一种心率光感芯片的测试装置制造方法及图纸

技术编号:30552065 阅读:17 留言:0更新日期:2021-10-30 13:32
本实用新型专利技术涉及半导体元件封装测试领域的一种心率光感芯片的测试装置,包括转盘,配合转盘设置的测试机械装置,所述测试机械装置包括机械臂和测试机械手,所述机械臂带动测试机械手进行移动;所述测试机械手通过快插结构安装在机械臂上,所述测试机械手包括测试主体,配合测试主体设置的连接部,位于测试主体内部的吸嘴流道,位于测试主体底部的吸嘴及配合测试主体设置的测试放置部;本实用新型专利技术广泛用于光感芯片的测试中,能够同时满足芯片测试和芯片转移的目的,降低了设备成本投入,提高了测试效率,充分实现了产品转移测试的一体化。化。化。

【技术实现步骤摘要】
一种心率光感芯片的测试装置


[0001]本技术涉及半导体封装测试领域内的一种测试装置。

技术介绍

[0002]现有技术中,在传统的bowl feeder 设备上,需要特定的设备进行检测,传统的方案是,首先将产品运输进轨道,然后通过其他辅助转盘将产品转移至一个密封的桶里面进行光感测试;在实际的生产测试过程中需要对产品进行转移,这种情况下导致测试时候浪费了较多的时间,测试效率低下,不能完成高效的测试工作,费时费力。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是提供一种心率光感芯片的测试装置,本技术广泛用于光感芯片的测试中,能够同时满足芯片测试和芯片转移的目的,降低了设备成本投入,提高了测试效率,充分实现了产品转移测试的一体化。
[0004]本技术的目的是这样实现的:一种心率光感芯片的测试装置,包括转盘,配合转盘设置的测试机械装置,所述测试机械装置包括机械臂和测试机械手,所述机械臂带动测试机械手进行移动;所述测试机械手通过快插结构安装在机械臂上,所述测试机械手包括测试主体,配合测试主体设置的连接部,位于测试主体内部的吸嘴流道,位于测试主体底部的吸嘴及配合测试主体设置的测试放置部。
[0005]本技术在需要清洁的时候,设置好上侧工作部和下侧工作部之间的距离,通过上U形夹块和下U形夹块进行预锁紧,预锁紧之后,在测试放置部处安装好灰片,再进行锁紧;然后在需要对芯片进行光感测试时候,只需要转动机械臂带动测试机械手进行转动,然后吸嘴流道开始抽吸,这样可以确保吸嘴能够稳定的吸住待测试的芯片,吸住之后可以直接通过测试放置部的灰片进行光感测试,这样可以实现转动测试一体化的工作,提高工作效率。
[0006]本技术的有益效果在于,本技术广泛用于光感芯片的测试中,能够同时满足芯片测试和芯片转移的目的,降低了设备成本投入,提高了测试效率,充分实现了产品转移测试的一体化。
[0007]作为本技术的进一步改进,为保证测试主体能够稳定的进行工作,提高工作效率;所述测试主体分别包括上侧工作部和下侧工作部,配合上侧工作部设置的上U形夹块,配合下侧工作部设置的下U形夹块,所述上U形夹块和下U形夹块通过中间连接块连接。
[0008]作为本技术的进一步改进,为保证吸嘴流道形成环形流道,同时确保工作能够正常的进行,稳定的进行吸附;所述吸嘴流道依次位于上侧工作部内部、上U形夹块内部、中间连接块内部、下U形夹块内部及下侧工作部内部;所述吸嘴位于下侧工作部的底部。
[0009]作为本技术的进一步改进,为保证该装置能够稳定的进行测试工作;所述上侧工作部和下侧工作部间隔一段距离设置,所述测试放置部位于上侧工作部和下侧工作部之间的位置;所述下侧工作部的顶部和上侧工作部的底部呈圆形台面设置。
[0010]作为本技术的进一步改进,为保证该装置工作稳定,吸附可靠,同时便于进行调节;所述上U形夹块和下U形夹块分别配合设置有锁紧螺栓,所述上U形夹块和下U形夹块分别通过锁紧螺栓固定安装在上侧工作部和下侧工作部上。
[0011]作为本技术的进一步改进,为保证密封性好,工作稳定;所述吸嘴流道各个接口的位置配合设置有橡胶密封机构。
[0012]作为本技术的进一步改进,为保证吸附可靠,吸附效率高,待测的物品不会掉落;所述吸嘴包括若干组小吸嘴,每个小吸嘴均配合设置有小密封圈。
附图说明
[0013]图1为本技术的结构视图。
[0014]图2为本技术的立体图。
[0015]图3为小吸嘴的排布图。
[0016]其中,1上U形夹块、2下U形夹块、3锁紧螺栓、4机械臂、5芯片、6下侧工作部、7上侧工作部、8吸嘴流道、9灰片、10小吸嘴。
具体实施方式
[0017]如图1

