具有用于电子装置测试的交错蜿蜒测试触点的探针模块制造方法及图纸

本发明专利技术揭示一种用于测试电子装置的探针模块，所述探针模块包括至少两个触点，每一触点包含：沿着第一线在第一方向上延伸的第一端部分；在与所述第一方向相反的第二方向上且沿着第二线线性延伸的第二端部分；及在所述第一端部分与所述第二端部分之间延伸的第三弯曲部分。所述第一线与所述第二线间隔开且与所述第二线平行，且所述至少两个触点在垂直于所述第一线及所述第二线的方向上彼此间隔开。本发明专利技术还教示制作此探针模块的方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有用于电子装置测试的交错蜿蜒测试触点的探针模块
本专利技术涉及电子装置测试的领域，且更明确地说涉及用于测试微型电子装置的探针。
技术介绍
在制造期间通过自动化测试系统针对电性质及光学性质测试许多电子装置。典型自动化测试系统使用精密电或光学测试设备来寻找与装置的电性质及光学性质相关联的值，且取决于所测量的值而接受、拒绝或将其分类为输出类别。针对微型装置，自动化测试系统通常经设计以处置批量负载，其中制造工艺产生具有大致相同机械特性(例如大小及形状)但在电特性或光学特性方面不同的大量装置。建造具有大体上归属于范围内的电性质及光学性质的大量装置且依赖于测试将所述装置分类为具有类似特性的商业上有用的群组是常见惯例。这些装置通常被供应到作为填充有装置的容器的测试系统。通常，测试系统必须从装置的批量负载中提取单个装置、定向所述装置且固定所述装置，因此所述测试系统可执行所要测试。测试通常需要探测所述装置，其中使电引线与装置接触以准许将信号及电力施加到所述装置且监视对输入的响应。其它测试涉及响应于特定输入而测量从例如发光二极管(LED)的光学装置输出的光。
技术实现思路
本文中教示通常用于 测试微型电子装置的探针模块的实施例。这些探针期望包含交错蜿蜓的电触点，所述电触点允许紧密接触间距、穿过行进范围的均匀接触力及大体线性行进运动。根据本文中教示的探针模块的一个实施例，存在至少两个触点。每一触点包含--沿着第一线在第一方向上延伸的第一端部分；在与所述第一方向相反的第二方向上且沿着第二线线性延伸的第二端部分；及在所述第一端部分与所述第二端部分之间延伸的第三弯曲部分。所述第一线与所述第二线间隔开且与所述第二线平行，且所述至少两个触点在垂直于所述第一线及所述第二线的方向上彼此间隔开。本文中还教示制造探针模块的方法。根据一种示范性方法，以彼此间隔开的关系布置至少两个触点。每一触点包含:沿着第一线在第一方向上延伸的第一端部分；在与所述第一方向相反的第二方向上且沿着第二线线性延伸的第二端部分；及在所述第一端部分与所述第二端部分之间延伸的第三弯曲部分。所述触点经布置使得其在垂直于所述第一线及所述第二线的方向上彼此间隔开。所述第一线与所述第二线间隔开且与所述第二线平行。下文中描述这些实施例及其它实施例的细节及其中的变化形式。【附图说明】本文中的说明参考附图，其中贯穿几个视图，相似元件符号是指相似部分，且其中:图1是展示自动化测试系统的一个实施例的俯视图；图2是图1的自动化测试系统的载具的一个实施例的透视图；图3是展示电子装置相对于图1的自动化测试系统的测试台的对准的示意性图解；图4是安装于图3的测试台中的探针模块的一个实施例的透视图；且图5是根据图4的探针模块的分解图。【具体实施方式】虽然已知用于电子组件或装置的自动化测试系统，但现有系统相对于LED来说通常并不有用。测试及分类LED尤其富有挑战性，这是因为制造公差的广泛变化与人眼对光输出的小变化的敏感性组合而需要测试LED且将其分类为大量输出群组。与测试及分类LED相关联的另一挑战包含需要测试LED的光输出的事实。由于LED可在封装的一侧上具有触点且在另一侧上具有发光表面，因此测试设备必须从一侧探测且从另一侧收集光输出。由于微型电子组件(如LED)上的触点往往靠近在一起而间隔开，因此此形成关于用于实现到打算测试这些触点的探针的连接的空间的问题。