探针测试装置制造方法及图纸

一种探针测试装置，包括主体固定座、光电开关、弹性支架及探针。当探针与待测试PCB板接触时，探针因受到挤压而使弹性支架发生弹性形变，遮光块遮挡光电开关的光通量。探针对待测试PCB板的压力为弹性支架形变所产生的弹力。随着探针测试装置继续移动，探针对待测试PCB板的压力，弹性支架的形变量增加，从而使遮光块遮挡光电开关的光通量也增大。当光电开关接收的光通量小于阀值时，探针测试装置停止移动，从而控制探针对待测试PCB板的接触压力。光电开关相较于高精度的位置传感器及压力传感器价格低廉，从而可有效的降低探针测试装置的成本。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种探针测试装置，其特征在于，包括：主体固定座，在牵引装置的带动下可移动；光电开关，安装于所述主体固定座上，所述光电开关接收的光通量小于阈值时，发出停止信号以控制所述主体固定座停止移动；弹性支架，固定于所述主体固定座上，所述弹性支架上设有凸起的遮光块，所述遮光块位于所述光电开关接收光照的光路边缘；及探针，设于所述弹性支架远离所述主体固定座的一端；其中，所述弹性支架沿所述探针的延伸方向可产生弹性形变，并带动所述遮光块遮挡所述光电开关的光路，以使所述光电开关接收的光通量产生变化。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谭艳萍，黄俊华，王星，宋福民，高云峰，
申请(专利权)人：深圳市大族激光科技股份有限公司，深圳市大族数控科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：