芯片工艺监测测试装置制造方法及图纸

技术编号:30557326 阅读:14 留言:0更新日期:2021-10-30 13:39
本实用新型专利技术属于芯片测试技术领域,具体为芯片工艺监测测试装置,包括测试装置整体、放置箱、固定架和固定板,测试装置整体的顶端固定连接有放置箱,放置箱的左侧固定连接有固定架,放置箱的中间固定连接有固定板,放置箱的顶端固定连接有导向杆,放置箱的底端固定连接有支撑腿,固定板的正面活动连接有转动轴,转动轴是用来转动旋转板的,在要进行拆卸的时,先将固定板上的旋转板带动转动轴进行转动,使其不接触到测试平台,然后在握住测试平台上的拉手,将测试平台通过滑动槽拉出来,这时测试平台被拉出来就可以对测试槽内或者测试平台的内部进行检查维修了,拆卸时简单快捷,使得工作人员更方便的进行维修,避免了装置拆卸麻烦的问题。烦的问题。烦的问题。

【技术实现步骤摘要】
芯片工艺监测测试装置


[0001]本技术属于芯片测试
,具体为芯片工艺监测测试装置。

技术介绍

[0002]半导体激光器由于具有体积小、重量轻、电光转换效率高等优点,因此在工业、医学和科研领域中广泛地使用大功率半导体激光作为工作光源,半导体激光器芯片作为激光光源的核心部件,在生产各个环节都要进行光电参数测试,通过测试可以了解半导体激光器芯片的工作性能和可靠性,为改进半导体激光器的生产检验提供依据,这就需要一种定位精度高的芯片测试装置。
[0003]现有的测试装置拆卸较为麻烦,在装置出现问题的时候,是需要将装置进行拆卸然后维修的,因为拆卸麻烦就会浪费大量的时间并降低测试的效率,而且现有的测试装置在测试时,无法控制按压的力度,使得芯片在按压时无法完全接触到装置,就会使得测试的结果不准确。
[0004]所以,如何设计芯片工艺监测测试装置,成为我们当前需要解决的问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于:为了解决拆卸麻烦和无法控制力度的问题,提供芯片工艺监测测试装置。
[0006]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:
[0007]芯片工艺监测测试装置,包括测试装置整体、放置箱、固定架和固定板,所述测试装置整体的顶端固定连接有放置箱,所述放置箱的左侧固定连接有固定架,所述放置箱的中间固定连接有固定板,所述放置箱的顶端固定连接有导向杆,所述放置箱的底端固定连接有支撑腿,所述固定板的正面活动连接有转动轴,所述转动轴的外围固定连接有旋转板,所述固定板的顶端活动连接有测试平台,所述测试平台的顶端固定连接有测试槽,所述导向杆的顶端固定连接有支撑件,所述支撑件的底端固定连接有自动伸缩杆,所述自动伸缩杆的底端固定连接有安装件,所述安装件的底端固定连接有电极板,所述放置箱的底部固定连接有插头。
[0008]优选的,所述固定架的顶端固定连接有照明灯。
[0009]优选的,所述支撑腿的底端固定连接有防滑垫。
[0010]优选的,所述放置箱的顶部固定连接有把手。
[0011]优选的,所述放置箱与放置箱中间的固定板、固定板正面的转动轴、转动轴外围的旋转板、固定板顶端的测试平台和测试平台顶端的测试槽共同组成拆卸结构。
[0012]优选的,所述放置箱是由放置箱顶端的导向杆、导向杆顶端的支撑件、支撑件底端的自动伸缩杆、自动伸缩杆底端的安装件和安装件底端的电极板同组成。
[0013]与现有技术相比,本种技术的有益效果是:
[0014]1.本技术中,固定板,在需要进行拆卸的时候,只需要先将固定板上的旋转板
带动转动轴进行转动,使其不接触到测试平台,然后在握住测试平台上的拉手,将测试平台通过滑动槽拉出来,这时测试平台被拉出来就可以对测试槽内或者测试平台的内部进行检查维修了,拆卸时简单快捷,使得工作人员更方便的进行维修,避免了装置拆卸麻烦的问题。
[0015]2.本技术中,电极板,在需要按压芯片的时候,只需要先将芯片放置在测试槽中,然后启动自动伸缩杆,这时支撑件上的自动伸缩杆会带动安装件在导向杆上进行移动,当移动到一定的位置时电极板就能接触到芯片并对齐按压,自动伸缩杆可以智能调整到合适的力度,每块电极板的压力可以保持一致,同时增大了与待测芯片的接触面积,避免了无法控制力度的问题。
附图说明
[0016]图1为本技术的整体立体结构示意简图。
[0017]图2为本技术的固定板结构示意简图。
[0018]图3为本技术的导向杆结构示意简图。
[0019]图4为本技术的照明灯结构示意简图。
[0020]图中:1、测试装置整体;2、放置箱;3、插头;4、固定架;5、照明灯;6、固定板;7、导向杆;8、支撑腿;9、防滑垫;10、把手;601、转动轴;602、旋转板;603、测试平台;604、测试槽;701、支撑件;702、自动伸缩杆;703、安装件;704、电极板。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例,基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0022]在本技术的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0023]此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量,由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征,在本技术的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
[0024]实施例一,请参阅图1

