一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置，涉及显示驱动领域，能够检测出驱动芯片上的接口是否发生短路。所述驱动芯片，包括第一内部接口和第二内部接口，还包括用于进行短路检测的测试电路。测试电路包括输入单元以及测试单元；输入单元分别连接测试信号输入端、所述测试单元以及所述第一内部接口。测试单元分别连接所述第一内部接口、所述第二内部接口以及测试信号输出端。

【技术实现步骤摘要】
一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置
本专利技术涉及显示驱动领域，尤其涉及一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置。
技术介绍
TFT-LCD(ThinFilmTransistorLiquidCrystalDisplay，薄膜晶体管-液晶显示器)作为一种平板显示装置，因其具有体积小、功耗低、无辐射以及制作成本相对较低等特点，而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。TFT-LCD显示装置，可以包括LCM(LiquidCrystalModule，液晶显示模组)，所述LCM包括液晶显示面板、外围驱动电路、如图1所示的控制电路板11、背光模组等部件。其中，所述控制电路板11上设置有显示驱动电路，可以输入的控制信号，以使得显示装置进行画面显示。所述控制电路板11可以包括多个驱动芯片IC，每个驱动芯片上设置有过个I/O接口100，从而使得上述控制信号能够通过I/O接口100进行输出。然而现有技术中，对于小型显示装置，例如手机、掌上电脑等，由于受到结构尺寸的限制，在设计过程中会减小上述I/O接口100的尺寸，以及相邻两个I/O接口100之间的距离。这样一来，由于I/O接口100的制作公差，可能导致相邻两个I/O接口100重叠而直接接触从而造成短路，若不能及时发现该短路问题，则会导致电路烧毁等不良现象的产生，严重影响产品的质量。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置，能够检测出驱动芯片上的接口是否发生短路。为达到上述目的，本专利技术的实施例采用如下技术方案：本专利技术实施例的一方面，提供一种驱动芯片，包括第一内部接口和第二内部接口，还包括用于进行短路检测的测试电路；所述测试电路包括输入单元以及测试单元；所述输入单元分别连接测试信号输入端、所述测试单元以及所述第一内部接口，用于在导通状态下，将所述测试信号输入端输入的测试信号，传输至所述测试单元以及所述第一内部接口；所述测试单元分别连接所述第二内部接口以及测试信号输出端，用于在断开状态下，阻断所述输入单元输出的信号由所述测试单元向所述测试信号输出端及所述第二内部接口输出。本专利技术实施例的另一方面，提供一种驱动板，包括如上所述的任意一种驱动芯片，以及位于所述驱动板扣合位置的外部接口，每个所述驱动芯片的一个内部接口与一个所述外部接口相连接。本专利技术实施例的另一方面，提供一种用于驱动上述驱动板的测试方法，包括：导通输入单元，断开测试单元；测试信号输入端输入测试信号；当所述测试信号输出端输出第一电压时，所述驱动板上的驱动芯片中至少两个内部接口之间发生短路；当所述测试信号输出端输出第二电压时，所述驱动板上的驱动芯片的内部接口之间未发生短路；其中，所述第一电压大于第二电压。本专利技术实施例的又一方面，提供一种显示装置，包括如上所述的驱动板。本专利技术实施例提供一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置。其中驱动芯片可以包括第一内部接口和第二内部接口，还包括用于进行短路检测的测试电路。所述测试电路包括输入单元以及测试单元。输入单元分别连接测试信号输入端、测试单元以及第一内部接口，用于在导通状态下，将测试信号输入端输入的测试信号，传输至测试单元以及第一内部接口。所述测试单元分别连接第二内部接口以及测试信号输出端，用于在断开状态下，阻断所述输入单元输出的信号由所述测试单元向所述测试信号输出端及所述第二内部接口输出。再次情况下，当测试信号输入端输入测试信号，该测试信号为第一电压，例如高电平时，输入单元输出的信号会传送至第一内部接口，还会通过测试单元传输至测试信号输出端。此时将测试单元断开，那么输入开关单元输出的信号只能传送至第一内部接口，而无法通过测试单元到达测试信号输出端，在此情况下测试信号输出端应该输出第二电压，例如低电平。如果此时测试信号输出端输出高电平，则证明驱动芯片上的至少两个内部接口之间发生了短路，使得输入单元输出的信号到达第一内部接口后，通过上述发生短路的内部结构形成的信号传输路径传输至第二内部接口，在由第二内部接口传输至测试信号输出端，从而使得与该测试出口输出高电平。因此通过上述测试电路，在将测试单元断开的情况下，通过判断测试信号输出端是否为高电平，就可以判断出驱动芯片上的内部接口之间是否发生了短路。这样一来，在驱动芯片工作之前，可以通过该驱动芯片上的测试电路测试该驱动芯片上的内部接口之间是否存在短路，如果发生短路。从而避免了驱动芯片在工作过程中，由于内部接口短路而导致电路烧毁的不良现象。