放射线断层摄影装置、被照射射线量计算方法以及程序制造方法及图纸

本发明专利技术涉及放射线断层摄影装置、被照射射线量计算方法以及程序。其显示与摄影对象的表面或其附近对应的被照射射线量。例如，基于在对CTDI测定用标准模型（50）进行扫描时在其表面的附近位置处使用X传感器（51）测定的放射线射线量来计算该被照射射线量。测定放射线射线量的位置，例如是为使显示的被照射射线量为与表面对应的被照射射线量中最大的被照射射线量，而设定为不受到托架（12）导致的X射线（81）的减弱的影响的、模型（50）的正上方侧的表面附近位置（B）。从而提供能进行摄影对象的更正确的被照射评价的信息。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及放射线断层摄影装置、被照射射线量计算方法以及为此的程序(program)ο
技术介绍
在以X射线CT (Computed Tomography)装置为代表的放射线断层摄影装置中，确定为显示表示每单位切片(slice)厚的被照射射线量的CTDI值、表示I次检查整体中的被照射射线量的DLP值(例如，参照专利文献1，图27等)。由此，能进行摄影对象的被照射评价。专利文献1:日本特开2007-54372号公报。
技术实现思路
然而，实际上，被照射射线量的分布并不均匀，在摄影部位的表面最大，越接近中心部越小。另外，放射线感受性高的部位，存在于被检体的体表面附近。因此，仅用现行那样的表示每单位切片厚的被照射射线量的CTDI值、表示I次检查整体的被照射射线量的DLP值，不能够正确地进行摄影对象的被照射评价。由于这样的情况，希望有提供能进行摄影对象的更正确的被照射评价的信息的技术。第I观点的专利技术提供一种放射线断层摄影装置，显示与摄影对象的表面附近对应的被照射射线量。第2观点的专利技术提供如上述第I观点的放射线断层摄影装置，其中，具备计算单元，所述计算单元基于对模型(phantom)进本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种放射线断层摄影装置，显示与摄影对象的表面附近对应的被照射射线量。

【技术特征摘要】
2011.11.29 JP 2011-2604801.一种放射线断层摄影装置，显示与摄影对象的表面附近对应的被照射射线量。2.如权利要求1所述的放射线断层摄影装置，其中，具备计算单元，所述计算单元基于对模型进行放射线照射时、仅在所述模型的表面附近的测定位置处测定的放射线射线量，计算所述被照射射线量。3.如权利要求2所述的放射线断层摄影装置，其中，所述计算单元基于在对模型进行放射线照射时、在作为所述模型的表面附近的测定位置的、放射线射线量实质上成为最大的位置处测定的放射线射线量，计算所述被照射射线量。4.如权利要求3所述的放射线断层摄影装置，其中， 所述模型承载于摄影台的桌面上， 所述放射线实质上成为最大的位置是最接近放射线源的位置。5.如权利要求2到4的任一项所述的放射线断层摄影装置，其中，所述计算单元基于对所述模型进行扫描时、在所述表面附近的测定位置处测定的第I放射线射线量，计算所述被照射射线量。6.如权利要求2到4的任一项所述的放射线断层摄影装置，其中，所述计算单元基于将对所述模型进行扫描时、在所述表面附近的测定位置处测定的放射线射线量、除以对所述模型以与该扫描相同的放射线束宽度进行放射线照射时在该测定位置处测定的放射线束宽度方向的射线量曲线用其峰射线量值归一化后的曲线面积而成的第I放射线射线量，计算所述被照射射线量。7.如权利要求6所述的放射线断层摄影装置，其中，所述射线量曲线是将放射线源配置于互相不同的多个观察角度而进行放射线照射时测定的多个射线量曲线平均化后的曲线。8.如权利要求5到7的任一项所述的放射线断层摄影装置，其中，在设定螺旋扫描作为期望扫描条件的情况下，所述计算单元基于所述第I放射线射线量除以螺旋间距而成的放射线射线量，计算所述被照射射线量。9.如权利要求5到7的任一项所述的放射线断层摄影装置，其中，在设定可变间距螺旋扫描作为期望扫描条件的情况下，所述计算单元基于所述第I放射线射线量除以使用时间加权平均得到的螺旋间距换算值而成的放射线射线量，计算所述被照射射线量。10.如权利要求5到9的任一项所述的放射线断层摄影装置，其中，在设定照射不足360度的量的放射线的局部扫描作为期望扫描条件的情况下，所述计算单元基于进行所述局部扫描的观察角度范围，计算所述被照射射线量。11.如权利要求5到9的任一项所述的放射线断层摄影装置，其中，在设定照射不足360度的量的放射线的局部扫描作为期望扫描条...

【专利技术属性】
技术研发人员：石原阳太郎，
申请(专利权)人：GE医疗系统环球技术有限公司，
类型：发明
国别省市：