芯片测试电路、测试方法及测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试电路，包括：第一数模转换器，用于获取第一参考电压，并通过数码值调节第一输出电压；第二数模转换器，用于获取第二参考电压，并通过数码值调节第二输出电压；电压合成模块，用于将第一输出电压和第二输出电压相加或相减，并输出测试电压；计算模块，用于根据目标测试电压计算目标数码值，并根据目标数码值计算对应的第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值，使芯片测试电路的等效数码值与目标数码值相匹配；配置模块，用于以计算好的第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值配置第一数模转换器和第二数模转换器。本发明专利技术可利用低分辨率数模转换器实现高分辨率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试电路、测试方法及测试装置


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，特别涉及一种芯片测试电路、测试方法及测试装置。

技术介绍

[0002]芯片测试机通常需要具备较高精度和分辨率的电压电流测量资源。当测试机内部电路使用DAC（数模转换器）实现电压电流可编程输出时，输出量的分辨率由DAC的数码位宽决定。例如，基于16bit的DAC来实现设计，则分辨率相当于把量程范围分为2
16
份，例如量程范围是10V，则分辨率为0.15mV。为了满足测量精度更高的应用场景，通常必须使用更高数码位宽的DAC。但是24bit及以上的DAC往往价格昂贵，供货不稳定。如何用普通规格的DAC（例如16bit）实现更高精度（例如24bit）的分辨率，是长期困扰从业人员的难题。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题是提供一种利用低精度数模转换器实现高精度分辨率、有效降低成本的芯片测试电路。
[0004]为了解决上述问题，本专利技术提供了一种芯片测试电路，用于给被测芯片提供测试电压，其包括：第一数模转换器，用于获取第一参考电压，并通过数码值调节第一输出电压；第二数模转换器，用于获取第二参考电压，并通过数码值调节第二输出电压；电压合成模块，用于将所述第一输出电压和第二输出电压相加或相减，并输出测试电压；计算模块，用于根据目标测试电压计算目标数码值，并根据目标数码值计算对应的所述第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值，使所述芯片测试电路的等效数码值与目标数码值相匹配；配置模块，用于以计算好的所述第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值配置所述第一数模转换器和第二数模转换器。
[0005]作为本专利技术的进一步改进，还包括：参考电压源，用于提供参考电压；分压电路，用于对参考电压源的参考电压分压，以生成所述第一参考电压和第二参考电压。
[0006]作为本专利技术的进一步改进，所述分压电路包括：第一分压模块和第二分压模块，所述第一分压模块和第二分压模块用于对所述参考电压分压，所述第一分压模块的分压点的电压为第一参考电压，所述第二分压模块的分压点的电压为第二参考电压，所述第二分压模块的分压值大于所述第一分压模块的分压值。
[0007]作为本专利技术的进一步改进，所述第一分压模块为第一分压电阻，所述第二分压模
块为第二分压电阻，所述参考电压源、第一分压电阻和第二分压电阻依次串联后接地。
[0008]作为本专利技术的进一步改进，R2>100R1；其中，R1为第一分压电阻，R2为第二分压电阻。
[0009]作为本专利技术的进一步改进，所述计算模块还用于计算所述芯片测试电路的等效数码值的连续有解区间。
[0010]作为本专利技术的进一步改进，所述电压合成模块为电压加法器，所述电压加法器用于将所述第一输出电压和第二输出电压相加。
[0011]作为本专利技术的进一步改进，所述电压合成模块为电压减法器，所述电压减法器用于将所述第一输出电压和第二输出电压相减。
[0012]作为本专利技术的进一步改进，所述第一数模转换器和第二数模转换器的数码位宽相同。
[0013]作为本专利技术的进一步改进，所述第一数模转换器和第二数模转换器的数码位宽均小于24位。
[0014]本专利技术还提供了一种芯片测试方法，应用于如上述任一所述的芯片测试电路，其包括以下步骤：根据目标数码值计算对应的所述第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值；配置所述第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值，使所述芯片测试电路的等效数码值与目标数码值相匹配。
