【技术实现步骤摘要】
一种轴承密封槽位置的测量装置及其测量方法
本专利技术涉及轴承制造领域,具体涉及一种轴承密封槽位置的测量装置及其测量方法。
技术介绍
已知的,轴承已被广泛应用到各行各业中,在轴承的加工过程中,为了保证轴承的质量达到设计要求,往往要对加工后轴承的相关尺寸进行测量,其中测量人员在对轴承套圈上的密封槽进行测量时,通常采用的方法是在轴承密封槽角锥面“定义为β角,以下简称β角”的直径上“定义为φDx,以下简称φDx”测高度“定义为高度h,以下简称高度h”;目前本领域技术人员常用的测量方法主要有以下几种:第一种测量方法为测量台法:首先针对测量轴承的型号加工专用的阶梯状测量台,在测量台下部台阶的下面设有与轴承套圈密封槽角锥面相配合的锥面,其锥面角度等于β角,测量台的下部台阶的高度为ho,外径等于φDx,其次将测量台置于轴承套圈的密封槽锥面φDx的表面后,把轴承套圈与测量台的组合体置于测高仪的基板上,平稳推其组合体使组合体置于高度测表的测头下,测头指向测量台的计量面上“即测量台下部台阶的上面上”,此时测表显视尺寸记为hx,测得的hx=h+ho,所以测量目标尺寸h=hx-ho ...
【技术保护点】
一种轴承密封槽位置的测量装置,包括测高仪、测量表(6)和定位叉(10),在测高仪的基板(5)上部面的一侧设有立杆(4),所述立杆(4)的上部活动设有滑块(3),所述滑块(3)连接横杆(2)的一端,其特征是:在所述横杆(2)的另一端设有测量表(6),在基板(5)上部面的任意一侧设有定位叉(10)形成所述的轴承密封槽位置的测量装置。
【技术特征摘要】
1.一种轴承密封槽位置的测量方法,其特征是:所述测量方法包括如下步骤:第一步:加工量块(7),加工量块(7)时按照轴承套圈(8)的相关要求设计、制造、检测量块(7),然后用着色法在量块(7)的计量面处作标记“即在等同轴承密封槽(9)角锥面的直径处作出标记”,同时标出计量检测区;第二步:对表,首先将定位叉(10)固定在基板(5)上,在固定定位叉(10)时,首先将量块(7)置于定位叉(10)两边形成的夹角内,通过滑块(3)下滑带动测量表(6)下降,使测量表(6)的测头垂直指在量块(7)的计量面标记处的中心,锁紧定位叉(10),然后轻轻旋转量块(7),使测量表(6)的测头置于计量检测区内,经计算后在测量表(6)的盘面上设定参考点、对表点及合格区;第三步:测量,测量表(6)对好后,用手拉起测量表(6)上部的提柄,使测量表(6)测头上移,取出量块(7),进一步将轴承套圈(8)置于定位叉(10)两边形成的夹角内,并确定定位正确,此时放下测量表(6)上部的提柄使其测头铅垂指向轴承套圈(8)的被测...
【专利技术属性】
技术研发人员:祖朝余,苗俊惠,
申请(专利权)人:洛阳市洛凌轴承科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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