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一种探针测试装置，包括主体固定座、光电开关、弹性支架及探针。当探针与待测试PCB板接触时，探针因受到挤压而使弹性支架发生弹性形变，遮光块遮挡光电开关的光通量。探针对待测试PCB板的压力为弹性支架形变所产生的弹力。随着探针测试装置继续移动，探...该专利属于深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司授权不得商用。