此尤其适用于LED，这是因为在触点的布置方面几乎没有标准化标准且通常将多个有源元件容纳在一起。另一挑战是光输出测试设备通常在物理上是大型的且需要接近受测试的LED，此进一步约束所述测试设备的物理布局。如关于图1开始描述，本文中所教示的用于测试及分类微型电子组件或装置11(图2)的自动化测试系统10的实施例提供可易于与紧密触点对准的探针装置同时提供用于实现到测试装置的连接的间隔。此尤其合意于涉及多组触点的装置11 (例如发光二极管(LED))但还可成功地用于仅需要一组触点的装置11。测试系统10包含输送机12及一个或一个以上装载台，例如在转移台18处将电子装置11装载到载具40上的第一装置装载器14及第二任选装置装载器16。测试系统10进一步包含一个或一个以上测试台，例如第一测试台20及第二测试台22，如下文中较详细论述。载具40相对于第一测试台20及第二测试台22对准以用于测试。在测试之后，给卸载装置11提供卸载台25。控制器28与输送机12、第一装置装载器14及第二装置装载器16、第一测试台20及第二测试台22以及卸载台25电连通(有线或无线)以感测及控制每一者的操作。控制器28具有可包含处理器、存储器、存储媒体、通信装置以及输入及输出装置的结构。举例来说，控制器28可是标准微控制器，所述标准微控制器包含中央处理单元(CPU)、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)以及接收输入信号并发送控制所述系统及执行如本文中所描述的一些工艺步骤所需的输出信号的输入/输出端口。本文中所描述的功能通常是存储于存储器中的编程指令且由CPU的逻辑执行。当然，执行本文中所描述的功能的控制器可是使用外部存储器的微处理器或可包括此微处理器或微控制器与其它集成逻辑电路组合的组合。控制器28通常并入到个人计算机中或与个人计算机一起运作，所述个人计算机具有屏幕及例如键盘的输入装置以用于输入用于工艺控制的命令且用于监视所述工艺控制。为在第一测试台20及第二测试台22中的一者或两者处测试电子装置11，将电子装置11装载到载具40上，所述载具中的一者以实例方式展示于图2及3中。每一载具40具有可制作为单件结构或多件结构的主体部分或主体42。主体42包含从中心部分48向外延伸到主体42的第一横向边缘72及第二横向边缘74的第一横向部分44及第二横向部分46。第一横向部分44及第二横向部分46由中心通道50间隔开。中心通道50位于中心部分48上方，且包含相对于第一横向部分44的顶部表面54及第二横向部分46的顶部表面56向下凹入的通道底部表面52。第一通道侧58及第二通道侧60从通道底部表面52向上延伸到相应顶部表面54、56。一个或一个以上定位特征或结构形成于主体42上。举例来说，定位特征可包含若干对第一棘爪62及第二棘爪64，所述第一棘爪62及第二棘爪64分别沿着第一通道侧58及第二通道侧60而形成。第一棘爪62及第二棘爪64由相对于第一通道侧58及第二通道侧60向外延伸的表面界定，从而增加每一对第一棘爪62及第二棘爪64的区域中的中心通道50的横截面宽度。提供例如第一棘爪62及第二棘爪64的定位结构，以促进载具40相对于测试系统10的特定部分(例如第一测试台20及第二测试台22)的对准。可使用例如悬臂夹、相对棘爪等各种定位结构来促进对准。在载具40中，主体42的中心部分48相对于第一横向部分44的底部表面66及第二横向部分46的底部表面68向下延伸。中心部分48可位于中心通道50正下方，且可具有类似于中心通道50的横向宽度的横向宽度。载具40经配置以耦合到输送机12，使得载具40响应于输送机12的移动而移动。举例来说，啮合部件可形成于载具40的主体42上，以用于载具40与输送机12的可操作啮合。