一种轴承密封槽位置的测量装置及其测量方法制造方法及图纸

技术编号:8592418 阅读:185 留言:0更新日期:2013-04-18 05:31
一种轴承密封槽位置的测量装置及其测量方法,涉及轴承制造领域,本发明专利技术通过在所述横杆(2)的另一端设有测量表(6),在基板(5)上部面的任意一侧设有定位叉(10)形成所述的轴承密封槽位置的测量装置,本发明专利技术通过在测高仪基板上设置定位叉,并通过量块调整好测量表的位置后,对轴承套圈进行测量,本发明专利技术使轴承密封槽的位置检测精度适宜、检测操作方便,本发明专利技术具有结构简单实用、检测效率高、制造和维护成本低以及操作方便等特点。

【技术实现步骤摘要】
一种轴承密封槽位置的测量装置及其测量方法
本专利技术涉及轴承制造领域,具体涉及一种轴承密封槽位置的测量装置及其测量方法。
技术介绍
已知的,轴承已被广泛应用到各行各业中,在轴承的加工过程中,为了保证轴承的质量达到设计要求,往往要对加工后轴承的相关尺寸进行测量,其中测量人员在对轴承套圈上的密封槽进行测量时,通常采用的方法是在轴承密封槽角锥面“定义为β角,以下简称β角”的直径上“定义为φDx,以下简称φDx”测高度“定义为高度h,以下简称高度h”;目前本领域技术人员常用的测量方法主要有以下几种:第一种测量方法为测量台法:首先针对测量轴承的型号加工专用的阶梯状测量台,在测量台下部台阶的下面设有与轴承套圈密封槽角锥面相配合的锥面,其锥面角度等于β角,测量台的下部台阶的高度为ho,外径等于φDx,其次将测量台置于轴承套圈的密封槽锥面φDx的表面后,把轴承套圈与测量台的组合体置于测高仪的基板上,平稳推其组合体使组合体置于高度测表的测头下,测头指向测量台的计量面上“即测量台下部台阶的上面上”,此时测表显视尺寸记为hx,测得的hx=h+ho,所以测量目标尺寸h=hx-ho;使用此种测法的缺点为:测量台制造精度要求高、检定难和制造成本高;同时由于测量台自重大,进而导致测量操作时的劳动强度大、工作效率低,操作人员在测量过程中易造成测量台与轴承套圈的磕碰伤而导致的测量失准;由于被测轴承套圈的锥面是车加工的,进而导致轴承套圈密封槽锥面与测量台锥面的贴合性差,使测量精度降低,最主要是由于此种方法测量不是直接测量,进而导致测量误差增大等。第二种测量方法为极限样板测量法:首先按检测要求设计制造出测量样板,测量样板的一侧为大范,另侧为小范,当大范能落到底,小范落不到底时,则工件合格,此种测法只能凭视觉和触觉作定性判断,检测的精度较低,对检测人员的技能要求严格,针对精度要求较高的工件无法使用该方法进行测量。第三种测量方法为轮廓仪测法:首先将被检轴承套圈置于轮廓仪的基板上,调整测拾头,然后从基面至目标点,测量结果智能数显,上述测量方式的测量精度由机器的品质决定,针对不同品牌的机器其精度差异很大,针对一些精度高的机器,购置费用极为昂贵,而大多数品牌技术上尚不成熟,目前只适宜用于实验室,不宜用于工作面的批量检验。
技术实现思路
为克服
技术介绍
中存在的不足,本专利技术提供了一种轴承密封槽位置的测量装置及其测量方法,本专利技术通过在测高仪基板上设置定位叉,使轴承密封槽的位置检测精度适宜、检测操作方便,本专利技术具有结构简单实用、检测效率高、制造成本低和操作方便等特点。为实现如上所述的专利技术目的,本专利技术采用如下所述的技术方案:一种轴承密封槽位置的测量方法,所述测量方法包括如下步骤:第一步:加工量块,加工量块时按照轴承套圈的相关要求设计、制造、检测量块,然后用着色法在量块的计量面处作标记“即在等同轴承密封槽角锥面的直径处作出标记”,同时标出计量检测区;第二步:对表,首先将定位叉固定在基板上,在固定定位叉时,首先将量块置于定位叉两边形成的夹角内,通过滑块下滑带动测量表下降,使测量表的测头垂直指在量块的计量面标记处的中心,锁紧定位叉,然后轻轻旋转量块,使测量表的测头置于计量检测区内,经计算后在测量表的盘面上设定参考点、对表点及合格区;第三步:测量,测量表对好后,用手拉起测量表上部的提柄,使测量表测头上移,取出量块,进一步将轴承套圈置于定位叉两边形成的夹角内,并确定定位正确,此时放下测量表上部的提柄使其测头铅垂指向轴承套圈的被测点上,此时测量表表盘上所示数值即为所需测量的尺寸,记录数据并经过比对步骤二所做的记录后,用手提起测量表上部的提柄,测量表的测头上移,此时取出轴承套圈即完成了一次测量。一种轴承密封槽位置的测量装置,包括测高仪、测量表和定位叉,在测高仪的基板上部面的一侧设有立杆,所述立杆的上部活动设有滑块,所述滑块连接横杆的一端,在所述横杆的另一端设有测量表,在基板上部面的任意一侧设有定位叉形成所述的轴承密封槽位置的测量装置。所述的轴承密封槽位置的测量装置,所述定位叉为V字型结构,定位叉两边之间的角度为120º。所述的轴承密封槽位置的测量装置,所述横杆的一端固定在滑块上,横杆的另一端通过锁紧块固定有测量表。所述的轴承密封槽位置的测量装置,所述测高仪型号为G904。所述的轴承密封槽位置的测量装置,所述测量表为千分表。采用如上所述的技术方案,本专利技术具有如下所述的优越性:本专利技术所述的一种轴承密封槽位置的测量装置及其测量方法,本专利技术通过在测高仪基板上设置定位叉,并通过量块调整好测量表的位置后,对轴承套圈进行测量,本专利技术使轴承密封槽的位置检测精度适宜、检测操作方便,本专利技术具有结构简单实用、检测效率高、制造和维护成本低以及操作方便等特点。【附图说明】图1是本专利技术测量装置结构示意图;图2是本专利技术对表过程结构示意图;图3是本专利技术测量过程结构示意图;图4本专利技术定位叉结构示意图;图中:1、锁紧块;2、横杆;3、滑块;4、立杆;5、基板;6、测量表;7、量块;8、轴承套圈;9、密封槽;10、定位叉。【具体实施方式】通过下面的实施例可以更详细的解释本专利技术,本专利技术并不局限于下面的实施例;结合附图1~4所述的一种轴承密封槽位置的测量装置,包括测高仪、测量表6和定位叉10,在测高仪的基板5上部面的一侧设有立杆4,测高仪型号为G904,所述立杆4的上部活动设有滑块3,所述滑块3连接横杆2的一端,在所述横杆2的另一端通过锁紧块1设有测量表6,所述测量表6为千分表,在基板5上部面的任意一侧设有V字型定位叉10形成所述的轴承密封槽位置的测量装置,所述V字型定位叉10两边之间的角度为120º,所述定位叉10的形状设置为具有定位功能的形状均可。一种轴承密封槽位置的测量方法,所述测量方法包括如下步骤:第一步:加工量块7,加工量块7时按照轴承套圈8的相关要求设计、制造、检测量块7,然后用着色法在量块7的计量面处作标记“即在等同轴承密封槽9角锥面的直径处作出标记”,同时标出计量检测区;第二步:对表,首先将定位叉10固定在基板5上,在固定定位叉10时,首先将量块7置于定位叉10两边形成的夹角内,通过滑块3下滑带动测量表6下降,使测量表6的测头垂直指在量块7的计量面标记处的中心,锁紧定位叉10,然后轻轻旋转量块7,使测量表6的测头置于计量检测区内,经计算后在测量表6的盘面上设定参考点、对表点及合格区;第三步:测量,测量表6对好后,用手拉起测量表6上部的提柄,使测量表6测头上移,取出量块7,进一步将轴承套圈8置于定位叉10两边形成的夹角内,并确定定位正确,此时放下测量表6上部的提柄使其测头铅垂指向轴承套圈8的被测点上,此时测量表6表盘上所示数值即为所需测量的尺寸,记录数据并经过比对步骤二所做的记录后,用手提起测量表6上部的提柄,测量表6的测头上移,此时取出轴承套圈8即完成了一次测量。本专利技术在实施过程中,影响精度的因素有以下几个方面:1、轴承套圈8的外径偏差ΔD;2、φDx的定位偏差。关于精度的高低:不考虑φDx偏差,当测点在120°定位叉10的中分线上、外径偏差ΔD、此时精度最低=(ΔD*tgβ)/2;当测点处于30°线上、外径偏差ΔD、此时精度最高=(ΔD*cos30°*tgβ)/2;案例精度=(本文档来自技高网
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一种轴承密封槽位置的测量装置及其测量方法

