一种采用折叠光路的激光粒度仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种采用折叠光路的激光粒度仪，包括一用于发射激光的激光管，激光管的后端依激光光路前进的方向依次设置有聚焦透镜、针孔装置、傅里叶透镜、测量窗口以及光电探测器阵列，激光管和聚焦透镜之间的激光光路上设置有用于改变激光光路方向的光学组件。本实用新型专利技术粒度仪的整体体积减小，降低了对仪器结构件的精度要求，仪器的整体结构更加稳定可靠，测量更加准确；光学组件设置在针孔装置前端，光学组件上灰尘或表面变形所产生的对光束的不良影响都会被后面针孔装置修复，光束质量等特性会变好，因此仪器背景保持良好，对测量基本无影响。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及粒度测量技术，具体涉及一种采用折叠光路的激光粒度仪。
技术介绍
激光粒度仪是根据光的散射原理测量粉颗粒大小的一种设备，其能够用于测量各种固体粉末、乳液颗粒、雾滴的粒度分布。如图I所示，激光粒度仪一般包括激光管、聚焦透镜、针孔装置、傅里叶透镜、测量窗口、光电探测器阵列等，其中聚焦透镜用于聚集光束，针孔装置是用于过滤激光束空间高频分量的空间滤波器，傅里叶透镜使光束聚集后通过测量窗口，光电探测器阵列则用于检测穿过测量窗口后的光射信号并将此信号送到分析系统中进行分析，得到样品的粒度分布·结果。从图中可以看出，整个测量光路整体较长，基于这种光路结构所涉及的仪器体积较长较大。这种细长的仪器对结构件的制作和装配要求很高，一旦不能满足精度要求，整个光路便会产生弯曲，造成光路调节精度降低，进而造成测量背景升高，对测量造成影响。为了克服上述缺陷，使得粒度仪的结构更加紧凑，目前部分粒度仪采用了如图2或图3所示的折叠光路结构。这种折叠光路整体长度缩短很多，减小了仪器的体积，另外还可以降低了对仪器结构件的精度要求，仪器的整体结构更加稳定可靠，对测量有好处。但图2和图3中的折叠光路都存在一个较大的缺本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种采用折叠光路的激光粒度仪，包括一用于发射激光的激光管（1），激光管（1）的后端依激光光路前进的方向依次设置有聚焦透镜（2）、针孔装置（3）、傅里叶透镜（4）、测量窗口（5）以及光电探测器阵列（6），其特征在于激光管（1）和聚焦透镜（2）之间的激光光路上设置有用于改变激光光路方向的光学组件（7）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈进，蔡斌，张福根，
申请(专利权)人：珠海欧美克仪器有限公司，
类型：实用新型
国别省市：