微粒测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种微粒测量装置。该微粒测量装置包括：检测单元，被配置为检测从微粒发出的光，以及处理单元，具有存储指令的存储器件，所述指令在由所述处理单元执行时，使所述处理单元计算所检测的光的校正强度值并基于校正强度值生成光谱数据。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种对细胞等微粒的特性进行光学测量的微粒测量装置。
技术介绍
流式细胞仪是一种用光对在流动池(flow cell)中流动的细胞和小珠等微粒进行照射并检测从微粒发出的荧光或散射光，从而对各微粒的特性进行光学测量的装置。在检测细胞的荧光的情况下，例如，对用荧光染料标记的细胞利用具有合适波长和强度的激发光比如激光进行照射。然后，从荧光染料发出的荧光通过透镜等进行聚光，并利用波长选择元件比如滤波器和分色镜来选择合适波长带的光以便利用受光元件比如光电倍增管(PMT)对所选择的光进行检测。此时，通过将多个波长选择元件和受光元件组合在一起可以同时检测并分析来自标记在细胞上的多种荧光染料的荧光。此外，通过组合多个波长的激发光可以使能够被分析的荧光染料的数量增加。作为一种利用流式细胞仪检测荧光的方法，公开了一种测量连续波长带中的光束强度的作为荧光光谱的方法，以及利用波长选择元件比如滤波器来选择不连续波长带中的多个光束以便对各自波长带的光束的强度进行测量的方法。能够测量荧光光谱的光谱型流式细胞仪利用光谱元件比如棱镜和光栅对从微粒发出的荧光进行分光。然后，流式细胞仪利用排列有不同检测波长带的多个受光元件的受光元件阵列对所分光的荧光进行检测。一维排列有是PMT或光电二极管的受光元件的PMT阵列或光电二极管阵列、或者排列有是CCD或CMOS的多个独立检测通道(channel)比如二维受光元件的阵列被用作受光元件阵列。公开号为2003-83894的日本未审查的专利申请是相关技术的一个例子。
技术实现思路
流式细胞仪的测量值包括由各种因素引起的误差。作为测量误差的校正方法，通常使用例如采用预先识别了荧光特性的标准样品的方法。在这种方法中，基于通过测量多个标准样品而得的基准值获取关于各个受光元件的电流输出值等和荧光强度之间的关系，并且基于该关系进行校准以获得测量值。在上述校正方法中，在每次测量时必须用流式细胞仪测量标准样品以便获取对应于激光输出和受光元件的设定值(例如在PMT的情况下，电压等)的校准信息。因此，上述方法非常复杂。需要提供一种可以通过简单处理就能对测量误差进行校正的微粒测量装置。根据实施方式，提供了一种微粒测量装置，包括检测单元，被配置为检测从微粒发出的光，以及处理单元，具有存储指令的存储器件，所述指令在由所述处理单元执行时，使所述处理单元(a)计算所检测的光的校正强度值并(b)基于校正强度值生成光谱数据。通过对在多个受光元件中的各个受光元件中利用对应受光元件的检测波长宽度获得的强度值进行校正，可以补偿由所述装置的光学系统的非线性引起的测量误差。该微粒测量装置可以是光谱型微粒测量装置，其包括被配置为对从微粒发出的光进行分光的光谱元件、以及排列有不同检测波长带的多个受光元件的受光元件阵列，作为检测单元。尤其是，所述微粒测量装置可以是光谱型流式细胞仪。在该微粒测量装置中，优选所述处理单元利用各个受光元件的灵敏度数据对第一校正强度值进行校正以便对第二校正强度值进行计算。通过利用各个受光元件的相对灵敏度对第一校正值进行校正，可以补偿由受光元件之间的灵敏度差异引起的测量误差。进一步地，所述处理单元可以形成光谱图，该光谱图中的一个轴表示检测波长，另一个轴表不第一校正强度值或第二校正强度值，以将该光谱图输出给显不单兀。此外，优选所述处理单元利用检测波长作为一个参数、并利用第一校正强度值或第二校正强度值作为另一个参数来生成光谱数据，并将光谱数据与存储在存储单元中的基准光谱数据作比较，以便将这两个数据彼此是否一致的情况输出给显示单元。在本技术的实施方式中，“微粒”广泛包括细胞、微生物和脂质体等的生理相关微粒，乳胶粒子、凝胶粒子和工业粒子等的合成粒子等。