一种芯片测试载具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片测试载具，包括载具主体，所述载具主体的内部设置有检测槽，所述载具主体的内部位于检测槽的底端设置有顶出装置，所述顶出装置包括第一收纳槽、伸缩弹簧、固定块和第一橡胶垫，所述载具主体的内部位于检测槽的底端开设有第一收纳槽，所述载具主体的内部位于第一收纳槽的内部设置有固定块，所述载具主体的内部位于固定块的下方设置有伸缩弹簧。本实用新型专利技术所述的一种芯片测试载具，属于芯片测试领域，可以通过伸缩弹簧对固定块进行作用，使得芯片被顶出，不需要通过工具将芯片从检测槽中取出，比较方便，设通过卡紧装置可以将芯片固定在检测槽的内部，并且可以将芯片压紧，固定芯片比较牢靠，固定方式比较方便。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试载具
本技术涉及芯片测试领域，特别涉及一种芯片测试载具。
技术介绍
设计初期系统级芯片测试，由于每个功能元件都有其自身的测试要求，设计工程师必须在设计初期就做出测试规划，尽管芯片尺寸在不断减小，但一个芯片依然可封装几百万个到上1亿个晶体管，测试模式的数目已经增加到前所未有的程度，从而导致测试周期变长，这一问题可以通过将测试模式压缩来解决，压缩比可以达到20％至60％，对现在的大规模芯片设计，为避免出现容量问题，还有必要找到在64位操作系统上可运行的测试软件，在芯片测试时需要将芯片放入到载具中，使得载具将工件夹持固定，然后进行芯片测试。但是现有的载具存在一定的弊端，首先，都是工人将芯片放入到载具中，然后通过粘贴带对芯片进行简单的固定，固定不牢靠，还有在取出芯片时，芯片难以从放置槽中拿出，需要采用工具从中取出，比较麻烦。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种芯片测试载具，可以有效解决
技术介绍
中的问题。为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：一种芯片测试载具，包括载具主体，所述载具主体的内部设置有检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试载具，其特征在于：包括载具主体(1)，所述载具主体(1)的内部设置有检测槽(2)，所述载具主体(1)的内部位于检测槽(2)的底端设置有顶出装置(4)，所述顶出装置(4)包括第一收纳槽(401)、伸缩弹簧(402)、固定块(403)和第一橡胶垫(404)，所述载具主体(1)的内部位于检测槽(2)的底端开设有第一收纳槽(401)，所述载具主体(1)的内部位于第一收纳槽(401)的内部设置有固定块(403)，所述载具主体(1)的内部位于固定块(403)的下方设置有伸缩弹簧(402)，所述固定块(403)的上表面设置有第一橡胶垫(404)，所述载具主体(1)的两侧壁设置有卡紧装置(5)...

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试载具，其特征在于：包括载具主体(1)，所述载具主体(1)的内部设置有检测槽(2)，所述载具主体(1)的内部位于检测槽(2)的底端设置有顶出装置(4)，所述顶出装置(4)包括第一收纳槽(401)、伸缩弹簧(402)、固定块(403)和第一橡胶垫(404)，所述载具主体(1)的内部位于检测槽(2)的底端开设有第一收纳槽(401)，所述载具主体(1)的内部位于第一收纳槽(401)的内部设置有固定块(403)，所述载具主体(1)的内部位于固定块(403)的下方设置有伸缩弹簧(402)，所述固定块(403)的上表面设置有第一橡胶垫(404)，所述载具主体(1)的两侧壁设置有卡紧装置(5)，所述卡紧装置(5)包括电机(501)、螺纹杆(502)、螺纹孔(503)、第二收纳槽(504)、限位杆(505)、挡块(506)和第二橡胶垫(507)，所述载具主体(1)的内部设置有第二收纳槽(504)，所述第二收纳槽(504)的设置有电机(501)，所述电机(501)的输出端设置有螺纹杆(502)，所述第二收纳槽(504)的内部位于螺纹杆(502)处设置有挡块(506)，所述挡块(506)的内部开设有螺纹孔(5...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨凯翔，
申请(专利权)人：广东万维半导体技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44