导通检测装置和导通检测方法制造方法及图纸

技术编号:8687781 阅读:151 留言:0更新日期:2013-05-09 07:34
提供导通检测装置和导通检测方法,其中的每一个能够以低成本可靠地检测多布线图案中的断线的发生。提供了被配置成检测包括第一端子和第二端子且还包括每个将所述第一端子和所述第二端子相互电连接的多个布线的多布线图案的导通的导通检测装置100,所述导通检测装置的特征在于包括:电感测量部110,其测量所述第一端子和所述第二端子之间的电感值;导通确定部120,其将所述电感值与用于导通确定的阈值相比较,并且结果,当所述电感值大于用于导通确定的所述阈值时,确定在多布线图案中引起断线,并且当所述电感值不大于用于导通确定的所述阈值时,确定在所述多布线图案中未引起断线;存储部130,其存储用于导通确定的所述阈值;以及显示部140,其显示由所述导通确定部120执行的所述确定的结果。?

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及,并且更特别地涉及被用于在印刷布线板上形成的多布线图案的。
技术介绍
作为用于检测在印刷布线板上形成的布线图案的导通的方法,主要已知引脚接触方法和非接触方法(专利文献I)。在引脚接触方法中,使探针引脚与要检测的印刷布线板的布线图案的相对末端相接处,并且促使电流在探针引脚中的一个中流动。然后,从由探针引脚中的另一个所检测的电压值获得布线图案的DC电阻值,并且从而检测布线图案的导通(参见专利文献I的段落和)。另一方面,在非接触方法中,以通过使探针引脚与要检测的印刷布线板的布线图案的一端进行直接接触来施加包含AC分量的检测信号并经由非接触电容耦合在布线图案的另一端处检测检测信号(参见专利文献I的段落)这样的方式来检测布线图案的导通。引用列表 专利文献 专利文献1:日本专利号3311698 专利文献2:日本专利特许公开号2002-148290。
技术实现思路
技术问题 然而,即使当使用任何上述检测方法时,也难以检测多布线图案的导通。多布线图案意指具有第一端子和第二端子且具有多布线图案的多布线图案,所述多布线图案每个将第一端子和第二端子相互电连接。所述多布线图案被用于应用,从而减小电路的阻抗,并将大电流分配到多个布线以从而减小流入每个布线中的电流的量。图7示出了多布线图案的配置示例,图7 (a)是在其上面提供了多布线图案的双面印刷布线板51的顶视图,并且图7 (b)是沿着图7 (a)中的线A-A’的横截面图。导体图案(conductor pattern) 53A和导体图案53B分别在绝缘基板52的顶面和背面上形成。请注意,如图7 Ca)中所示,导体图案53B被形成为比导体图案53A宽。导体图案53A包括布线54,并且还包括在布线54的相对末端处提供的端子55和端子56。同样地,导体图案53B包括布线57,并且还包括在布线57的相对末端处提供的端子58和端子59。此外,如图7 (b)中所示,端子55和端子58被通孔60相互电连接,并且同样地,端子56和端子59被通孔61相互电连接。这样,在双面印刷布线板51上提供具有两个布线的多布线图案。也就是说,多布线图案包括作为第一端子的端子55以及作为第二端子的端子56,并且还包括第一布线和第二布线,其中的每一个将第一端子和第二端子相互电连接。第一布线是布线54,并且第二布线是由导体图案53B、通孔60以及通孔61配置的。第二布线的电阻大于第一布线的电阻,因为导体图案53B被形成为比导体图案53A窄,并且因为通孔60和61的电阻被包括在第二布线的电阻中。因此,当用引脚接触方法来检测布线的导通时,根据组成布线的相应元件的尺寸变化,可能不能检测具有比第二布线小的电阻值的第一布线的断线(breakage )。在其中用非接触方法来检测布线的导通的情况下,当第一布线和第二布线断线时,从未断线的布线检测检测信号。因此,在非接触方法中,大体上不可能检测第一布线或第二布线断线。