3所示,本技术的目的是这样实现的:一种心率光感芯片的测试装置,包括转盘,配合转盘设置的测试机械装置,所述测试机械装置包括机械臂4和测试机械手,所述机械臂4带动测试机械手进行移动;所述测试机械手通过快插结构安装在机械臂4上,所述测试机械手包括测试主体,配合测试主体设置的连接部,位于测试主体内部的吸嘴流道8,位于测试主体底部的吸嘴及配合测试主体设置的测试放置部;所述测试主体分别包括上侧工作部7和下侧工作部6,配合上侧工作部7设置的上U形夹块1,配合下侧工作部6设置的下U形夹块2,所述上U形夹块1和下U形夹块2通过中间连接块连接;所述吸嘴流道8依次位于上侧工作部7内部、上U形夹块1内部、中间连接块内部、下U形夹块2内部及下侧工作部6内部;所述吸嘴位于下侧工作部6的底部;所述上侧工作部7和下侧工作部6间隔一段距离设置,所述测试放置部位于上侧工作部7和下侧工作部6之间的位置;所述下侧工作部6的顶部和上侧工作部7的底部呈圆形台面设置;所述上U形夹块1和下U形夹块2分别配合设置有锁紧螺栓3,所述上U形夹块1和下U形夹块2分别通过锁紧螺栓3固定安装在上侧工作部7和下侧工作部6上;所述吸嘴流道8各个接口的位置配合设置有橡胶密封机构;所述吸嘴包括若干组小吸嘴10,每个小吸嘴10均配合设置有小密封圈。
[0018]本技术在需要清洁的时候,设置好上侧工作部7和下侧工作部6之间的距离,通过上U形夹块1和下U形夹块2进行预锁紧,预锁紧之后,在测试放置部处安装好灰片9,再进行锁紧;然后在需要对芯片5进行光感测试时候,只需要转动机械臂4带动测试机械手进行转动,然后吸嘴流道8开始抽吸,这样可以确保吸嘴能够稳定的吸住待测试的芯片5,吸住之后可以直接通过测试放置部的灰片9进行光感测试,这样可以实现转动测试一体化的工作,提高工作效率。
[0019]本技术并不局限于上述实施例,在本技术公开的技术方案的基础上,本领域的技术人员根据所公开的
技术实现思路
,不需要创造性的劳动就可以对其中的一些技术特征作出一些替换和变形,这些替换和变形均在本技术的保护范围内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种心率光感芯片的测试装置,包括转盘,配合转盘设置的测试机械装置,其特征在于,所述测试机械装置包括机械臂和测试机械手,所述机械臂带动测试机械手进行移动;所述测试机械手通过快插结构安装在机械臂上,所述测试机械手包括测试主体,配合测试主体设置的连接部,位于测试主体内部的吸嘴流道,位于测试主体底部的吸嘴及配合测试主体设置的测试放置部。2.根据权利要求1所述的一种心率光感芯片的测试装置,其特征在于:所述测试主体分别包括上侧工作部和下侧工作部,配合上侧工作部设置的上U形夹块,配合下侧工作部设置的下U形夹块,所述上U形夹块和下U形夹块通过中间连接块连接。3.根据权利要求1所述的一种心率光感芯片的测试装置,其特征在于:所述吸嘴流道依次位于上侧工作部内部、上U形夹块内部、中间连接块内部、下U形夹块内部及...

【专利技术属性】
技术研发人员:苏广峰向俊伍
申请(专利权)人:安测半导体技术江苏有限公司
类型:新型
国别省市:

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