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本发明提供了一种微粒测量装置。该微粒测量装置包括：检测单元，被配置为检测从微粒发出的光，以及处理单元，具有存储指令的存储器件，所述指令在由所述处理单元执行时，使所述处理单元计算所检测的光的校正强度值并基于校正强度值生成光谱数据。...
该专利属于索尼公司所有，仅供学习研究参考，未经过索尼公司授权不得商用。

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