[0015]作为本专利技术的进一步改进，在根据目标数码值计算对应的所述第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值之前，还包括以下步骤：计算所述芯片测试电路的等效数码值的连续有解区间。
[0016]本专利技术还提供了一种芯片测试装置，用于对芯片进行测试，其集成有如上述任一所述的芯片测试电路，并通过所述芯片测试电路提供测试电压。
[0017]本专利技术的有益效果：本专利技术的芯片测试电路通过第一数模转换器获取第一参考电压，并通过数码值调节第一输出电压，通过第二数模转换器获取第二参考电压，并通过数码值调节第二输出电压，并通过电压合成模块将第一输出电压和第二输出电压相加或相减，并输出测试电压。其中，第一参考电压和第二参考电压越接近，输出的测试电压分辨率越高。本专利技术可通过利用低分辨率数模转换器实现高分辨率，有效降低成本。
[0018]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
附图说明
[0019]图1是本专利技术实施例一中芯片测试电路的结构图。
[0020]标记说明：10、电压合成模块。
具体实施方式
[0021]下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本专利技术并能予以实施，但所举实施例不作为对本专利技术的限定。
[0022]很多常用规格的DAC器件需要一个外部的参考电压输入。DAC的输出电压是以参考电压为基准的。这些DAC的输出电压通常公式为：Vout=V_REF*(DAC_code)/2
N
其中，Vout是DAC的模拟量输出电压；N是DAC的数码位宽，例如16bit的DAC，N=16；V_REF是参考电压，DAC_code是DAC的数码值，其取值范围是[0，2
N
‑
1]内的整数。
[0023]此时DAC的输出电压的分辨率，即数码值最小比特反转带来的电压变化，可表示为V_LSB，有：V_LSB=V_REF/2
N
如果使用两个相同规格的DAC，给到两个参考电压输入有微弱的差异，则两个DAC的V_LSB也会有同等比例的微弱差异。
[0024]当两路DAC的输出电压相加，总输出电压为：V
总
=Vout1+Vout2=V_LSB1*DAC_code1+V_LSB2*DAC_code2当两路DAC的输出电压相减，总输出电压为：V
总
=Vout1
‑
Vout2=V_LSB1*DAC_code1
‑
V_LSB2*DAC_code2其中，DAC_code1和DAC_code2分别为两路DAC的数码值；V_LSB1和V_LSB2分别为两路DAC的输出电压的分辨率。
[0025]当DAC_code1和DAC_code2同时变化1，例如在电压相加的方案中，DAC_code1加1，DAC_code2减1，或者反之，又例如在电压相减的方案中，DAC_code1和DAC_code2同时加1，或者同时减1，则可以实现总输出电压的最精细变化量为V_LSB1
‑
V_LSB2，这个量比V_LSB1小得多。通过这个方法就可以实现更精细的输出电压调节。
[0026本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试电路，用于给被测芯片提供测试电压，其特征在于，包括：第一数模转换器，用于获取第一参考电压，并通过数码值调节第一输出电压；第二数模转换器，用于获取第二参考电压，并通过数码值调节第二输出电压；电压合成模块，用于将所述第一输出电压和第二输出电压相加或相减，并输出测试电压；计算模块，用于根据目标测试电压计算目标数码值，并根据目标数码值计算对应的所述第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值，使所述芯片测试电路的等效数码值与目标数码值相匹配；配置模块，用于以计算好的所述第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值配置所述第一数模转换器和第二数模转换器。2.如权利要求1所述的芯片测试电路，其特征在于，还包括：参考电压源，用于提供参考电压；分压电路，用于对参考电压源的参考电压分压，以生成所述第一参考电压和第二参考电压。3.如权利要求2所述的芯片测试电路，其特征在于，所述分压电路包括：第一分压模块和第二分压模块，所述第一分压模块和第二分压模块用于对所述参考电压分压，所述第一分压模块的分压点的电压为第一参考电压，所述第二分压模块的分压点的电压为第二参考电压，所述第二分压模块的分压值大于所述第一分压模块的分压值。4.如权利要求3所述的芯片测试电路，其特征在于，所述第一分压模块为第一分压电阻，所述第二分压模块为第二分压电阻，所述参考电压源、第一分压电阻和第二分压电阻依次串联后接地。5.如权利要求4所述的芯片测试电路，其特征在于，R2>100R1；其中，R1为第一分压电阻，R...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏津，胡雪原，徐润生，
申请(专利权)人：绅克半导体科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：