这样,在引脚接触方法和非接触方法中的每一个中,不可能可靠地检测组成多布线图案的多个布线中的一些已断线。请注意,用于检测多布线图案的断线的方法的示例包括使用TDR(时域反射测量技术)示波器的方法(参见专利文献2)。通过使用TDR示波器,大体上可能检测到多布线图案的一部分已断线。然而,由于TDR示波器装置是昂贵的,所以使用TDR示波器的检测存在的问题是该检测是昂贵的。基于对上述问题的认识做出了本专利技术,并且本专利技术的目的是提供,其中的每一个能够以低成本可靠地检测多布线图案中的断线的发生。问题的解决方案 根据本专利技术的一个方面,提供了一种导通检测装置,其被配置成检测包括第一端子和第二端子且还包括每个将第一端子和第二端子相互电连接的多个布线的多布线图案的导通,该导通检测装置的特征在于包括测量第一端子与第二端子之间的电感的值的电感测量部和导通确定部,该导通确定部将电感值与用于导通确定的阈值相比较,并且作为结果,当电感值大于用于导通确定的阈值时,确定在多布线图案中引起了断线,并且当电感值不大于用于导通确定的阈值时,确定在多布线图案中未引起断线。根据本专利技术的另一方面,提供了一种导通检测方法,其被配置成检测包括第一端子和第二端子且还包括每个将第一端子和第二端子相互电连接的多个布线的多布线图案的导通,该导通检测方法的特征在于测量第一端子与第二端子之间的电感的值,并将电感值与用于导通确定的阈值相比较,并且作为结果,当电感值大于用于导通确定的阈值时,确定在多布线图案中引起了断线,并且当电感值不大于用于导通确定的阈值时,确定在多布线图案中未引起断线。本专利技术的有利效果 根据本专利技术,可以以低成本可靠地检测多布线图案中的断线的发生。附图说明图1是示出了根据本专利技术的第一实施例的导通检测装置的示意性配置的方框图。图2是示出了基于四端子对方法的电感测量部的配置的视图。图3是示出了其中将布线的尺寸变化考虑在内的情况的多布线图案的电感值范围的图表。 图4是示出了多布线图案的电感值的测量结果的视图。图5是示出了根据本专利技术的第二实施例的导通检测装置的示意性配置的方框图。图6是示出了根据第二实施例的导通检测方法的流程图。图7 Ca)是在双面印刷布线板上提供的多布线图案的配置的示例的顶视图,并且图7 (b)是沿着图7 (a)中的线A-A’的横截面图。具体实施例方式下面,将参考附图来描述根据本专利技术的实施例。请注意,用相同的附图标记和字符来表示其中的每一个在相应图中具有相同功能的部件,并且将不重复其解释。(第一实施例) 图1是示出了根据第一实施例的导通检测装置100的示意性配置的方框图。导通检测装置100包括电感测量部110、电感确定部120、存储部130以及显示部140。电感测量部110测量多布线图案的第一端子和第二端子之间的电感值。测量方法的示例包括两端子方法和四端子方法,但是能够减少由测量电流产生的磁通量的影响的四端子对方法作为测量方法是优选的。将参考图2来描述用四端子对方法进行的电感值测量。导通确定部120将由电感测量部110测量的电感值与预定确定阈值(用于导通确定的阈值)相比较。作为比较的结果,当电感值大于用于导通确定的阈值时,导通确定部120确定在多布线图案中引起断线。当电感值不大于用于导通确定的阈值时,导通确定部120确定在多布线图案中未引起断线。作为用于导通确定的阈值,使用当在多布线图案中引起断线时小于在第一端子与第二端子之间的电感值(断线电感值)且当在多布线图案中未引起断线时大于第一端子与第二端子之间的电感值(非断线电感值)的值。请注意,优选的是断线电感值是在发生断线的情况下电感根据多布线图案的尺寸变化能够采取的值范围的下限值,并且非断线电感值是在未发生断线的情况下电感根据多布线图案的尺寸变化能够采取的值范围的上限值。存储部130是非易失性存储器,诸如,例如硬盘(HDD)或闪速存储器,并且存储用于导通确定等的上述阈值。