【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及,并且更特别地涉及被用于在印刷布线板上形成的多布线图案的。
技术介绍
作为用于检测在印刷布线板上形成的布线图案的导通的方法,主要已知引脚接触方法和非接触方法(专利文献I)。在引脚接触方法中,使探针引脚与要检测的印刷布线板的布线图案的相对末端相接处,并且促使电流在探针引脚中的一个中流动。然后,从由探针引脚中的另一个所检测的电压值获得布线图案的DC电阻值,并且从而检测布线图案的导通(参见专利文献I的段落和)。另一方面,在非接触方法中,以通过使探针引脚与要检测的印刷布线板的布线图案的一端进行直接接触来施加包含AC分量的检测信号并经由非接触电容耦合在布线图案的另一端处检测检测信号(参见专利文献I的段落)这样的方式来检测布线图案的导通。引用列表 专利文献 专利文献1:日本专利号3311698 专利文献2:日本专利特许公开号2002-148290。
技术实现思路
技术问题 然而,即使当使用任何上述检测方法时,也难以检测多布线图案的导通。多布线图案意指具有第一端子和第二端子且具有多布线图案的多布线图案,所述多布线图案每个将第一端子和第二端子相互电连接。所述多布线图案被用于应用,从而减小电路的阻抗,并将大电流分配到多个布线以从而减小流入每个布线中的电流的量。图7示出了多布线图案的配置示例,图7 (a)是在其上面提供了多布线图案的双面印刷布线板51的顶视图,并且图7 (b)是沿着图7 (a)中的线A-A’的横截面图。导体图案(conductor pattern) 53A和导体图案53B分别在绝缘基板52的顶面和背面上形成。请注意,如图7 Ca)中所示,导 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.09.08 JP 2011-1961981.一种被配置成检测多布线图案的导通的导通检测装置,所述多布线图案包括第一端子和第二端子且还包括每个将所述第一端子和所述第二端子相互电连接的多个布线,所述导通检测装置包括: 电感测量部,其测量所述第一端子与所述第二端子之间的电感的值;以及 导通确定部,其将所述电感值与用于导通确定的阈值相比较,并且结果,当所述电感值大于用于电感确定的所述阈值时,确定在所述多布线图案中引起断线,并且当所述电感值不大于用于导通确定的所述阈值时,确定在所述多布线图案中未引起断线。2.根据权利要求1所述的导通检测装置,其中,用于导通确定的所述阈值小于断线电感值,所述断线电感值是所述 多布线图案中发生断线的情况下的所述第一端子和所述第二端子之间的电感值,并且大于非断线电感值,所述非断线电感值是所述多布线图案中未发生断线的情况下的所述第一端子和所述第二端子之间的电感值。3.根据权利要求2所述的导通检测装置,其中,所述断线电感值是在发生断线的情况下所述电感根据所述多布线图案的尺寸变化能够采取的值范围的下限值,并且非断线电感值是在未发生断线的情况下所述电感根据所述多布线图案的尺寸变化能够采取的值范围的上限值。4.根据权利要求2所述的导通检测装置,其中,用于导通确定的所述阈值是所述断线电感值和所述非断线电感值的平均值。5.根据权利要求2所述的导通检测装置,还包括测量所述第一端子和所述第二端子之间的电阻值的电阻测量部, 其中,所述导通确定部将所述电阻值与用于开路确定的阈值相比较,并且结果,当所述电阻值大于用于开路确定的所述阈值时,确定全部的所述多个布线断线,并且不使用所述电感值来执行所述导通检测。6.根据权利要求5所述的导通检测装置,其中,所述导通确定部将所述电阻值与用于短路确定的阈值相比较,并且结果,所述电阻值小于用于短路确定的所述阈值,所述导通确定部确定在所述多布线图案中引起短路。7.根据权利要求1所述的导通检测装置,其中,所述电感测量部包括电感计,包括: AC信号源,其向所述多布线图案的所述第一端子供应用于测量的AC电流; AC安培表,其测量从所述第二端子流出的所述AC电流;以及 AC伏特表,其测量所述第一端子和所述第二端子之间的电压,并且所述电感测量部还包括: 第一同轴电缆,其包括被电连接至所述AC信号源的所述输出端子的中心导体,以及被电连接至所述AC信号源的所述输入端子的外部导体; 第二同轴电缆,其包括被电连接至所述AC安培表的所述输入端子的中心导体,以及被电连接至所述AC安培表的所述输出端子的外部导体; 第三同轴电缆,其包括被电连接至所述AC伏特表的一个端子的中心导体,以及被电连接至所述第一同轴电缆的所述外部导体的外部导体; 第四同轴电缆,其包括被电连接至所述AC伏特表的另一端子的中心导体,以及被电连接至所述第二同轴电缆的外部导体和所述第三同轴电缆的外部导体的外部导体; 第一探针引脚,其被电连接至所述第一同轴电缆的所述中心导体,并且能够使其与所述第一端子进行接触; 第二探针引脚,其被电连接至所述第二同轴电缆的所述中心导体,并且能够使其与所述第二端子进行接触; 第三探针引脚,其被电连接至所述第三同轴电缆的所述中心导体,并且能够使其与所述第一端子进行接触;以及 第四探针引脚,其被电连接至所述第四同...
【专利技术属性】
技术研发人员:高野祥司,松田文彦,
申请(专利权)人:日本梅克特隆株式会社,
类型:
国别省市:
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