【技术实现步骤摘要】
电晶体测试模组的压入装置
本技术涉及一种电晶体测试模组的压入装置,特别涉及一种可将数个电晶体同时压入电晶体测试模组中,以进行该电晶体质量测试的压入装置。
技术介绍
请参阅图5所示,为一种习见的电晶体测试模组,其具有一电路板10,于电路板10板面设有数个晶体承座30,于一选定边设有数个讯号接点20即所说的金手指,该晶体承座30是可供电晶体50简易插拔的座体,于其内部并设有讯号接点40及扣持装置与其它构件;藉此,将该电路板10以其讯号接点20插接于一主机板等其它设备,即可于所述的数个晶体承座30中置入电晶体50,以进行该电晶体50的质量测试作业。但是,上述习知的电晶体测试模组,其测试作业必须以人工将电晶体50一一压入该晶体承座30中,因此,反复此种动作之后,往往会造成作业人员手指红肿及磨伤,成为一种职业伤害;不仅如此,其使用人工将电晶体50一一压入于晶体承座30的动作,势必造成每一测试动作前,均耗费相当的前置作业时间,难以提升测试作业的速度,无法有效的降低质量管理成本,诚非合理。
技术实现思路
本技术的目的是要解决习知电晶体测试模组存在的测试动作前,-->耗费相当的前置作业时间,难以提升测试作业速度以及造成作业人员手指红肿及磨伤的问题,而提供一种可克服上述缺点的电晶体测试模组的压入装置。本技术包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置,电晶体压框为中空矩形框体,于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块,活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体,于一端设有至少一枢接部,驱动装置为可产生升降动作的装置,电晶体压框以其至少一侧的中间部与活动架枢接,活动架一端的 ...
【技术保护点】
一种电晶体测试模组的压入装置,其特征在于:其包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置,电晶体压框为中空矩形框体,于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块,活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体,于一端设有至少一枢接部,驱动装置为可产生升降动作的装置,电晶体压框以其至少一侧的中间部与活动架枢接,活动架一端的枢接部枢设于其它设备处,活动架另一端设有驱动装置。
【技术特征摘要】
1、一种电晶体测试模组的压入装置,其特征在于:其包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置,电晶体压框为中空矩形框体,于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块,活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体,于一端设有至少一枢接部,驱动装置为可产生升降动作的装置,电晶体压框以其至少一侧的...
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