内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置，通过在多核芯片内部设计一个电路模块，该电路模块一头连接芯片中一协处理器作为控制处理器，另外一头连接各个调试处理器的JTAG接口汇总模块。控制处理器同时连接USB收发装置，通过控制处理模块将从USB收发装置过来的命令转化成JTAG信号对各个处理器进行调试。因此，节省了调试时外围PC端与开发板间的USB转JTAG调试器，同时可通过软件支持多核芯片中多个CPU的在线同步调试。减低了开发板成本，提高了调试灵活性。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置，包括：USB收发装置、控制处理器、JTAG接口汇总模块以及若干调试处理器，所述USB收发装置接收所述外围PC机输出的调用指令；所述控制处理器接收所述调用指令，并将所述调用指令传输给所述JTAG接口汇总模块进行配置；所述JTAG接口汇总模块接收所述控制处理器传输的调用指令，并转换输出不同的JTAG时序指令至相应的调试处理器；所述调试处理器接收相应所述JTAG时序指令进行调试，并将调试结果以此经过所述JTAG接口汇总模块、控制处理器及USB收发装置反馈输出至所述外围PC机。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李飞，泮建光，
申请(专利权)人：杭州士兰微电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：