一种基于半导体芯片自动测试系统的万能手测器技术方案

本实用新型专利技术涉及半导体测试领域，提供了一种基于半导体芯片自动测试系统的万能手测器，其特征在于，包括：测试板，上方具有测试座；手动测试盖，固定在该测试板上，中间具有孔，露出该测试座；机械测试盖，与手摇臂相连接；支架，固定在该手动测试盖上。本实用新型专利技术有效解决了手动测试和自动测试不能同时使用，并且自动和手动之间转换速度慢的问题，并且具有设置时间短、节约时间、提高工作效率、降低成本、稳定性强、适合于任意产品的特点。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
一种基于半导体芯片自动测试系统的万能手测器
本技术涉及半导体测试领域，特别涉及一种基于半导体芯片自动测试系统的万能手测器。
技术介绍
随着半导体业测试行业的发展，为了控制好低噪声，满足高频测试需求，对测试座的质量需求越来越高。测试座为接口部分，用于连接芯片和测试板；测试过程中，用来固定芯片。产品在测试过程中，若测试时间长，探针上容易粘上杂质，需要中途清洗；若机械手臂运动时间长，良率会降低，此时需要对低良率进行分析，但是在机械环节分析比较麻烦，需要将其从自动模式切换到手动模式，一旦切换频繁就会导致自动模式和手动模式的测试结果不同，给分析带来困难；机器有切换产品的过程，在切换新产品的时候需要重新设置，确保切换的新产品能稳定运行，但在设置过程中，存在手动模式到自动模式的切换，也会产生手动模式和自动模式测试结果不一致的现象。 目前业界手测器主要分为手动模式测试座和机械模式测试座:手测模式测试座对于调试测试程序以及小批量量产比较适合，同时比较容易使用，换产品也比较容易，但是不适合大批量量产；机械模式测试座需要占用机械手臂，适合大量量产的自动化测试程序，但对小批量模式、调试程序不适合。因本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于半导体芯片自动测试系统的万能手测器，其特征在于，包括：?测试板，上方具有测试座；?手动测试盖，固定在该测试板上，中间具有孔，露出该测试座；?弹簧杆、圆杆，都穿过支架，并且都与机械测试盖、手摇臂相连接；?支架，固定在该手动测试盖上。

【技术特征摘要】
1.一种基于半导体芯片自动测试系统的万能手测器，其特征在于，包括: 测试板，上方具有测试座； 手动测试盖，固定在该测试板上，中间具有孔，露出该测试座； 弹簧杆、圆杆，都穿过支架，并且都与机械测试盖、手摇臂相连接； 支架，固定在该手动测试盖上。2.根据权利要求1所述的一种基于半导...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾培东，
申请(专利权)人：上海捷策创电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：