本发明公开了一种半导体测试机及其测试通道直流校准方法，其方法包括：将待校准管脚配置为悬空状态并工作于电流驱动模式；测量待校准管脚在不同驱动电流值下的测试电压值，得到测试电压值最接近0V时的驱动电流值；将测试电压值最接近0V时的驱动电流值...

本实用新型公开了一种弹簧针模组转接结构及半导体设备，其包括：上盖，上盖上设有上连接孔；下盖，下盖通过支撑柱与上盖连接，下盖上设有下连接孔；导电套管，导电套管的上端与上连接孔插接，下端与下连接孔插接，导电套管的上端设有上容纳腔，导电套管的...

本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试电路，包括：第一数模转换器，用于获取第一参考电压，并通过数码值调节第一输出电压；第二数模转换器，用于获取第二参考电压，并通过数码值调节第二输出电压；电压合成模块，用于将第一输出电压和第二输出...

本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试方法，该芯片测试方法用于测量被测芯片在低功耗模式下的静态工作电流，测试机包括用于给被测芯片供电的可编程电源，和连接在被测芯片的各个被测管脚上的多个测试通道，该方法包括以下步骤：将被测芯片配置...

本发明公开一种信号调整单元、信号调整模块及测试机，信号调整单元包括控制端，其包括模拟联动开关；信号调整电路包括场效应管和SRD二极管；节点连接输出端；当输出信号为上升沿脉冲信号或下降沿脉冲信号时，给模拟联动开关一控制指令，使得模拟联动开...

本发明公开了一种通道传输延时差异测量系统及方法，包括：参考通道；多个待测通道；测量模块，该测量模块包括第一测量线路、第二测量线路和多个节点相位测量单元，其中：每一个节点相位测量单元获取对应的参考节点和测量节点的信号作为一对输入信号，根据...

本发明涉及一种测试探针，包括头部，其包括至少两个能够张开或闭合的针瓣；尾部形成该测试探针的主体；以及过渡部，其包括两端，其中一端连接头部，另一端连接尾部，且连接头部一端的横向尺寸大于连接尾部一端的横向尺寸，以使过渡部的外壁具有从头部向尾...

本发明涉及集成电路测试技术领域，公开了一种延时测量电路、AC校准装置及IC测量装置，延时测量电路包括同步信号源，用以分多次且每次产生一个不同频率的连续方波信号；被测通道，用以与同步信号源连接并分多次接收连续方波信号；参考电路，用以与同步...

本发明涉及一种IC测试机台的校准方法，IC测试机台包括弹簧针塔和探针卡，校准方法用以校准弹簧针塔与探针卡之间的水平度，包括：提供一检测板；以检测板代替探针卡位置；加载检测信号获取探针阵列中每个探针对应的接触电阻值；将接触电阻值绘制成阵列...

本发明公开了一种多通道信号汇流电路，包括：输入端，包括多个接收输入信号的通道，且所述输入信号每次以择一的方式输入至该多个通道中的一个；汇流点，设置在多个所述通道的交汇处，该汇流点与所述输入端之间存在一电压差；输出端，所述输入信号经过所述...

本发明涉及集成电路测试技术领域，公开了一种延时测量电路、同步信号补偿装置及IC测量装置，其延时测量电路包括分路模块、排序电路、参考电路和锁存器，分路模块用以将待测通道内的上升沿信号分成N路上升沿信号；其中，N为大于1的整数；排序电路用以...

本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种半导体测试机多个测试通道直流参数的校准方法。包括半导体测试机，半导体测试机的每个待校准通道的输入端分别连接一个线性运算电路模块，其特征在于具体包括如下步骤：S1，每个线性运算电路模块共同连接一...