【技术实现步骤摘要】
—种旋扣式电子芯片检测治具
本技术涉及电子检测设备
,尤其是指一种旋扣式电子芯片检测治具。
技术介绍
90年代随着集成技术的进步、设备的改进和深亚微米技术的使用,LS1、VLS1、ULSI 相继出现,电子芯片集成度不断提高,对集成电路封装要求更加严格,I/O引脚数急剧增加, 功耗也随之增大。为满足发展的需要,在原有封装品种基础上,电子芯片又增添了新的品种--球栅阵列封装,简称BGA(Ball Grid Array Package。目前各种电子芯片广泛应运电子领域的各行业电脑、手机、电脑南北桥、Mp3、MP4、DVD、DVB、打印机、通讯终端、工控主板、 显卡、数码相机、机顶盒等。电子芯片通常在出厂质检、回收品检查、使用性能检测等情况选都需对电子芯片进行检测,通常情况下,检测治具包括设置检测电路的治具底板,治具底板上固定检测底座,治具底板上设置连接检测电路并与电子芯片匹配设置的检测探针;检测时,将电子芯片放置在检测底座,检测探针对应接触到相应电子芯片的检测点,一般情况下,电子芯片的上端简单的压块压住芯片或有时候将芯片焊接在检测底座上,让芯片贴紧检测探针 ...
【技术保护点】
一种旋扣式电子芯片检测治具,包括设置检测电路的治具底板(1),其特征在于:所述治具底板(1)上设置检测电子芯片的芯片容置腔(11),芯片容置腔(11)内设置连接检测电路并与电子芯片匹配设置的检测探针(2),芯片容置腔(11)上方设置旋扣压板(3),旋扣压板(3)、治具底板(1)间设置能将两者分拆或固定的旋扣装置(4),旋扣压板(3)上设置旋压装置(5),旋压装置(5)的底端连接压向电子芯片的芯片压块(6)。
【技术特征摘要】
1.一种旋扣式电子芯片检测治具,包括设置检测电路的治具底板(1),其特征在于所述治具底板(I)上设置检测电子芯片的芯片容置腔(11),芯片容置腔(11)内设置连接检测电路并与电子芯片匹配设置的检测探针(2),芯片容置腔(11)上方设置旋扣压板(3),旋扣压板(3)、治具底板(I)间设置能将两者分拆或固定的旋扣装置(4),旋扣压板(3)上设置旋压装置(5),旋压装置(5)的底端连接压向电子芯片的芯片压块(6)。2.根据权利要求1所述的一种旋扣式电子芯片检测治具,其特征在于所述旋扣装置(4)包括设置在治具底板(I)上围绕芯片容置腔(11)设置两件或两件以上的旋挂柱(7),旋挂柱(7)的顶端设置大头的挂扣(71),旋扣压板(3)上设置与旋挂柱(7)配合的旋扣孔(31),所述旋扣孔(31)包括大于挂扣(71)的贯通设置的穿入孔(311),并设置与穿入孔(311)相接、上端较挂扣(71)尺寸稍大下底端较旋挂柱(7)柱体(72)尺寸稍大...
【专利技术属性】
技术研发人员:周傲雪,姚彩虹,
申请(专利权)人:东莞光韵达光电科技有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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