一种均匀域测试装置，适用于电磁场辐射抗扰度均匀域测试。该均匀域测试装置包括测试架与安装于测试架的若干场强探头。该若干场强探头位于同一平面内并呈阵列排布，位于同一行或同一列的相邻的场强探头的间距不小于电磁场辐射抗扰度均匀域测试中相邻测试点的最小间距。同时提供一种使用该均匀域测试装置进行电磁场辐射抗扰度均匀域测试的方法。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电磁场测试领域，尤其涉及一种电磁场辐射抗扰度。
技术介绍
在进行电磁兼容测试的射频电磁场辐射抗扰度试验之前需要对测试场地进行验证，进行均匀域的量测以确保测试场地中电磁场强分布充分均匀。一般来说，测试所使用的均匀域尺寸为1.5mX 1.5m，其中包含十六个用于均匀域场强量测的测试点。在进行均匀域的量测时，将场强探头放置在其中一个测试点上，使用信号发生器、功率放大器及发射天线在每个预定的发射频率段中分别以不同的天线极性(例如水平与垂直极性)发射不同频率的测试信号。场强探头在所选的测试点分别接收具有不同极性及频率点测试信号，从而感测到对应各个测试信号的场强读值。在该测试点获得对应每个预订极性及频率点测试信号的场强读值后，将该场强探头移至其他测试点，一一重复上述测试操作，最后汇整所有测试点对应具有不同极性及频率点测试信号的场强读值，以考察该均匀域中场强的均匀度。在上述测试过程中，当场强探头位于每个测试点时，都要分别调节天线极性及测试信号的发射频率，以在该测试点分别获取对应具有不同极性及频率点测试信号的场强读值，而且该操作需要重复多次。因此，上述现有测试方法显然耗费时间较长，操作繁琐，且多次移动场强探头容易导致定位精度不够而使测量的结果不准确。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种操作简单的均匀域测试装置。另外，有必要提供一种操作简单的均匀域测试方法。一种均匀域测试装置，适用于电磁场辐射抗扰度均匀域测试。该均匀域测试装置包括测试架与安装于测试架的若干场强探头。该若干场强探头位于同一平面内并呈阵列排布，位于同一行或同一列的相邻的场强探头的间距不小于电磁场福射抗扰度均勻域测试中相邻测试点的最小间距。一种上述均匀域测试装置进行均匀域测试的方法，包括如下步骤:a.将所述均匀域测试装置放入第一频段均匀域验证平面区域中，使若干场强探头分别对应该频段均匀域验证平面区域中的测试点；b.进行第一频段的均匀域的量测；c.更换发射天线以使其适应第二频段的均匀域的量测；d.进行第二频段的均匀域的量测；e.判定测试结果。使用所述均匀域测试装置进行电磁场辐射抗扰度均匀域测试，可拆卸地安装多个场强探头于该均匀域测试装置上，该多个场强探头位于同一平面内并呈阵列排布。该等场强探头分别对应电磁场辐射抗扰度均匀域测试的多个测试点。从而在测试时无须多次调节场强探头的位置，也无须多次调节发射频率及更换发射天线的极性，相比大大缩短了量测的时间并简化了操作过程。附图说明图1为本专利技术较佳实施例的均匀域测试装置的示意图。图2为图1所示均匀域测试装置的进行均匀域测试的示意图。图3为本专利技术较佳实施例的均匀域测试装置进行电磁场辐射抗扰度均匀域测试的方法流程图。图4为本专利技术较佳实施例均匀域测试的方法中各频段测试的方法流程图。主要元件符号说明权利要求1.一种均匀域测试装置，适用于电磁场辐射抗扰度均匀域测试，其特征在于:该均匀域测试装置包括测试架与安装于测试架的若干场强探头，该若干场强探头位于同一平面内并呈阵列排布，位于同一行或同一列的相邻的场强探头的间距不小于电磁场辐射抗扰度均匀域测试中相邻测试点的最小间距。2.如权利要求1所述的均匀域测试装置，其特征在于:所述场强探头阵列的区域与电磁场辐射抗扰度均匀域测试所需的最大区域相一致。3.如权利要求2所述的均匀域测试装置，其特征在于:所述场强探头可拆卸地装设在测试架上。4.如权利要求1所述的均匀域测试装置，其特征在于:所述测试架包括底座、垂直立于底座之上且相互平行的两个立柱及以预定高度间隔设置于立柱上且相互平行的若干水平横杆，同一立柱上相邻的横杆的间距不小于电磁场辐射抗扰度均匀域测试中相邻测试点的最小间距，两立柱上同一高度的横杆相对的端部的间距不小于电磁场辐射抗扰度均匀域测试中相邻测试点的最小间距。5.如权利要求4所述的均匀域测试装置，其特征在于:所述若干横杆位于同一竖直平面内，所述若干场强探头分别安装于该若干横杆的两端，以使该等场强探头形成适应均匀域测试的平面区域。6.一种使用权利要求1至5所述的任一均匀域测试装置进行均匀域测试的方法，其特征在于包括如下步骤: a.将所述均匀域测试装置放入均匀域验证平面区域中，使若干场强探头分别对应该频段均匀域验证平面区域中的测试点； b.进行第一频段的均匀域的量测； c.更换发射天线以使其适应第二频段的均匀域的量测； d.进行第二频段的均匀域的量测； e.判定测试结果。7.如权利要求6所述的均匀域测试的方法，其特征在于:所述第一频段为低频段时，第二频段为高频段，当第一频段为高频段时，第二频段为低频段，该低频段均匀域的量测中，使用低频发射天线，该高频段均匀域的量测中，使用高频发射天线。8.如权利要求6所述的均匀域测试的方法，其特征在于所述第一频段及第二频段的均匀域的量测还包括如下步骤: f.发射预定极性的信号到该频段均匀域验证平面区域中； g.调节发射功率，使某一场强探头读到一个预定场强，记录此时发射功率及其余场强探头的读值； h.以特定步长增加发射频率，直到该频段的频率上限，记录各个频率点的发射功率及各场强探头的读值； 1.更换发射信号的极性，重复步骤g，h。9.如权利要求8所述的均匀域测试的方法，其特征在于:所述低频段的频率范围为80MHz 1000MHz，高频段的频率范围为IGHz 3GHz。全文摘要一种均匀域测试装置，适用于电磁场辐射抗扰度均匀域测试。该均匀域测试装置包括测试架与安装于测试架的若干场强探头。该若干场强探头位于同一平面内并呈阵列排布，位于同一行或同一列的相邻的场强探头的间距不小于电磁场辐射抗扰度均匀域测试中相邻测试点的最小间距。同时提供一种使用该均匀域测试装置进行电磁场辐射抗扰度均匀域测试的方法。文档编号G01R1/067GK103185841SQ20111044366公开日2013年7月3日 申请日期2011年12月27日 优先权日2011年12月27日专利技术者何小练 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种均匀域测试装置，适用于电磁场辐射抗扰度均匀域测试，其特征在于：该均匀域测试装置包括测试架与安装于测试架的若干场强探头，该若干场强探头位于同一平面内并呈阵列排布，位于同一行或同一列的相邻的场强探头的间距不小于电磁场辐射抗扰度均匀域测试中相邻测试点的最小间距。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：何小练，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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