制造多孔绝缘膜的方法和包含所述多孔绝缘膜的半导体器件技术

技术编号:9061503 阅读:154 留言:0更新日期:2013-08-22 00:40
本发明专利技术涉及制造多孔绝缘膜的方法和包含所述多孔绝缘膜的半导体器件。通过经由CVD在半导体衬底上沉积烷基化的环状硅氧烷前体而制造具有高弹性模量的低k多孔绝缘膜。在CVD期间或在所沉积的膜上原位进行CVD的等离子体增强。在受控的温度和时间条件下进行膜的UV固化,其在相邻环部分之间产生紧密键合结构而不破坏Si-O环键合。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种制造多孔绝缘膜的方法,其包括:通过经由CVD沉积具有至少一个烃侧链的至少一种环状硅氧烷化合物而在半导体衬底上形成前体层;和通过在如下条件下将绝缘膜暴露于UV能量从而将所述前体层转化成多孔绝缘膜,该条件使得所述至少一种环状硅氧烷化合物的相邻分子经由烃基而键合,并且所述多孔绝缘膜具有大于5GPa的通过纳米压痕仪测量的弹性模量。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:井上尚也田上政由
申请(专利权)人:瑞萨电子株式会社
类型:发明
国别省市:

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