集线器分别连接多个USB转串口模块，每个USB转串口模块分别连接待测的微控制器的串行通信接口。
[0011]其中较优地，所述交换机通过不同网口分别与所述温箱和所述频率计连接。
[0012]其中较优地，所述温箱为YSL
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GDJS
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100型温箱。
[0013]其中较优地，所述频率计为KEYSIGHT/53230A型频率计。
[0014]其中较优地，还包括保温计时器，其与所述计算机连接以触发测试。
[0015]其中较优地，还包括温度传感器，用于检测所述微控制器的温度，以触发测试。
[0016]其中较优地，所述频率计的配置参数包括但不限于采样点数、频率、占空比、上升沿时间、下降沿时间。
[0017]本技术提供的时钟自动化测试装置具有解放人力、提高效率、避免操作失误、提高数据可信度等有益效果，并且支持多个待测的微控制器的并行测试方式，可以大幅度缩短测试项目的测试周期。同时，本技术不需要除PC之外的专用测试设备，有效节约了测试成本。
附图说明
[0018]图1为本技术所提供的时钟自动化测试装置的结构示意图；
[0019]图2为本技术的实施例中，待测试的微处理器的连接关系示意图。
具体实施方式
[0020]下面结合具体实施例和附图对本技术的技术方案做进一步的详细说明。
[0021]如图1所示，本技术提供的时钟自动化测试装置包括计算机(PC)、交换机、集线器(HUB)、温箱和频率计。其中，计算机通过USB接口连接集线器，并通过该集线器分别连接多个USB转串口模块，每个USB转串口模块分别连接待测的微控制器的串行通信接口。另一方面，计算机通过网线与交换机连接。该交换机通过不同网口分别与温箱、频率计连接。待测的各微处理器在测试时放置在温箱中，并通过其中的测试IO接口引出sma射频线，分别连接频率计的各个输入端口，以输出内部的RC时钟信号至频率计。
[0022]图2为本技术的实施例中，待测试的微处理器的连接关系示意图。其中，RX/TX为串行通信接口，用于实现与上述USB转串口模块的连接；其它测试IO接口通过sma射频线连接频率计的输入端口，用于实现时钟频率的自动化测试工作。
[0023]在本技术的实施例中，温箱可以采用YSL
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GDJS
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100或者类似型号的温箱。频率计可以采用KEYSIGHT/53230A或者类似型号的频率计。计算机和交换机可以采用通用设备实现，在此就不具体说明了。此外，本技术还可以包括保温计时器和温度传感器(图中未示)。其中，保温计时器与计算机连接以触发测试。温度传感器在测试时放置在温箱中，用于检测待测的微控制器的温度，以触发测试。
[0024]在进行微处理器的时钟自动化测试时，首先将待测试的微处理器放置在温箱中，并且按照图1和图2所示的方式完成连接。在本技术的实施例中，测试的温度条件分别为：－40℃、－30℃、－20℃、－10℃、0℃、10℃、20℃、30℃、40℃、50℃、60℃、70℃、80℃，当然也可以为其他温度条件。
[0025]下面，具体说明本技术实现微控制器的时钟自动化测试的工作流程：
[0026]S1：计算机通过第一网口经交换机，将－40℃测试温度的控制命令下发给温箱。温箱接收到测试温度设定值后，开始调整温度，以达到该测试温度值。
[0027]S2：计算计通过第一网口经交换机，将配置参数的配置命令下发给频率计，以配置频率计所要采集的数据。在本技术的实施例中，配置参数包括但不局限于采样点数、频率、占空比、上升沿时间、下降沿时间等。所采集的测试数据包括但不局限于频率(平均值、
最大值、最小值)、占空比、上升沿时间、下降沿时间等。
[0028]S3：计算机读取温箱当前的温度值，当温箱的温度与设定的温度一致时，等待预定时间(例如3分钟)，以确保微控制器内部的温度也达到设定温度。
[0029]S4：当预定时间到达时，计算机通过USB转串口模块将测试内部RC时钟的测试命令下发给待测的微控制器。
[0030]S5：待测的微控制器通过测试IO端口输出内部RC时钟数据至频率计。
[0031]S6：计算机通过网口接收由频率计所采集的测试数据，并记录测试数据到excel文件中。该文件即是－40℃温度条件下待测的微控制器的内部RC时钟的数据测试结果。
[0032]S7：返回步骤S1～S6，进行下一个温度条件下的测试工作。
[0033]待测的微控制器在其它不同温度条件下的测试工作，从－30℃温度至80℃本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种面向微控制器的时钟自动化测试装置，其特征在于包括计算机、交换机、温箱、集线器和频率计；其中，所述计算机连接所述集线器，并通过所述集线器分别连接多个待测的微控制器；所述计算机通过网线与交换机连接，所述交换机分别与所述温箱和所述频率计连接；待测的微处理器在测试时放置在温箱中，并通过其中的测试IO接口引出sma射频线，连接所述频率计的输入端口。2.如权利要求1所述的时钟自动化测试装置，其特征在于：所述计算机通过USB接口连接所述集线器，并通过所述集线器分别连接多个USB转串口模块，每个USB转串口模块分别连接待测的微控制器的串行通信接口。3.如权利要求1所述的时钟自动化测试装置，其特征在于：所述交换机通过不同网口分别与所述温...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐佳帅，何代明，杨磊，单国鑫，
申请(专利权)人：天津兆讯电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：