浜松光子学株式会社专利技术

浜松光子学株式会社共有2219项专利

  • 本发明的分光器具备:支承体,其具有底壁部和在底壁部的一侧包围分光空间的侧壁部;盖体,其配置于由侧壁部构成的开口部,并设置有光透过部;接合部件,其配置于盖体与开口部之间;光检测元件,其在分光空间与盖体之间,以与底壁部的一侧的表面相对的方式...
  • 本发明的分光器具备:支承体,其具有底壁部和配置于底壁部的一侧的侧壁部;光检测元件,其以隔着分光空间与底壁部的一侧的表面相对的方式由支承体支承;树脂成形层,其至少设置于底壁部的一侧的表面;以及反射层,其设置在树脂成形层上,在底壁部上构成光...
  • 本发明提供能够扩大可测定的磁力频段的光激发磁传感器,其具备:封入有碱金属的容器;产生泵浦光的泵浦光源;产生探测光的探测光源;基于通过容器之后的探测光,得到与容器接受到的磁力相关的输出信号的信号输出单元;使容器的配置区域产生沿着泵浦光轴的...
  • 本发明的选择针对目标物质的响应性高的细胞的方法具备:(1a)使包含目标物质的试样接触多个细胞的工序,上述细胞是具有上述目标物质的受体和荧光指示剂的细胞,上述荧光指示剂发出上述目标物质与上述受体结合的结果的荧光;(1b)算出每个上述细胞的...
  • 决定方法决定APD的击穿电压与施加于APD的偏置电压的差分电压。温度补偿部通过基于该差分电压控制偏置电压而进行APD的增益的温度补偿。在该决定方法中,将偏置电压设为“Vr”,将被施加了该偏置电压的APD的增益设为“M”。取得将表示偏置电...
  • 三维测量装置(101)具备:一个或多个光源部(102),其对被测量物(SA)照射具有规定图案的测量光(105);一个或多个摄像部(103),其对被照射了测量光(105)的被测量物(SA)进行摄像;测量部(104),其基于摄像部(103)...
  • 控制装置控制法布里‑帕罗干涉滤光器,该法布里‑帕罗干涉滤光器具有:一对镜部,其经由空隙互相相对;及一对驱动电极,其经由该空隙互相相对,且一对镜部间的距离根据蓄积于一对驱动电极间的电荷而变化。控制装置具备:第1驱动源,其使用电流作为控制参...
  • 光源单元具备:设置有开口的基座;在开口固定于基座的支撑构件;及在开口固定于支撑构件的光源组件。光源组件具有:出射激光的光源;配置于激光的光轴上的透镜;及保持光源及透镜的保持构件。支撑构件具有以在自与光轴平行的方向观察的情况下包围光轴的方...
  • 本发明提供一种镶嵌配线构造,其具备:基底,其具有设置有槽部的主面;绝缘层,其具有:设置于槽部的内表面上的第一部分;和与第一部分一体地形成,并且设置于主面上的第二部分;金属层,其设置于绝缘层的第一部分上;配线部,其埋入于槽部内,并且与金属...
  • 本发明的冷却单元用于半导体器件的检查。冷却单元具备用于将半导体器件的热散热的套。在套设置有使来自半导体器件的光通过的光通过部。套具有空间划分面,其在光通过部与半导体器件相对的状态下,与半导体器件相对并在与半导体器件之间划分空间。在套设置...
  • 紫外线激发光源(10A)具备荧光体(14)。荧光体(14)包含Sc
  • 一种电子倍增器的制造方法,电子倍增器具备:主体部;通道,其以在主体部的一端面及另一端面开口的方式设置于主体部,根据射入的电子放出二次电子,其中,电子倍增器的制造方法具备:第一工序,准备主体部件,主体部件具有一端面及另一端面,且设置有用于...
  • 本实施方式所涉及的发光元件抑制光输出效率的降低并且输出清晰的光学图像。该发光元件具备基板、发光部、将基板与发光部接合的接合层。发光部具有被第一电极和第二电极夹持的半导体叠层,半导体叠层包含相位调制层。相位调制层具有基本层和多个差异折射率...
  • 紫外光产生用靶(20)包括发光层(22)。发光层(22)包含至少添加有钪(Sc)的YPO4晶体,接收电子束(EB)而产生紫外光(UV)。此外,紫外光产生用靶(20)的制造方法包括制作含有钇(Y)的氧化物、Sc的氧化物、磷酸和液体的混合物...
  • 本实施方式的光调制器与使用液晶的SLM相比,能够实现高速的调制。该光调制器具备沿基准面上的第1方向配置多个第1折射率区域、包围折射率区域各自的区域且具有比各折射率区域的折射率低的折射率的区域、第1导电膜和第2导电膜。第1导电膜在选自多个...
  • 监视装置与法布里‑帕罗干涉滤光器一起使用,该法布里‑帕罗干涉滤光器具有:一对镜部,其经由空隙互相相对;及一对驱动电极,其经由该空隙互相相对,且一对镜部间的距离根据蓄积于一对驱动电极间的电荷而变化。监视装置具备:电流施加部,其将具有较一对...
  • 固体摄像装置(1)具备:半导体基板(20),其具有设置有多个光感应区域(3)的主面(20a);及绝缘膜(30),其设置于半导体基板(20)的主面(20a);在将半导体基板(20)的主面(20a)设为基准面(K)的情况下,自基准面(K)起...
  • 本发明的光学滤光器装置具备法布里‑珀罗干涉滤光器及电阻测定部。法布里‑珀罗干涉滤光器具备:第1构造体,其具有第1表面、及第2表面;第2构造体,其具有第3表面;第1镜部,其设置于第1构造体;第2镜部,其以隔着空隙而与第1镜部相对的方式设置...
  • 光检测装置(1)具备半导体基板(10)。半导体基板(10)中,从与主面(10+a)正交的方向观察,APD(11)和温度补偿用二极管(12)相互分开地形成。半导体基板(10)具有从与主面(10a)正交的方向观察包围APD(11),且吸收位...
  • 光检测装置(1)包括半导体基板(10)。在半导体基板(10)中,在从与主面(10a)正交的方向观察时,APD(11)和温度补偿用二极管(12)彼此隔开间隔地形成。半导体基板(10)在从与主面(10a)正交的方向观察时,在APD(11)与...