4,本技术提供一种技术方案:芯片工艺监测测试装置,包括测试装置整体1、放置箱2、固定架4和固定板6,测试装置整体1的顶端固定连接有放置箱2,放置箱2的左侧固定连接有固定架4,放置箱2的中间固定连接有固定板6,放置箱2的顶端固定连接有导向杆7,放置箱2的底端固定连接有支撑腿8,固定板6的正面活动连接有转动轴601,转动轴601的外围固定连接有旋转板602,固定板6的顶端活动连接有测试平台603,测试平台603的顶端固定连接有测试槽604,导向杆7的顶端固定连接有支撑件701,支
撑件701的底端固定连接有自动伸缩杆702,自动伸缩杆702的底端固定连接有安装件703,安装件703的底端固定连接有电极板704,放置箱2的底部固定连接有插头3。
[0025]优选的,固定架4的顶端固定连接有照明灯5,照明灯5的作用是用来照明的,在放置芯片检测的时候,因为芯片底部的针孔较小,在对齐放置的时候没看清楚就放置的话就是使得针孔出现被压坏的情况,所以设有了照明灯5,照明灯5固定在装置的左侧,在放置芯片的之前可以将照明灯5开启,这样放置时就能清楚的将芯片对齐,避免了因看不清导致芯片损坏的问题。
[0026]优选的,支撑腿8的底端固定连接有防滑垫9,防滑垫9的作用是用来防滑的,因为在按压芯片的时候,装置会出现震动,当装置放置在桌面上时候,可能会因为震动导致装置滑落至地面,所以设有了防滑垫9,防滑垫9是由防滑橡胶组成的,防滑垫9的底端设有防滑颗粒,可以增加与桌面的摩擦力,避免了装置在使用时会出现滑落的问题。
[0027]优选的,放置箱2的顶部固定连接有把手10,把手10的作用是用来移动装置的,因为装置的重量本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.芯片工艺监测测试装置,包括测试装置整体(1)、放置箱(2)、固定架(4)和固定板(6),其特征在于:所述测试装置整体(1)的顶端固定连接有放置箱(2),所述放置箱(2)的左侧固定连接有固定架(4),所述放置箱(2)的中间固定连接有固定板(6),所述放置箱(2)的顶端固定连接有导向杆(7),所述放置箱(2)的底端固定连接有支撑腿(8),所述固定板(6)的正面活动连接有转动轴(601),所述转动轴(601)的外围固定连接有旋转板(602),所述固定板(6)的顶端活动连接有测试平台(603),所述测试平台(603)的顶端固定连接有测试槽(604),所述导向杆(7)的顶端固定连接有支撑件(701),所述支撑件(701)的底端固定连接有自动伸缩杆(702),所述自动伸缩杆(702)的底端固定连接有安装件(703),所述安装件(703)的底端固定连接有电极板(704)。2.根据权利要求1所述的芯片工艺监测测试装置,其特征在于:所述放置箱(2)的底部固定连接有插头(3)。3.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:吕学信
申请(专利权)人:合肥瀚信科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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