导通确定部120从存储部130读取用于导通确定的阈值,并且将用于导通确定的阈值与由电感测量部110测量的电感值(或由下述电阻测量部150测量的电阻的值)相比较。显示部140是例如液晶显示器或打印机,并且显示由导通确定部120执行的确定的结果。接下来,描述了其中采用四端子对方法的情况下的电感测量部110的配置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.09.08 JP 2011-1961981.一种被配置成检测多布线图案的导通的导通检测装置,所述多布线图案包括第一端子和第二端子且还包括每个将所述第一端子和所述第二端子相互电连接的多个布线,所述导通检测装置包括: 电感测量部,其测量所述第一端子与所述第二端子之间的电感的值;以及 导通确定部,其将所述电感值与用于导通确定的阈值相比较,并且结果,当所述电感值大于用于电感确定的所述阈值时,确定在所述多布线图案中引起断线,并且当所述电感值不大于用于导通确定的所述阈值时,确定在所述多布线图案中未引起断线。2.根据权利要求1所述的导通检测装置,其中,用于导通确定的所述阈值小于断线电感值,所述断线电感值是所述 多布线图案中发生断线的情况下的所述第一端子和所述第二端子之间的电感值,并且大于非断线电感值,所述非断线电感值是所述多布线图案中未发生断线的情况下的所述第一端子和所述第二端子之间的电感值。3.根据权利要求2所述的导通检测装置,其中,所述断线电感值是在发生断线的情况下所述电感根据所述多布线图案的尺寸变化能够采取的值范围的下限值,并且非断线电感值是在未发生断线的情况下所述电感根据所述多布线图案的尺寸变化能够采取的值范围的上限值。4.根据权利要求2所述的导通检测装置,其中,用于导通确定的所述阈值是所述断线电感值和所述非断线电感值的平均值。5.根据权利要求2所述的导通检测装置,还包括测量所述第一端子和所述第二端子之间的电阻值的电阻测量部, 其中,所述导通确定部将所述电阻值与用于开路确定的阈值相比较,并且结果,当所述电阻值大于用于开路确定的所述阈值时,确定全部的所述多个布线断线,并且不使用所述电感值来执行所述导通检测。6.根据权利要求5所述的导通检测装置,其中,所述导通确定部将所述电阻值与用于短路确定的阈值相比较,并且结果,所述电阻值小于用于短路确定的所述阈值,所述导通确定部确定在所述多布线图案中引起短路。7.根据权利要求1所述的导通检测装置,其中,所述电感测量部包括电感计,包括: AC信号源,其向所述多布线图案的所述第一端子供应用于测量的AC电流; AC安培表,其测量从所述第二端子流出的所述AC电流;以及 AC伏特表,其测量所述第一端子和所述第二端子之间的电压,并且所述电感测量部还包括: 第一同轴电缆,其包括被电连接至所述AC信号源的所述输出端子的中心导体,以及被电连接至所述AC信号源的所述输入端子的外部导体; 第二同轴电缆,其包括被电连接至所述AC安培表的所述输入端子的中心导体,以及被电连接至所述AC安培表的所述输出端子的外部导体; 第三同轴电缆,其包括被电连接至所述AC伏特表的一个端子的中心导体,以及被电连接至所述第一同轴电缆的所述外部导体的外部导体; 第四同轴电缆,其包括被电连接至所述AC伏特表的另一端子的中心导体,以及被电连接至所述第二同轴电缆的外部导体和所述第三同轴电缆的外部导体的外部导体; 第一探针引脚,其被电连接至所述第一同轴电缆的所述中心导体,并且能够使其与所述第一端子进行接触; 第二探针引脚,其被电连接至所述第二同轴电缆的所述中心导体,并且能够使其与所述第二端子进行接触; 第三探针引脚,其被电连接至所述第三同轴电缆的所述中心导体,并且能够使其与所述第一端子进行接触;以及 第四探针引脚,其被电连接至所述第四同...

【专利技术属性】
技术研发人员:高野祥司松田文彦
申请(专利权)人:日本梅克特隆株式会社
类型:
国别省市:

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