改进全速测试访问端口操作制造技术

技术编号:8687782 阅读:174 留言:0更新日期:2013-05-09 07:34
一种集成电路的1149.1TAP执行全速更新&捕获、移位&捕获和背对背捕获&移位操作。在第一实施例中,通过将CMD信号时分多路复用到TAP的TMS输入,以实现全速操作。CMD信号被输入到CMD电路,其结合双端口路由器操作,从而执行电路的全速操作。在第二实施例中,通过检测TAP的ExitlDR状态作为被输入到CMD电路的CMD信号,以此实现全速操作,其中CMD电路结合双端口路由器操作,从而执行电路的全速操作。在第三实施例中,通过检测TAP的ExitlDR和PauseDR状态,并且进行响应以产生捕获和更新信号,以实现全速操作,其中捕获和更新信号被输入到可编程开关,可编程开关结合双端口路由器操作,从而执行电路的全速操作。在第四实施例中,通过检测TAP的ExitlDR和PauseDR状态并且将这些状态输入到双端口路由器从而控制电路的全速操作,以此实现全速操作。每个实施例可以扩充为包括外部可访问的更新和捕获输入信号,其可以被选择从而允许测试器直接控制电路的全速操作。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】改进全速测试访问端ロ操作
技术介绍
IEEEl 149.1测试访问端ロ(TAP)在半导体エ业中被广泛用作控制许多类型的嵌入式IC电路的IC接ロ,例如但不限于,测试电路、调试电路、编程电路、仪器电路和追踪电路。TAP被证明是过去20年中对控制嵌入式IC电路的操作是有效的。然而,TAP没有被证明对控制依赖于全速更新&捕获和移位&捕获(at speed Update&Capture andShift&Capture)操作的嵌入式IC电路的操作是有效的。本公开的第一部分(图1_7)描述了全速更新&捕获和移位&捕获问题。本公开的第二部分(图8-41)描述了使用各种示例实现的对这个问题的新解决方法。
技术实现思路
本公开描述了新的解决方法,其通过将TAP扩充有额外的电路来解决TAP的全速更新&捕获和移位&捕获问题。在图8-28的第一个公开的解决方法中,通过将CMD信号时分多路复用到TAP的输入并且将CMD信号输入到控制数据寄存器的全速操作的命令(CMD)电路,以此实现全速操作。在图29A-33的第二公开的解决方法中,通过检测TAP的Exitl本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.07.29 US 61/361,906;2010.10.26 US 61/406,674;1.一种集成电路内的测试访问端ロ架构,其包括: TDI输入引线、TCK输入引线、TMS输入引线和TDO输出引线, Tap状态机,其具有耦合到所述TCK输入引线的输入、耦合到所述TMS输入引线的输入、指令寄存器控制输出、控制输出和数据寄存器控制输出, 指令寄存器,其具有耦合到所述TDI输入引线的输入、耦合到所述指令寄存器控制输出的输入、数据寄存器控制输出和输出, 数据寄存器,其具有耦合到所述TDI输入引线的输入、数据寄存器控制输入和输出,命令电路,其具有耦合到所述TCK输入引线的输入、耦合到所述TMS输入引线的输入和数据寄存器控制输出, 双端ロ路由器,其具有耦合到所述Tap状态机的数据寄存器控制输出的输入、耦合到所述命令电路的数据寄存器控制输出的输入、耦合到所述指令寄存器的数据寄存器使能输出的控制输入以及耦合到所述数据寄存器的数据寄存器控制输入的数据寄存器控制输出,和; 多路复用器电路,其具有耦合到所述指令寄存器的输出的输入、耦合到所述数据寄存器的输出的输入、耦合到所述Tap状态机的控制输出的控制输入以及耦合到所述TDO输出引线的输出。2.一种集成电路内的测试访问端ロ架构,其包括: TDI输入引线、TCK输入引线、TMS输入引线和TDO输出引线, Tap状态机,其具有耦合到所述TCK输入引线的输入、耦合到所述TMS输入引线的输入、指令寄存器控制输出、控制输出、 ExitlDR状态检测输出和数据寄存器控制输出, 指令寄存器,其具有耦合到所述TDI输入引线的输入、耦合到所述指令寄存器控制输出的输入、数据寄存器控制输出和输出, 数据寄存器,其具有耦合到所述TDI输入引线的输入、数据寄存器控制输入和输出,命令电路,其具有耦合到所述TCK输入引线的输入、耦合到所述ExitlDR状态检测输出的输入和数据寄存器控制输出, 双端ロ路由器,其具有耦合到所述Tap状态机的数据寄存器控制输出的输入、耦合到所述命令电路的数据寄存器控制输出的输入、耦合到所述指令寄存器的数据寄存器使能输出的控制输入以及耦合到所述数据寄存器的数据寄存器控制输入的数据寄存器控制输出,和; 多路复用器电路,其具有耦合到所述指令寄存器的输出的输入、耦合到所述数据寄存器的输出的输入、耦合到所述Tap状态机的控制输出的控制输入以及耦合到所述TDO输出引线的输出。3.一种集成电路内的测试访问端ロ架构,其包括: TDI输入引线、TCK输入引线、TMS输入引线和TDO输出引线, Tap状态机,其具有耦合到所述TCK输入引线的输入、耦合到所述TMS输入引线的输入、指令寄存器控制输出、控制输出、ExitlDR状态检测输出、PauseDR状态检测输出和数据寄存器控制输出, 指令寄存器,其具有耦合到所述TDI输入引线的输入、耦合到所述指令寄存器控制输出的输入、数据寄存器控制输出和输出,数据寄存器,其具有耦合到所述TDI输入引线的输入、数据寄存器控制输入和输出,...

【专利技术属性】
技术研发人员:L·D·威特赛
申请(专利权)人:德克萨斯仪器股份有限公司
类型:
国别省市:

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