一种用于TOPCon电池LPCVD双插清洗方法技术

技术编号:40744192 阅读:24 留言:0更新日期:2024-03-25 20:02
本发明专利技术涉及一种用于TOPCon电池LPCVD双插清洗方法,包括:(1)对制绒后的硅片进行如下处理:先对制绒后的硅片正面进行硼掺杂,设置硼扩温度为1030‑1070℃,氧化驱入时间4000s‑5200s;再在所述硅片背面沉积隧穿氧化层和非晶硅层;然后在所述硅片背面进行磷掺杂,设置磷扩温度为870‑920℃;(2)对硅片依次进行链式清洗、槽式清洗、预清洗、去绕镀、后清洗、第一次酸洗、碱洗、第二次酸洗、慢提拉、烘干步骤。本发明专利技术提供的清洗方法,在保证去绕镀清洗效果的同时,清洗后外观良好,良率接近100%,最终成品电池外观正常,电池效率正常,提高LPCVD工序100%的产能,大大降低生产成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于太阳能电池制备领域,具体涉及一种用于topcon电池lpcvd双插清洗方法。


技术介绍

1、n型隧穿氧化层钝化接触(n-topcon)电池是指由隧穿氧化层与掺杂多晶硅共同形成钝化的一类电池,其钝化机理是:超薄氧化硅直接与硅基体接触,中和硅表面的悬挂键,进行优异的化学钝化:重掺杂的多晶硅层因与硅基体存在费米能级的差异,在硅基体表面造成能带弯曲,可以更加有效的阻挡少子的通过,而不会影响多子的传输,实现载流子的选择性收集。

2、在光伏电池领域,提效和降本一直是两大不可逃避的话题。随着技术的不断发展,topcon电池产业化效率不断提高,目前很多企业平均效率已经突破了26%。对于降本方面,一直以来都是各个企业致力于讨论和研究的话题,如何在产业化生产制造中不断降低成本,提高产品市场竞争力。

3、传统的topcon电池在制作遂穿氧化层和非晶硅层时,如果使用lpcvd设备,目前主要是单插的方式,即石英舟的一个卡槽里面只插1片硅片,清洗效率低;如果使用双插的方式,可以提高100%的产能,但是对于去绕镀清洗难度很大。在清洗之前,硼扩散工艺本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于TOPCon电池LPCVD双插清洗方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的用于TOPCon电池LPCVD双插清洗方法,其特征在于,步骤(2)的去绕镀中,使用包含KOH和去绕镀添加剂的混合溶液去除所述硅片正面及四周绕镀多晶硅层。

3.根据权利要求2所述的用于TOPCon电池LPCVD双插清洗方法,其特征在于,所述去绕镀添加剂型号为EP10V17或PR23V03。

4.根据权利要求2所述的用于TOPCon电池LPCVD双插清洗方法,其特征在于,步骤(2)的去绕镀中,所述KOH占混合溶液的体积分数为3.5-6.0%,去绕镀添加剂占混合溶...

【技术特征摘要】

1.一种用于topcon电池lpcvd双插清洗方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的用于topcon电池lpcvd双插清洗方法,其特征在于,步骤(2)的去绕镀中,使用包含koh和去绕镀添加剂的混合溶液去除所述硅片正面及四周绕镀多晶硅层。

3.根据权利要求2所述的用于topcon电池lpcvd双插清洗方法,其特征在于,所述去绕镀添加剂型号为ep10v17或pr23v03。

4.根据权利要求2所述的用于topcon电池lpcvd双插清洗方法,其特征在于,步骤(2)的去绕镀中,所述koh占混合溶液的体积分数为3.5-6.0%,去绕镀添加剂占混合溶液的体积分数为0.8-1.2%;清洗温度为62~75℃,清洗时间为150~500s。

5.根据权利要求1所述的用于topcon电池lpcvd双插清洗方法,其特征在于,步骤(2)的槽式清洗中,使用包含koh和h2o2的混合溶液对所述硅片进行清洗,其中koh占混合溶液的体积分数为0.5-1.3%,h2o2占混合溶液的体积分数为1.8-3.0%;清洗温度为35~45℃,清洗时间为55~75s。

6.根据权利要求1所述的用于topcon电池lpcvd双插清洗方法,其特征在于,步骤(2)的后清洗中,使用包含koh和h2o2的混合溶液对所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:沈利娟赵福祥沈健沈健锋黄张健李鑫
申请(专利权)人:韩华新能源启东有限公司
类型:发明
国别省市:

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