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台湾中华精测科技股份有限公司专利技术
台湾中华精测科技股份有限公司共有24项专利
探针卡结构及其制作方法技术
本申请公开一种探针卡结构及其制作方法。探针卡结构包括载板、包覆结构及中心导体。载板为第一堆叠结构,并包括通道。包覆结构为第二堆叠结构,并设于通道内,且包括中心轴部。中心轴部连通通道的相对二端。第一堆叠结构及第二堆叠结构分别包括多个依序堆...
共地型芯片测试插座制造技术
本发明公开一种共地型芯片测试插座。共地型芯片测试插座包含一金属外框、一金属固持座及多个接地弹簧探针。所述金属固持座安装于所述金属外框,以共同包围形成有一容置槽。多个所述接地弹簧探针紧配合地固持于所述金属固持座,以使多个所述接地弹簧探针、...
匹配型芯片测试插座制造技术
本发明公开一种匹配型芯片测试插座。匹配型芯片测试插座包含一金属外框、一金属固持座、多个接地弹簧探针及多个绝缘匹配体。所述金属固持座安装于所述金属外框,以共同包围形成有一容置槽。所述金属固持座沿一预设方向凹设形成有呈贯穿状且连通于所述容置...
芯片测试插座制造技术
本发明公开一种芯片测试插座。芯片测试插座包含一金属外框、安装于所述金属外框的一固持座及彼此间隔地安装于所述固持座的多个弹簧探针。所述金属外框与所述固持座共同包围形成有一容置槽。所述固持座包含有一金属隔板、分别设置于所述金属隔板相反两侧的...
可拆式测试装置及其固持座制造方法及图纸
本发明公开一种可拆式测试装置及其固持座。所述固持座包含一电路板、一外框架、一连接层及一转板模块。所述外框架安装于所述电路板并共同包围形成一容置空间。所述连接层设置于所述电路板上且包含彼此间隔设置的多个导电胶柱,其各自的一端部抵顶且电性耦...
可拆式测试装置及其线路扇出结构制造方法及图纸
本发明公开一种可拆式测试装置及其线路扇出结构。所述线路扇出结构包含有一中介板、一支撑层、一扇出转接板及多个焊接体。所述支撑层夹持于所述中介板的一宽距内接面与所述扇出转接板的一扇出内接面之间。所述支撑层形成有多个穿孔,所述宽距内接面的多个...
可拆式测试装置及其固持座与转板模块制造方法及图纸
本发明公开一种可拆式测试装置及其固持座与转板模块。所述固持座包含一电路板、安装于所述电路板的一外框架、设置于所述电路板的一连接层及设置于所述连接层的一转板模块。所述连接层包含有一陶瓷基板及多个所述导电弹臂,并且所述陶瓷基板具有位于相反侧...
悬臂式探针卡及其探针模块制造技术
本发明公开一种悬臂式探针卡及其探针模块
悬臂式探针卡装置及其对焦型探针制造方法及图纸
本发明公开一种悬臂式探针卡装置及其对焦型探针。所述对焦型探针包含一焊接段、一测试段、彼此间隔地设置的两个外弹性臂及一对焦部。所述测试段与所述焊接段在一配置方向上呈间隔地设置,并且所述测试段具有一针尖及分别位于所述针尖相反两侧的一外边缘与...
悬臂式探针卡及其承载座制造技术
本发明公开一种悬臂式探针卡及其承载座。所述承载座包含一座体、一金属承载片及多个粗调整件。所述金属承载片安装于所述座体并具有一承载面。多个所述粗调整件彼此间隔地设置于所述座体与所述金属承载片之间。每个所述粗调整件能沿一测试方向而独立地运作...
悬臂式探针卡装置及其弹臂型探针制造方法及图纸
本发明公开一种悬臂式探针卡装置及其弹臂型探针。所述弹臂型探针包含一焊接段、一测试段及彼此间隔地设置的两个外弹性。所述测试段与所述焊接段在一配置方向上呈间隔地设置,并且所述测试段具有一针尖及分别位于所述针尖相反两侧的一外边缘与一内边缘。每...
多针形垂直式探针卡制造技术
本发明公开一种多针形垂直式探针卡,其包含彼此呈间隔地设置的一第一导板单元与一第二导板单元及穿设于所述第一导板单元与所述第二导板单元的多个栅栏状探针。每个所述栅栏状探针的针长度介于5毫米~8毫米之间,并包含一栅栏段及分别相连于所述栅栏段两...
垂直式探针卡及其栅栏状探针制造技术
本发明公开一种垂直式探针卡及其栅栏状探针。所述栅栏状探针具有介于5毫米~8毫米之间的一针长度。所述栅栏状探针包含一栅栏段、一陶瓷层、一连接段与一测试段。所述栅栏段呈长形且定义有一长度方向,所述栅栏段形成有沿着所述长度方向的一贯穿槽,并且...
模块化垂直式探针卡制造技术
本发明公开一种模块化垂直式探针卡,其包含彼此呈间隔地设置的一第一导板单元与一第二导板单元及穿设于所述第一导板单元与所述第二导板单元的多个导电探针。多个所述导电探针具有相同的针长度,并且每个所述导电探针包含位于所述第一导板单元与所述第二导...
垂直式探针卡装置及其栅栏状探针制造方法及图纸
本发明公开一种垂直式探针卡装置及其栅栏状探针。所述栅栏状探针具有介于5毫米~8毫米之间的一针长度。所述栅栏状探针包含一栅栏段、一连接段与一测试段。所述栅栏段呈长形且定义有一长度方向,所述栅栏段形成有一贯穿槽与一第一凸块。所述贯穿槽沿着所...
悬臂式探针结构制造技术
本发明公开一种悬臂式探针结构。悬臂式探针结构包含一固定段、相连于固定段的一行程段、相连于行程段的一针测段。行程段朝远离固定段的方向依序具有一第一特征部、一弹性部及一第二特征部,第一特征部与第二特征部彼此相向且间隔设置,针测段相连于第二特...
探针卡装置及双臂式探针制造方法及图纸
本发明公开一种探针卡装置及双臂式探针,所述双臂式探针具有一针长度,并包括分别位于两端的一分叉端部及一测试端部。所述双臂式探针的外表面包含分别位于相反侧的两个宽侧面。所述双臂式探针自所述分叉端部的分叉口朝向所述测试端部延伸形成有自两个所述...
板状连接器与其双臂式串接件及晶片测试组件制造技术
本发明公开一种板状连接器与其双臂式串接件及晶片测试组件。所述板状连接器包含彼此间隔地设置的多个双臂式串接件及一绝缘层。每个双臂式串接件包含一承载体、自所述承载体延伸且呈共平面设置的一第一悬臂与一第二悬臂及分别自所述第一悬臂与所述第二悬臂...
探针匹配组件及其承载板制造技术
本发明提供一种探针匹配组件,包含一承载板以及多根探针。承载板包括开设有复数探针容置孔及至少一匹配孔。各探针间隔的穿接在各探针容置孔并固定在承载板中,各探针包含至少一讯号探针及多根接地探针。所述至少一匹配孔开设在至少一讯号探针及任一接地探...
探针卡装置及其抛弃式调整片制造方法及图纸
本发明公开一种探针卡装置及其抛弃式调整片。所述抛弃式调整片为一体成形的单件式构造且包含一探针孔与彼此平行排列的多个第一槽孔。所述抛弃式调整片定义有自其相反两个边缘分别延伸至所述探针孔的两个预断线,并且两个所述预断线分别与多个所述第一槽孔...
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