【技术实现步骤摘要】
触控面板测试用探针结构
本技术为一种触控面板测试用探针结构，尤其是有关于可借由一至多个杆体可以与测试制具或测试设备相连接，以杆心前端的熔锡来接触测试触控面板上的电路组件，而能在不伤及电路组件下，完成触控测试，快速且方便。
技术介绍
随着计算机的普及，各种输入设备应运而生，而智能型手机等问世，更让触控屏幕成为最重要的输入设备。触控屏幕的灵敏度及耐用度一直是于开发、设计及生产中，最重要考虑的地方。目前研发及生产后，在过程及最后测试电性阶段需要用探针来作测试，但常因探针之前端的硬度致使于测试过程中损伤电路组件。如何能提供一完善的触控屏幕测试工具，是当今最重视的一环，也是专利技术人极欲解决的课题。
技术实现思路
有鉴于现有结构的不完善处，专利技术人经多年研究，终于设计出此种可借由一至多个杆体可以与测试制具或测试设备相连接，以杆心前端的锡来接触测试触控面板上的电路组件，因锡具有导电及软的特性，并且能在瞬间接触时减缓探针与测试点的撞击力，而能在不伤及电路组件下，完成触控测试，快速且方便。本技术触控面板测试用探针结构，其包括一杆体，其内呈中空，前端具一开口，中空处末端设置有弹性组件；以及一杆心，其内设置于杆体中空内，后端与弹性组件接触或连接，前端突出杆体开口，前端具有一熔锡。本技术的主要目的在于可借由一至多个杆体可以与测试制具或测试设备相连接，以杆心前端的熔锡来接触测试触控面板上的电路组件，而能在不伤及电路组件下，完成触控测试，快速且方便。为了能让审查员能更易于了解本技术，请参阅以下图式及实施方式说明。【附图说明】图1为本技术触控面板测试用探针结构的结构。附图标...
【技术保护点】
一种触控面板测试用探针结构，其包括：?一杆体，其内呈中空，前端具一开口，中空处末端设置有弹性组件；以及?一杆心，其内设置于杆体中空内，后端与弹性组件接触或连接，杆心前端突出杆体开口，杆心前端具有一熔锡；?借由如上结构，一至多个杆体可以与测试制具或测试设备相连接，以杆心前端的锡来接触测试触控面板上的电路组件，因锡具有导电及软的特性,并且能在瞬间接触时减缓探针与测试点的撞击力,而能在不伤及电路组件下，完成触控测试，快速且方便。
【技术特征摘要】
1.一种触控面板测试用探针结构，其包括: 一杆体，其内呈中空，前端具一开口，中空处末端设置有弹性组件；以及一杆心，其内设置于杆体中空内，后端与弹性组件接触或连接，杆心前端突出杆体开口，杆心前端具有一熔锡； 借由如上结构，一至多个杆体可以与测试制具或测试设备相连接，以杆心前端的锡来接触测试触控面板上的电路组件，因锡具有导电及软的特性，并且能在瞬间接触时减缓探针与测试点的撞击力，而能在不伤及电路组件下，完成触控测试，快速且方便。2.如权利要求1所述的触控面板测试用探针结构，其特征在...
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