【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
Cu?Zn?Sn?Ni?P系合金,其以质量%计含有Sn:0.2~0.8%、Zn:3~18%、Ni:0.3~1.2%、P:0.01~0.12%,剩余部分包含Cu和不可避免的杂质,晶体粒径为1μm以上且10μm以下,将来自(220)面的X射线衍射强度设为I(220),将来自(311)面的X射线衍射强度设为I(311),且将纯铜粉末标准试样的来自(220)、(311)面的X射线衍射强度分别设为I0(220)、I0(311)时,满足I(220)/I0(220)≤3.0且I(311)/I0(311)≤0.5。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:前田直文,
申请(专利权)人:JX日矿日石金属株式会社,
类型:发明
国别省市:
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