本技术涉及探针台技术领域，具体涉及一种半导体器件测试用探针台，包括探针台主体，探针台主体上设有工作台，工作台的上端设有固定杆，固定杆的上端设有顶板，工作台与顶板之间设有连接竖板，连接竖板内设有滑槽，滑槽内设有升降杆，升降杆上连接滑块，滑...

本发明涉及一种半导体测试平台，尤其涉及一种可自动卸料的半导体测试平台。需要设计一种能够将测试完成的半导体顶出完成卸料，提高后续测试效率的可自动卸料的半导体测试平台。一种可自动卸料的半导体测试平台，包括有安装台、支撑杆和测试组件等，安装台...

本发明公开了一种自动化晶圆测试机台，包括安装座，所述安装座顶部的一侧设有第一安装板，所述第一安装板的一侧设有第一电动缸，所述第一电动缸的输出设有引导板；本发明本发明通过第一电动缸、第一安装板、第三真空泵、引导板、通槽的配合下，够方便晶圆...

本实用新型涉半导体测试领域，具体涉及一种具有转接板的半导体测试结构，所述箱体内侧壁左右对称安装有电动滑块，电动滑块内侧端通过连接件安装有测试板，测试板上下端面对称安装有固定螺栓，固定螺栓外侧壁通过螺接的方式安装有转接板，转接板外侧端开设...

本发明涉及一种定位夹具，尤其涉及一种半导体测试用定位夹具。需要设计一种能够将半导体夹紧后进行角度调节，适应不同角度的检测，提高适配性的半导体测试用定位夹具。一种半导体测试用定位夹具，包括有支撑架、旋转座和限位座等，支撑架顶部中间通过阻尼...

本发明涉及一种探针检测台，尤其涉及一种半导体检测用探针检测台。需要设计一种能够对半导体进行居中定位后再进行探针检测，提高检测精准性的半导体检测用探针检测台。一种半导体检测用探针检测台，包括有支撑架、升降板和电动推杆等，支撑架上部滑动式的...

本实用新型涉及划片装置，尤其涉及一种应用于半导体晶圆的划片机。本实用新型提供一种能够快速翻转接操作简单的应用于半导体晶圆的划片机。一种应用于半导体晶圆的划片机，包括机箱和底座；机箱内连接有底座，还包括拉杆等；底座左右两侧均滑动式连接有第...

本实用新型涉及一种夹具，尤其涉及一种晶圆测试夹具。本实用新型的目的是提供一种能够降低影响的晶圆测试夹具。本实用新型提供了这样一种晶圆测试夹具，包括有橡胶垫、放置板、夹紧块、滑动块、齿条、转轴和齿轮等，放置板顶部连接有橡胶垫，放置板左右两...

本实用新型涉及一种检测校对装置，尤其涉及一种晶圆位置的检测校对装置。本实用新型的目的是提供一种便于固定晶圆位置的晶圆进行检测的晶圆位置的检测校对装置。本实用新型提供了这样一种晶圆位置的检测校对装置，包括有底板、支撑架、导向杆、移动架、固...

本实用新型公开了种用于晶圆老化测试的烘烤装置，包括设备主体，所述设备主体内对称安装有两个烘烤支架，所述烘烤支架包含基板和放置板，所述放置板有若干个且均匀设置在基板的内端，其中一个所述基板的内端对称安装有两个一号连接板，两个所述一号连接板...

本实用新型公开了一种易于使用的USB控制芯片测试装置，包括测试装置主体，所述测试装置主体后表面固定安装有放置盒，所述放置盒后表面活动安装有盖板，所述盖板后方活动安装有夹板，所述放置盒内部前表面固定安装有卡环，所述盖板一侧活动安装有限位杆...

本发明公开了一种能够自动化识别芯片外观不良的设备，包括外壳，所述外壳前端面设置有作业仓，所述作业仓两侧内壁之间中部位置设置有作业台，所述作业仓顶部设置有芯片检测镜头，所述作业台上端面设置有可前后调节的第一托板，所述第一托板上端面头部位置...

本发明涉及一种探针台，尤其涉及一种具有防偏移的晶圆测试探针台。本发明提供一种测试精准、操作简单方便的具有防偏移的晶圆测试探针台。一种具有防偏移的晶圆测试探针台，包括有支撑架、连接框、电动滑轨、放置盘、滑杆、固定架、测试器、限位机构和保护...

本发明公开了一种具有高性能高效率的晶圆测试探针台，包括一号安装台，所述一号安装台上设置有横向纵向调节台，所述横向纵向调节台上设置有工作台，所述工作台的后侧位置设置有后部支架，所述后部支架上设置有观察镜筒，所述一号安装台上在位于工作台的两...

本发明涉及一种承载装置，尤其涉及一种移动式晶圆载盘承载装置。要解决的技术问题为：提供一种具有夹紧可以减少晃动频率作用且可以防尘的移动式晶圆载盘承载装置。一种移动式晶圆载盘承载装置，包括有支撑板、移动轮、拉把、放置板、橡胶环、放置组件、下...

本实用新型公开了一种用于晶圆测试设备的磨针装置，包括工作台面，所述工作台面的下表面位于四角位置均固定安装有支撑腿，所述工作台面的下表面设置有驱动电机，所述工作台面的上表面设置有磨针机构，所述工作台面的上表面活动安装有固定支架，所述工作台...

本实用新型公开了一种射频传输通讯设备，包括通讯设备本体，所述通讯设备本体的两侧对称设有固定板，两个所述固定板之间通过限位板连接，两个所述固定板相靠近的一侧均开设有第一滑槽，且所述第一滑槽的一侧内壁与固定板的一侧相连通，所述第一滑槽内设有...

本实用新型公开了一种芯片测试载具，包括载具主体，所述载具主体的内部设置有检测槽，所述载具主体的内部位于检测槽的底端设置有顶出装置，所述顶出装置包括第一收纳槽、伸缩弹簧、固定块和第一橡胶垫，所述载具主体的内部位于检测槽的底端开设有第一收纳...

本实用新型公开了一种带光学图像扫描的芯片测试设备，包括底座，所述底座上端面中部位置设置有检测台，所述底座上端面尾部位置设置有机械杆，所述机械杆前方设置有可调节的驱动板，所述驱动板底部设置有扫描仪，所述检测台上端面尾部位置设置有后挡板，所...

本实用新型公开了一种IC集成电路芯片的测试仪，包括测试仪外壳，所述测试仪外壳的下表面靠近四周边角位置均固定安装有橡胶支撑垫，且测试仪外壳的顶部嵌设有显示屏，所述测试仪外壳的上表面靠近一侧位置设有芯片插槽，且测试仪外壳的上表面靠近另一侧位...