【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种用于测试治具的探针，包括依次连接的探测段、弹性体和接线段，所述接线段连接有导线，所述弹性体的弯曲部设置有加强筋。作为优选，所述探测段、所述弹性体和所述接线段为一体成型结构。本专利技术的用于测试治具的探针，通过在弹性体的弯曲部设置加强筋，有效地分散了弹性体本身的内应力和弹性体所受到的应力，较好的提高了弹性体的刚性，能够有效防止弹性体断裂。【专利说明】一种用于测试治具的探针
本专利技术涉及一种电性能测试或故障探测部件，特别是涉及一种用于测试治具的探针。
技术介绍
现有的用于测试治具的探针设有弹性体，弹性体可为螺旋状、S形状、半弧形状等，弹性体的两端分别连接探测部和接线部。此种弹性体的缺陷是:其折弯点容易断裂，工作过程中产生的应力和弹性体本身的内应力都会集中在折弯点上，导致弯曲部的断裂，损坏产品O
技术实现思路
本专利技术的目的是针对上述现有技术的不足，提供一种能够防止弹性体弯曲部断裂的用于测试治具的探针。为实现上述目的，本专利技术所采取的技术方案如下。一种用于测试治具的探针，包括依次连接的探测段、弹性体和接线段，所述接线段连接有导...
【技术保护点】
一种用于测试治具的探针，包括依次连接的探测段、弹性体和接线段，所述接线段连接有导线，其特征在于，所述弹性体的弯曲部设置有加强筋。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨俊民，
申请(专利权)人：苏州市国晶电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。