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本发明涉及放射线断层摄影装置、被照射射线量计算方法以及程序。其显示与摄影对象的表面或其附近对应的被照射射线量。例如，基于在对CTDI测定用标准模型（50）进行扫描时在其表面的附近位置处使用X传感器（51）测定的放射线射线量来计算该被照射射线...
该专利属于GE医疗系统环球技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过GE医疗系统环球技术有限公司授权不得商用。

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