生理相关微粒包括构成各种不同细胞的染色体、脂质体、线粒体、细胞器等。细胞包括动物细胞(血细胞等)和植物细胞。微生物包括大肠杆菌等的细菌、烟草花叶病毒等的病毒、酵母菌等的真菌等。生理相关微粒还可以包括生理相关高分子比如核酸、蛋白质及核酸和蛋白质的复合物。工业粒子可以是有机高分子材料、无机高分子材料、金属材料等等。有机高分子材料包括聚苯乙烯、苯乙烯-二乙烯基苯、聚甲基丙烯酸甲酯等等。无机高分子材料包括玻璃、硅石、磁性材料等等。金属材料包括金胶体、铝等等。这些微粒通常为球形，但也可以为非球形。另外，这些微粒的尺寸和质量等没有特别的限制。根据本技术的实施方式，提供了一种在每次样品分析时可以无需测量标准样品而校正测量误差并且能够获得精确的分析结果的微粒测量装置。附图说明图1为示出了根据本技术的一个实施方式的微粒测量装置的功能配置的框图；图2为示出了微粒测量装置的检测单元的配置的示意图；图3为示出了根据本技术的另一个实施方式的微粒测量装置的检测单元的配置的不意图；图4A为示出了在利用微粒测量装置校正处理之前基于强度值的输出数据的实例的图，图4B为示出了在利用微粒测量装置校正处理之后基于强度值的输出数据的实例的图；图5为示出了在实施方式中由试制的流式细胞仪确定PMT阵列的各个PMT的检测波长的结果的图；图6为示出了在实施方式中由试制的流式细胞仪确定PMT阵列的各个PMT的相对灵敏度的结果的图；图7A至图7D为示出了在实施方式中利用荧光分光光度计测量而得的荧光小珠的光谱图的图；图8A至图8C为示出了在实施方式中利用试制的流式细胞仪测量而得的荧光小珠FPK505的光谱图的图，其中图8A示出了校正处理之前的图，图8B示出了基于第一校正强度值的图，图8C示出了基于第二校正强度值的图9A至图9C为示出了在实施方式中利用试制的流式细胞仪测量而得的荧光小珠FPK505的光谱图的图，其中图9A示出了校正处理之前的图，图9B示出了基于第一校正强度值的图，图9C示出了基于第二校正强度值的图；图1OA至图1OC为示出了在实施方式中利用试制的流式细胞仪测量而得的荧光小珠FPK528的光谱图的图，其中图1OA示出了校正处理之前的图，图1OB示出了基于第一校正强度值的图，图1OC示出了基于第二校正强度值的图；图1lA至图1lC为示出了在实施方式中利用试制的流式细胞仪测量而得的荧光小珠FPK549的光谱图的图，其中图1lA示出了校正处理之前的图，图1lB示出了基于第一校正强度值的图，图1lC示出了基于第二校正强度值的图；图12A至图12C为示出了在实施方式中利用试制的流式细胞仪测量而得的荧光小珠FPK667的光谱图的图，其中图12A示出了校正处理之前的图，图12B示出了基于第一校正强度值的图，图12C示出了基于第二校正强度值的图。具体实施例方式下面将根据附图对本技术的优选实施方式进行说明。应注意的是，下述实施方式仅仅是本技术典型实施方式的实例且本技术的范围并不被限制解释为该实例。将按下列顺序进行描述。1、根据一个实施方式的微粒测量装置(I)装置的构成(2)荧光强度的校正处理(3)数据显示(4)数据分析2、根据另一个实施方式的微粒测量装置(I)装置的构成(2)荧光强度的校正处理(3)数据显示1、根据一个实施方式的微粒测量装置(I)装置的构成图1为示出了根据本技术的一个实施方式的微粒测量装置A的功能构成的框图。图2示意性地示出了微粒测量装置A的检测单元10的构成。微粒测量装置A包括通过用激光照射微粒来检测从微粒发出本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微粒测量装置，包括：检测单元，被配置为检测从微粒发出的光；处理单元，具有存储指令的存储器件，所述指令在由所述处理单元执行时，使所述处理单元：（a）计算所检测的光的校正强度值；并（b）基于所述校正强度值生成光谱数据。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：新田尚，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：