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本实用新型涉及半导体测试领域，提供了一种基于半导体芯片自动测试系统的万能手测器，其特征在于，包括：测试板，上方具有测试座；手动测试盖，固定在该测试板上，中间具有孔，露出该测试座；机械测试盖，与手摇臂相连接；支架，固定在该手动测试盖上。本实用...
该专利属于上海捷策创电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海捷策创电子科技有限公司授权不得商用。

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