【技术保护点】
一种轴承密封槽位置的测量装置,包括测高仪、测量表(6)和定位叉(10),在测高仪的基板(5)上部面的一侧设有立杆(4),所述立杆(4)的上部活动设有滑块(3),所述滑块(3)连接横杆(2)的一端,其特征是:在所述横杆(2)的另一端设有测量表(6),在基板(5)上部面的任意一侧设有定位叉(10)形成所述的轴承密封槽位置的测量装置。

【技术特征摘要】
1.一种轴承密封槽位置的测量方法,其特征是:所述测量方法包括如下步骤:第一步:加工量块(7),加工量块(7)时按照轴承套圈(8)的相关要求设计、制造、检测量块(7),然后用着色法在量块(7)的计量面处作标记“即在等同轴承密封槽(9)角锥面的直径处作出标记”,同时标出计量检测区;第二步:对表,首先将定位叉(10)固定在基板(5)上,在固定定位叉(10)时,首先将量块(7)置于定位叉(10)两边形成的夹角内,通过滑块(3)下滑带动测量表(6)下降,使测量表(6)的测头垂直指在量块(7)的计量面标记处的中心,锁紧定位叉(10),然后轻轻旋转量块(7),使测量表(6)的测头置于计量检测区内,经计算后在测量表(6)的盘面上设定参考点、对表点及合格区;第三步:测量,测量表(6)对好后,用手拉起测量表(6)上部的提柄,使测量表(6)测头上移,取出量块(7),进一步将轴承套圈(8)置于定位叉(10)两边形成的夹角内,并确定定位正确,此时放下测量表(6)上部的提柄使其测头铅垂指向轴承套圈(8)的被测...

【专利技术属性】
技术研发人员:祖朝余苗俊惠
申请(专利权)人:洛阳市洛凌轴承科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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