此啮合部件可形成有允许与输送机12啮合的任何适合几何形状，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试电子装置的探针模块，其包括：至少两个触点，每一触点包含：沿着第一线在第一方向上延伸的第一端部分；在与所述第一方向相反的第二方向上且沿着第二线线性延伸的第二端部分；及在所述第一端部分与所述第二端部分之间延伸的第三弯曲部分；其中所述第一线与所述第二线间隔开，且与所述第二线平行；且其中所述至少两个触点在垂直于所述第一线及所述第二线的方向上彼此间隔开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.06.17 US 13/163,5161.一种用于测试电子装置的探针模块，其包括: 至少两个触点，每一触点包含:沿着第一线在第一方向上延伸的第一端部分；在与所述第一方向相反的第二方向上且沿着第二线线性延伸的第二端部分；及在所述第一端部分与所述第二端部分之间延伸的第三弯曲部分；其中 所述第一线与所述第二线间隔开，且与所述第二线平行；且其中 所述至少两个触点在垂直于所述第一线及所述第二线的方向上彼此间隔开。2.根据权利要求1所述的探针模块，其中每一第三弯曲部分具有蜿蜒形状。3.根据权利要求1或2所述的探针模块，其中所述至少两个触点中的每一者包括扁平材料，所述至少两个触点在由所述扁平材料界定的平面内交错，且所述至少两个触点包含在第一层中交错的第一触点及第二触点，以及在第二层中交错的第三触点及第四触点，所述探针模块进一步包括: 所述第一层与所述第二层之间的绝缘薄板，所述绝缘薄板经成形以防止所述第一层的所述触点与所述第二层的所述触点之间的接触。4.根据权利要求3所述的探针模块，其中所述第一触点与所述第二触点的所述第一端部分之间的间距与所述第三触点与所述第四触点的所述第一端部分之间的间距相同；且其中所述第一触点与所述第二触点的所述第二端部分之间的间距不同于所述第三触点与所述第四触点的所述第二端部分之间的间距。5.根据权利要求1或2所述的探针模块，其中所述至少两个触点包含第一触点及第二触点，所述探针模块进一步包括: 触点壳体，其包含环绕所述第一触点及所述第二触点的所述第三弯曲部分的凹陷部； 邻近沟槽，其从所述凹陷部延伸到所述触点壳体的外部，所述第一触点的所述第一端部分位于所述邻近沟槽中的第一沟槽中，且所述第二触点的所述第一端部分位于所述邻近沟槽中的第二沟槽中 '及 间隔开的开口，其在与所述邻近沟槽相反的方向上从所述凹陷部延伸到所述触点壳体的外部，所述第一触点的所述第二端部分位于所述间隔开的开口中的第一开口中，且所述第二触点的第二端部分位于所述间隔开的开口中的第二开口中。6.根据权利要求5所述的探针模块，其中所述凹陷部包含从所述邻近沟槽大体垂直延伸的限制表面，所述第一触点的所述第一端部分及所述第三弯曲部分与所述第一沟槽及所述限制表面接触而形成第一直角，所述第二触点的所述第一端部分及所述第三弯曲部分在与所述第一直角相同的方向上形成第二直角，且所述第二触点包括: 延伸部分，其邻近所述第二直角且在与所述第二直角相反的方向上从所述第二触点的所述第一端部分延伸，所述延伸部分的上部表面与所述限制表面接触。7.根据权利要求5所述的探针模块，其中所述触点壳体进一步包括以下各项中的至少一者: 安装表面及安装到所述安装表面的绝缘体，所述绝缘体包含所述凹陷部；或 所述绝缘体及安装到所述绝缘体的盖,所述绝缘体包含所述凹陷部。8.根据权利要求5所述的探针模块，其进一步包括: 模炔基座，其包含安装表面及在与所述安装表面相对的表面上相对于所述安装表面垂直延伸的安装凸缘；耦合到所述安装表面的中心绝缘体，所述凹陷部位于所述中心绝缘体中，面向所述安装表面；其中所述中心绝缘体包括与所述安装表面相对的表面中的第二凹陷部，且所述至少两个触点包含第三触点及第四触点，所述第三触点及所述第四触点的所述第三弯曲部分由所述凹陷部环绕； 第...

【专利技术属性】
技术研发人员：道格拉斯·J·加西亚，
申请(专利权)人：电子科学工业有限公司，
类型：
国别省市：