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为现有技术提供的一种显示装置中控制电路板和LCM的连接示意图；图2a为本专利技术实施例提供的一种驱动芯片的结构示意图；图2b为本专利技术实施例提供的另一种驱动芯片的结构示意图；图3为图2b中各个单元的具体结构示意图；图4为在图3的基础上设置有驱动电路以及控制开关的驱动芯片的结构示意图；图5为本专利技术实施例提供的一种驱动板的结构示意图；图6为图5中两个驱动芯片的连接结构示意图；图7为图6中驱动板的一种信号控制时序图；图8为图6中驱动板的另一种信号控制时序图；图9为图6中驱动板的又一种信号控制时序图；图10为设置有图6所示的驱动板30的电路系统的控制过程流程图；图11为本专利技术实施例提供的一种驱动板的测试方法流程图；图12为图6中驱动板的一种测试方法流程图；图13为图6中驱动板的另一种测试方法流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例提供一种驱动芯片IC，如图2a所示，可以包括第一内部接口I/O1和第二内部接口I/O2，还可以包括用于进行短路检测的测试电路01。该测试电路01可以包括输入单元10、测试单元30。具体的，输入单元10可以分别连接测试信号输入端Vtest，测试单元30以及第一内部接口I/O1，用于在导通状态下，将测试信号输入端Vtest输入的测试信号，传输至测试单元30以及第一内部接口I/O1。测试单元30分别连接第二内部接口I/O2以及测试信号输出端Vo，用于在断开状态下，阻断输入单元10输出的信号由测试单元30向测试信号输出端Vo及第二内部接口I/O2输出。此外，测试单元30在导通状态下，可以将输入单元10输出的信号或第一内部接口I/O1输出的信号输出至测试信号输出端Vo。需要说明的是，上述驱动芯片IC还可以包括输出单元20，所述输出单元在测试信号输出端Vo以及第二内部接口I/O2之间，用于在导通状态下，将第二内部接口I/O2处的电压或测试单元输出的信号输出至测试信号输出端Vo。本专利技术实施例提供一种驱动芯片，包括第一内部接口和第二内部接口，还包括用于进行短路检测的测试电路。所述测试电路包括输入单元以及测试单元。输入单元分别连接测试信号输入端、测试单元本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种驱动芯片，包括第一内部接口和第二内部接口，其特征在于，还包括用于进行短路检测的测试电路；所述测试电路包括输入单元以及测试单元；所述输入单元分别连接测试信号输入端、所述测试单元以及所述第一内部接口，用于在导通状态下，将所述测试信号输入端输入的测试信号，传输至所述测试单元以及所述第一内部接口；所述测试单元分别连接所述第二内部接口以及测试信号输出端，用于在断开状态下，阻断所述输入单元输出的信号由所述测试单元向所述测试信号输出端及所述第二内部接口输出。

【技术特征摘要】
1.一种驱动芯片，包括第一内部接口和第二内部接口，其特征在于，还包括用于进行短路检测的测试电路；所述测试电路包括输入单元以及测试单元；所述输入单元分别连接测试信号输入端、所述测试单元以及所述第一内部接口，所述输入单元用于在导通状态下，将所述测试信号输入端输入的测试信号，传输至所述测试单元以及所述第一内部接口；所述测试单元分别连接所述第二内部接口以及测试信号输出端，所述测试单元用于在断开状态下，阻断所述输入单元输出的信号由所述测试单元向所述测试信号输出端及所述第二内部接口输出。2.根据权利要求1所述的驱动芯片，其特征在于，还包括：输出单元，所述输出单元在所述测试信号输出端以及所述第二内部接口之间，用于在导通状态下，将所述第二内部接口处的电压或所述测试单元输出的信号输出至所述测试信号输出端。3.根据权利要求1所述的驱动芯片，其特征在于，所述输入单元包括第一开关，其一端连接所述测试信号输入端，另一端与所述测试单元相连接。4.根据权利要求2所述的驱动芯片，其特征在于，所述输出单元包括第二开关，其一端连接所述测试信号输出端，另一端与所述测试单元相连接。5.根据权利要求4所述的驱动芯片，其特征在于，所述输入单元包括第一开关，其一端连接所述测试信号输入端，另一端与所述测试单元相连接；所述测试单元包括至少一个测试开关，所述第一开关通过所述测试开关与所述第二开关串联；每相邻两个串联的测试开关之间连接有一个第三内部接口。6.根据权利要求3所述的驱动芯片，其特征在于，所述输入单元还包括：设置于所述测试信号输入端与所述第一开关之间的限流电阻。7.根据权利要求5所述的驱动芯片，其特征在于，所述测试电路还包括设置于所述第一内部接口与所述第一开关之间、所述第二内部接口与所述第二开关之间，或者所述第三内部接口与所述相邻两个串联的测试开关之间的控制开关，用于控制向所述第一内部接口、所述第二内部接口或所述第三内部接口输入信号的通断。8.根据权利要求1所述的驱动芯片，其特征在于，还包括驱动电路，分别连接所述测试信号输出端、驱动信号输出端、使能信号端以及供电电压端，用于在所述使能信号端和所述测试信号输出端的控制下，将所述供电电压端的电压输入至所述驱动信号输出端。9.根据权利要求8所述的驱动芯片，其特征在于，所述驱动电路包括：第一晶体管和第二晶体管；所述第一晶体管的栅极连接所述使能信号端，第一极连接所述测试信号输出端，第二极与所述第二晶体...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐帅，张郑欣，王智勇，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11