【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开一种,其利用沟槽方式,再通过扩散制作一n型通道连接沟道与漏极,n型通道所形成的十字型结构或T字形也是3D结构,PN之间形成空乏区(耗尽层)从单一的垂直方向改变为垂直与水平两个方向,这样可以大幅提高这个区域的耐压,从而可以增加N通道的掺杂浓度,进而又起到降低导通电阻的作用;同时,上述结构中栅极底部与漏极之间由P外延阻隔,从而使栅极底部与漏极之间的电容基本为零;并且通道与沟道的接触部分较小,可以大幅消除栅极和Drain之间的电容,可以大幅减少Gate开关时的充、放电时间(Qgd可以大幅降低),从而提高了MOS管的开关速度。【专利说明】
本专利技术涉及一种功率场效应管,具体涉及一种。
技术介绍
功率场效应(MOS)管在反压较高时,由于外延层承担反压,其外延层的电阻率较大及厚度较厚,而导致外延层电阻占整体导通电阻的比例最大,因此,通过改善外延层电阻来提升功率MOS管性能的效果最明显。目前,比较流行的方法是采用类似超级结SuperJunction的3D结构,如图1所示,类似Super Junction的3D结构从两个方面减小外延层电阻。一方 ...
【技术保护点】
基于沟槽方式的通道分压场效应管的生产方法,其特征是包括如下步骤:(1)在N+衬底(4)上生长P型外延层(5);(2)在P型外延层(5)上光蚀刻出多条条状沟槽,且各条状沟槽均一直蚀刻到N+衬底(4)界面;(3)在条状沟槽的下部填充n+型单晶硅;(4)在条状沟槽的上部填充P型单晶硅,并清洁表面;(5)在剩余P型外延层(5)上再次光蚀刻出多条条状槽;每条条状槽均处于2条条状沟槽之间;(6)在步骤(5)所得晶体的表面生长氧化层(9),该氧化层(9)位于条状槽的底部和侧壁、P型外延层(5)的上表面、以及P型单晶硅的上表面;(7)在覆盖有氧化层(9)的条状槽中沉积良导体(8),并在功能 ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:关仕汉,李勇昌,彭顺刚,邹锋,王常毅,
申请(专利权)人:桂林斯壮微电子有限责任公司,
类型:发明
国别省市:
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