信号获取探针的探查端头制造技术

一种信号获取探针的探查端头。信号获取探针的探查端头具有与薄或厚膜处理相容的非导电衬底，该非导电衬底具有相对的水平表面和侧表面，其中侧表面的两个会聚到某个点。等高的探查端头触部形成在非导电衬底上的会聚点处，其中探查端头触部具有第一和第二相交弓形表面。使用薄或厚膜处理将导电材料沉积在等高的探查端头触部上，用于提供到被测装置上的测试点的电接触。使用薄膜处理在非导电衬底上形成电阻元件，其电耦合到探查端头触部及非导电衬底上安装的集成电路小片上形成的放大器的输入端。放大器的输出端耦合到第二非导电衬底上形成的传输结构。

【技术实现步骤摘要】
信号获取探针的探查端头
一般来说，本专利技术涉及测量仪表的信号获取探针，并且更具体地涉及形成在非导 电衬底上的探查端头。
技术介绍
将信号获取探针与诸如示波器、逻辑分析器、谱分析器等测量仪表结合使用，从 而把从被测装置(DUT)获取的测试信号耦合到测量仪表以便分析并显示测试信号。信号获 取探针具有由诸如铜、铍铜、铝、钢、如镍钯合金的金属合金等导电材料所形成的至少一个 导电探查端头。探查端头可形成为朝着某个点逐渐变细的锥形钉或销。其它的端头构造包 括斜角、楔形等。信号获取探针具有带导电空心管的探针头，该空心管具有设置在其中的衬底。衬 底可由陶瓷或电路板材料等形成且衬底在其上具有无源和/或有源电路，从而防止载入测 试信号并且用于调节耦合到测量仪表的信号。空心管的一端具有设置在其中的绝缘插头， 其中从该插头沿两个方向轴向延伸的探查端头。探查端头延伸到空心体中的部分电连接到 衬底。可使用弹簧承载的电触部、导电杂乱噪声按钮、引线键合、焊接等将探查端头电耦合 到衬底。导电电缆附连到衬底，用于将经过调节的电信号耦合到测量仪表。使用金属探查 端头的测量探针的总带宽因金属探查端头的电容和电感效本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种信号获取探针的探查端头，包括：????与薄和厚膜处理相容的非导电衬底，其具有相对的水平表面和侧表面，所述侧表面中的两个会聚到某个点；????等高的探查端头触部，其形成在所述非导电衬底上的所述会聚点处，其中所述探查端头触部具有第一和第二相交弓形表面；以及????导电材料，其沉积在所述等高的探查端头触部上。

【技术特征摘要】
1.一种信号获取探针的探查端头，包括:与薄和厚膜处理相容的非导电衬底，其具有相对的水平表面和侧表面，所述侧表 面中的两个会聚到某个点；等高的探查端头触部，其形成在所述非导电衬底上的所述会聚点处，其中所述探 查端头触部具有第一和第二相交弓形表面；以及导电材料，其沉积在所述等高的探查端头触部上。2.如权利要求1所述的信号获取探针的探查端头，还包括电阻元件，所述电阻元件通 过薄和厚膜处理中的至少一个设置在所述非导电衬底的相对水平表面之一上，且所述电阻 元件具有电耦合到所述等高的探查端头触部上的所述导电材料的一个端部。3.如权利要求2所述的信号获取探针的探查端头，还包括放大器，所述放大器设置在 所述非导电衬底的相对水平表面之一上并电耦合到所述电阻元件的另一端。4.如权利要求3所述的信号获取探针的探查端头，其中，所述放大器是缓冲放大器。5.如权利要求3所述的信号获取探针的探查端头，还包括将所述电阻元件的另一端电 耦合到所述放大器的引线键合。6.如权利要求1所述的信号获取探针的探查端头，其中，所述导电材料包括沉积在所 述等高的探查端头触部上的粘合层以及沉积在所述粘合层上的金层。7.如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：JE斯皮纳，RR林，
申请(专利权)人：特克特朗尼克公司，
类型：发明
国别省市：