本发明适用于LED测试领域，公开了LED老化测试设备及测试方式，LED老化测试设备包括机架、测试移动平台、定位机构和测试机构，测试移动平台包括控制组件、夹具组件和测试移动组件，夹具组件设置有测试工位，测试移动组件驱动夹具组件横向移动和纵...

本发明适用于半导体领域，公开了晶圆挑芯设备，包括第一定位机构、第二定位机构、视觉定位机构、顶升膜机构、芯片吸取机构和控制系统，第一定位机构包括定位底座、第一托板、夹紧组件、芯片旋转驱动组件和XY驱动组件，定位底座安装在XY驱动组件上，第...

本发明涉及半导体性能测试技术领域，并公开了一种半导体器件高温测试结构及重力式常温与高温测试机，半导体器件高温测试结构包括斜台板、依次从上往下设置在斜台板上的移载上料机构、加热平台、以及加热测试机构，通过设置多个并列设置且可整体横移的加热...

本实用新型涉及分料头装配领域，并公开了一种拆装治具，其包括呈柱体状的治具主体、两个设置在治具主体上表面的凸起、以及开设在治具主体上表面中心处的定位槽，两个所述凸起的轴线与治具主体的轴线形成共面，所述定位槽位于两个凸起之间，每个凸起的侧壁...

本发明涉及LED分光机技术领域，并公开了一种分料头的玻璃管拆装结构，其包括安装板、落料传感器、固定块、旋盖、以及玻璃管，所述固定块用于将落料传感器固定在安装板上，所述安装板上设有用于对旋盖提供转动阻力的弹性锁定机构，所述旋盖的底面开设有...

本实用新型属于半导体元件输送技术领域，具体涉及一种半导体元器件供料输送线，半导体元器件供料输送线通过设置元器件分发机构和多轨道供料机构，元器件分发机构可以分别与多个元器件输送轨道对接实现向每个送料工位输送半导体元件，便于多个半导体元件同...

本实用新型公开了一种半导体元器件分类收集机构，包括底架、设置在底架上且沿横向延伸的送料轨道、设置在送料轨道前方的吹气机构、设置在送料轨道后方且能够与送料轨道对接的移动料管组件，所述移动料管组件包括竖架、可滑动地设置在竖架上的分类滑架、以...

本实用新型涉及半导体性能检测设备领域，并提供了一种半导体元器件上料装置，导体元件上料装置包括机架、托管平台、料管移送机构、进料轨道、翻摆平台、压管组件、以及推管机构；能够自动对多根料管进行逐一上料，通过料管移送机构自动对翻摆平台和托管平...

本实用新型涉及半导体检测技术领域，并提供一种半导体元器件下料机构；其包括底架、设置在底架上的接料轨道、下料轨道、托板组件、储管组件以及送管机构；下料轨道与接料轨道衔接并位于接料轨道的下游，接料轨道上设有朝向下料轨道延伸方向的吹气头；下料...

本发明公开了一种半导体元器件测试工艺及测试机构，包括第一转盘运料机构和第二转盘运料机构；第一转盘运料机构包括主转盘、设置在主转盘上方的升降盘、用于驱动主转盘分度转动且驱动升降盘升降的第一驱动装置；所述第二转盘运料机构包括设置在主转盘一旁...

本发明涉及半导体检测技术领域，并公开了一种转盘运料装置，包括工作台、凸轮分割器、驱动机构，所述凸轮分割器的升降轴的顶端固接有升降盘，所述凸轮分割器的转轴上套接有转盘，本发明提供的转盘运料装置巧妙地将转盘和升降盘分开设置，转盘和升降盘在凸...

本发明的半导体元器件高压测试分选输送线，接料机构在水平位置时接收装载有若干半导体元件的料管后，通过翻摆驱动机构驱动与自动落料机构对接，使多个半导体元件沿倾斜布置落料通道自动滑落至元器件高压测试机构内，实现多个半导体元件进行高压测试，元器...

本发明涉及元器件性能测试技术领域，并公开了一种半导体元器件高低压测试分选机，其包括上料机构、高压测试机构、分拣机构、高压不合格回收机构、供料机构、主转盘运料机构、副盘运料机构、低压测试站、打标装置、分类收集机构以及下料机构，一站式自动完...

本实用新型公开了一种半导体元件自动上料测试装置，第一推车、第二推车、工作台、设置在工作台上的元件搬运机构、料盘y轴传送机构以及若干个测试治具，所述料盘y轴传送机构具有料盘进给工位、取料工位以及料盘回收工位，所述取料工位的下方设置有取料顶...

本实用新型公开了一种半导体元件长时间测试装置，包括工作台、设置在工作台上的x轴滑移机构、设置在x轴滑移机构上的上料机构和下料机构；所述上料机构包括第一机架、设置在第一机架上的y轴滑移机构、设置在y轴滑移机构上的第二机架、设置在第二机架上...

本发明公开了一种半导体元件平移式测试打码编带一体机，包括工作台、依次从左往右设置在工作台上的上料过渡测试治具、长时间测试区、下料过渡测试治具，所述长时间测试区上以矩形阵列的排布方式设置有多个长时间测试治具；所述上料过渡测试治具与长时间测...

本发明公开了一种半导体元件自动上料测试装置，第一推车、第二推车、工作台、设置在工作台上的元件搬运机构、料盘y轴传送机构以及若干个测试治具，所述料盘y轴传送机构具有料盘进给工位、取料工位以及料盘回收工位，所述取料工位的下方设置有取料顶升机...

本发明公开了一种半导体元件长时间测试装置及其测试方法，包括工作台、设置在工作台上的x轴滑移机构、设置在x轴滑移机构上的上料机构和下料机构；所述上料机构包括第一机架、设置在第一机架上的y轴滑移机构、设置在y轴滑移机构上的第二机架、设置在第...