【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种快速、简便识别多晶硅片质量的方法，其特征是：将多晶硅片经过腐蚀液处理后，根据硅片表面情况，判别出硅片的质量。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘晓兵，赵福祥，朱琛，张芳芳，李秉喆，洪定义，
申请(专利权)人：韩华新能源启东有限公司，
类型：发明
国别省市：
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